一种电子元器件的带电老化测试装置制造方法及图纸

技术编号:31847486 阅读:15 留言:0更新日期:2022-01-12 13:28
本发明专利技术涉及一种电子元器件的带电老化测试装置,带电老化测试装置的箱体被保温壁分隔为测试仓和数据采集仓。保温壁包括左右设置的一对保温隔板,保温隔板的厚度小于50mm。保温隔板上均设置多个插槽,一对保温隔板上的多个插槽一一对应地相接形成多个第一通孔。电子元器件位于测试仓内,数据采集板通过第一通孔穿过保温隔板后,与电子元器件相连,且数据采集板的后部位于数据采集仓内。保温隔板与数据采集板之间过盈配合。该装置具有两个工作状态,当处于高温测试状态时,测试仓通入高温气体,温度为0~200℃。当处于低温测试状态时,测试仓通入低温气体,温度为

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件的带电老化测试装置


[0001]本专利技术涉及一种电子元器件的带电老化测试装置。

技术介绍

[0002]中国半导体、5G行业正在政府政策的大力支持、充足的人才储备、企业的大举投资推动下加速发展。政府早在2015年就将包括半导体在内的若干行业列入其“中国制造2025”计划中的关键行业并予以大力扶持。尤其是在5G通信技术已主导全球市场的环境下,应用于通信、半导体等行业的芯片、模块等电子元件显得尤为重要。因此,检测该电子元件的性能可靠性则为必不可少的步骤。
[0003]其中,性能测试需要检验产品在极高温或极低温的连续环境下因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。老化测试装置是常见的性能测试设备,待测产品放置于箱体内,经高、低温通电测试,采集上述待测产品在极限温度情况下的相应性能数据,最终筛选出待测产品中的不良品。
[0004]普通的高低温箱如要进行带电测试,需要将数据采集板和待测电子元器件全部放置于测试仓内进行测试,对数据采集板的冲击很大,不仅会影响测试结果,而且极易造成数据采集板的损坏,增加测试成本。而现有技术中常见的带电老化测试箱功能单一,仅能进行高温测试,如申请号为CN202021232990.9、CN201810494187.3、CN201911422880.0等专利所公开的设备,将连接有待测产品的载板设置于测试仓内,而数据采集板设置于测试仓外,通过将载板和数据采集板分体化(做成两块板),使得数据采集板、待测电子元器件二者处于不同温度环境,那么高温测试则可正常进行。这虽然解决了高低温环境对数据采集板的冲击问题,但也仅能在高温的环境下对电子元器件进行带电老化测试。
[0005]若进行低温带电测试,箱体内测试仓的温度极低,造成隔板表面温度降低,因此隔板的一侧表面易因常温气体液化而出现冷凝水、结霜等问题,最终损坏数据采集板,因此无法进行低温带电测试。
[0006]进一步地,受测试要求限制,部分电子元器件和数据采集板之间需直接对接相连,数据采集板必须一体化,无法做成如上述分体化的两块板,即载板(设置于测试仓内,用于连接待测产品)和数据采集板(设置于测试仓外)。进一步地,受到数据采集板的尺寸限制,测试仓的隔板厚度也受到限制,无法通过增加隔板厚度来增加保温隔热效果。针对此类电子元器件的测试要求,亟需一种能够集高低温带电测试于一体的带电老化测试装置。

技术实现思路

[0007]为了解决以上技术问题,本专利技术的目的在于提供一种带电老化测试装置。
[0008]为达到上述目的,本专利技术提供如下技术方案:本申请提供一种电子产品的带电老化测试装置,该带电老化测试装置包括箱体、位于箱体内并且前后设置的测试仓和数据采集仓,测试仓和数据采集仓之间通过保温壁分隔。其中,测试仓用于供电子元器件在其内进行测试。
[0009]该带电老化测试装置还包括多个数据采集板,该数据采集板的前部设置有多个用于与电子元器件连接的接口,且该数据采集板的后部集成设置有数据采集电路。
[0010]保温壁包括左右对称设置的一对保温隔板,保温隔板的厚度小于50mm,该厚度远小于现有技术中高温带电老化测试装置中的保温隔板厚度,以本满足老化测试装置中一体化的数据采集板上的线路布局要求。一对保温隔板分别自箱体的左右两侧插入箱体内并且相对接。一对保温隔板上均设开设自上而下设置的多个插槽,且一对保温隔板上的多个插槽一一对应地与数据采集板的左右两侧部相插接。进一步地,一对保温隔板上的多个插槽一一对应地相接形成多个第一通孔,且上述数据采集板的中部容纳于该第一通孔内,数据采集板的前部位于测试仓内,数据采集板的后部位于数据采集仓内,这样,避免了数据采集板上的数据采集电路受到高低温测试冲击,大大延长了数据采集板的使用寿命。进一步地,第一通孔与数据采集板之间过盈配合,以使得上述数据采集板与保温隔板之间紧密贴合,降低测试仓内的气体流失。
[0011]测试仓的仓壁上设置有用于与热流仪出气端相连的第一进气口、一端与第一进气口相连通且另一端与测试仓相连通的多个送风通道,从而使得测试仓内升温/降温效率加快,且仓内各区域温度均匀分布。该带电老化测试装置具有高温测试状态和低温测试状态,当带电老化测试装置处于高温测试状态时,第一进气口的进气为高温气体,高温气体的温度为0℃~200℃;当带电老化测试装置处于低温测试状态时,第一进气口的进气为低温气体,低温气体的温度为

80℃~0℃。
[0012]数据采集仓的仓壁上设置有用于供干燥气体进入的第二进气口。当带电老化测试装置处于低温测试状态时,第二进气口开启,使得干燥气体进入,对数据采集仓吹扫,从而使得数据采集仓干燥,不生成冷凝水,并且保证保温隔板的表面无霜。
[0013]优选地,数据采集仓的左右两侧的仓壁上均设置有第二进气口,第二进气口吹出的干燥空气直接对保温隔板进行吹扫,第二进气口距离保温隔板在前后方向上的距离为3

50mm,且该第二进气口的气体流出方向与保温隔板后侧面所形成夹角范围为0
°‑
30
°
,进而更加有效地防止保温隔板的后侧表面凝水、结霜。
[0014]优选地,保温隔板的朝向数据采集仓的一侧面设置加热组件,当老化测试装置处于低温测试状态时,加热组件启动,以降低保温隔板后侧表面与环境之间的温度差,从而更加有效地防止保温隔板的后侧表面凝水、结霜。
[0015]优选地,保温隔板包括:保温板、设置于保温板前后两侧的弹性垫片、分别设置于前后两侧的弹性垫片的外侧的金属板。保温板开设有自上而下设置的多个第一槽,弹性垫片开设有自上而下设置的多个第二槽,金属板开设有自上而下设置的多个第三槽,第一槽与位置相对应的第二槽形成上述的插槽。且,第三槽的上下方向上的尺寸大于第一槽和第二槽。因此,在一对保温隔板相对接时,一对保温隔板的保温板和弹性垫片相对接并抵紧,且一对保温隔板的金属板之间有空隙。以上三个槽的设置使得数据采集板与保温隔板之间紧密贴合,无缝隙生成,从而保证数据采集板与保温隔板之间无气体泄露。同时,金属板与弹性垫片的空隙设置使得相邻保温隔板对接时,测试仓内的气体不会沿着保温隔板相连处泄露,进一步避免了冷凝水的生成,且保证了保温隔板表面无霜。
[0016]优选地,每个保温隔板与箱体相连的部分均设置有密封件,以降低保温隔板与箱体之间气体流失。
[0017]优选地,保温隔板与箱体之间通过紧扣装置相连,当紧扣装置将保温隔板紧锁于箱体上时,弹性垫片受到两侧挤压,从而使得相邻两块保温隔板之间紧密连接,无气体泄露。
[0018]优选地,多个送风通道依次自上而下地均匀地设置于测试仓的至少一面仓壁上,以使得测试仓内各行电子元器件的温度同步上升或下降,加快老化测试的检测效率,并使检测结果更准确。
[0019]优选地,带电老化测试装置的外侧壁上设置有多个便于搬运该带电老化测试装置的把手。
[0020]优选地,数据采集仓内设置风扇,当该带电老化测试装置处于低温测试状态时,风扇开启,对数据采集仓内进行吹扫本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的带电老化测试装置,所述带电老化测试装置包括箱体(500)、位于所述箱体(500)内并且前后设置的测试仓(200)和数据采集仓(300),所述测试仓(200)和数据采集仓(300)之间通过保温壁分隔,所述测试仓(200)供所述电子元器件(410)在其内进行测试;其特征在于,所述带电老化测试装置还包括多个数据采集板(420),所述数据采集板(420)的前部具有用于连接所述电子元器件(410)的接口(421),所述数据采集板(420)的后部集成有数据采集电路;所述保温壁包括左右对称设置的一对保温隔板(100),所述一对保温隔板(100)的厚度均小于50mm,所述一对保温隔板(100)分别自所述箱体(500)的左右两侧插入箱体(500)内并且相对接;所述一对保温隔板(100)上均自上而下地开设有多个插槽(140),所述一对保温隔板(100)上的多个插槽(140)一一对应地分别与各所述数据采集板(420)的左右两侧部相插接,所述一对保温隔板(100)上相对应的插槽(140)相接形成将所述数据采集板(420)的中部容纳其中的第一通孔,所述数据采集板(420)的前部位于测试仓(200)内,所述数据采集板(420)的后部位于数据采集仓(300)内,其中,所述第一通孔与所述数据采集板(420)之间过盈配合;所述测试仓(200)的仓壁上设置有用于与热流仪出气端相连的第一进气口(210)、一端与所述第一进气口(210)相连通且另一端与所述测试仓(200)相连通的多个送风通道(220);所述数据采集仓(300)的仓壁上设置有用于供干燥气体进入的第二进气口(310);所述带电老化测试装置具有高温测试状态和低温测试状态,当所述带电老化测试装置处于高温测试状态时,所述第一进气口(210)的进气为高温气体,所述高温气体的温度为0℃~200℃;当所述带电老化测试装置处于低温测试状态时,所述第一进气口(210)的进气为低温气体,所述低温气体的温度为

80℃~0℃,且所述第二进气口(310)开启。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的带电老化测试装置,其特征在于,所述数据采集仓(300)的左右两侧的仓壁上均设置有所述第二进气口(310),所述第二进气口(310)与所述保温隔板(100)在前后方向的距离为3mm~50mm,且所述第二进气口(310)的出气方向与所述保温隔板(100)...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘冬喜陈宽勇
申请(专利权)人:海拓仪器江苏有限公司
类型:发明
国别省市:

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