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本发明涉及一种电子元器件的带电老化测试装置，带电老化测试装置的箱体被保温壁分隔为测试仓和数据采集仓。保温壁包括左右设置的一对保温隔板，保温隔板的厚度小于50mm。保温隔板上均设置多个插槽，一对保温隔板上的多个插槽一一对应地相接形成多个第一通...
该专利属于海拓仪器（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海拓仪器（江苏）有限公司授权不得商用。

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