【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种稳定地获得关于作为检测对象的信号光所接收的光输出的技术,即使在充足的环境光如来自太阳和室内照明光的自然光的情况下,也能稳定地获得。
技术介绍
过去,各种光电检测器如光电二极管、光电晶体管和CCD图像传感器是众所周知的,并且广泛用在以下应用中光电传感器,用于根据接收的光量变化来检测对象是否存在;光通信,其使用光作为传输介质;距离传感器,用于通过使用三角测量原理或者投射和接收的光之间的时间差或相位差,光学地测量距离;以及用于视频和数字照相机的图像拾取装置。在这种光电检测器中,当所接收的光量处在适当的范围内时,能够获得具有对应于接收光量的量值的接收光输出。然而,当所接收的光量变得过度时,存在接收光输出饱和的问题。例如,在存在环境光如阳光的条件下,当使用光电检测器时,所述光电传感器用于检测打扰者;光通信装置,如光遥控单元;距离传感器,用于自动聚焦的照相机和机器人的眼睛;以及图像拾取装置,其与发光源结合使用以获得距离图像,除了从发光源照射的光之外,环境光被入射在光电检测器上,所以与仅接收从发光源照射的光的情况相比,接收的光量增加。然而,关于光电检测器能够生成的载流子的量存在限制。因此,当接收的光量过度增加时,载流子的生成量将会饱和。所以,光电检测器的动态范围取决于环境光的光量而减少。这导致下述不便不能稳定地获得信号光的接收光输出。这个问题在CCD图像传感器的领域中也被称为“浮散(blooming)效应”。为了改善上述问题,例如,日本专利早期公布号62-272773提议,将大的正电压施加到通过绝缘层在p型硅基底上形成的电极,以将势阱置于反状态,从 ...
【技术保护点】
一种光电检测器,包括:光电转换部分,其被配置成通过光的照射来生成电子和空穴;至少一个电极,其通过绝缘层被布置在所述光电转换部分上;第一聚积区,其为通过向所述电极施加电压而在所述光电转换部分中形成的势阱,以便聚积通过光 的照射而在所述光电转换部分中生成的电子和空穴中的一种;第二聚积区,其被形成在所述光电转换部分中,以便聚积通过光的照射而在所述光电转换部分中生成的电子和空穴中的另一种;控制单元,其被配置成控制将所述电压施加到所述电极的时序和所 述电压的极性中的至少一个;以及输出单元,其被配置成在通过在所述第一和第二聚积区之间传送所述电子和空穴来重新结合所述第一和第二聚积区中聚积的所述电子和空穴后,输出未被重新结合的余留电子和空穴中的至少一种。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2005-1-5 001003/2005;JP 2005-1-6 001950/20051.一种光电检测器,包括光电转换部分,其被配置成通过光的照射来生成电子和空穴;至少一个电极,其通过绝缘层被布置在所述光电转换部分上;第一聚积区,其为通过向所述电极施加电压而在所述光电转换部分中形成的势阱,以便聚积通过光的照射而在所述光电转换部分中生成的电子和空穴中的一种;第二聚积区,其被形成在所述光电转换部分中,以便聚积通过光的照射而在所述光电转换部分中生成的电子和空穴中的另一种;控制单元,其被配置成控制将所述电压施加到所述电极的时序和所述电压的极性中的至少一个;以及输出单元,其被配置成在通过在所述第一和第二聚积区之间传送所述电子和空穴来重新结合所述第一和第二聚积区中聚积的所述电子和空穴后,输出未被重新结合的余留电子和空穴中的至少一种。2.如权利要求1所述的光电检测器,其中,所述至少一个电极为一对第一和第二电极,其通过所述绝缘层布置在所述光电转换部分上,并且所述控制单元将电压施加到所述第一电极以形成所述第一聚积区,并且将电压施加到所述第二电极以形成势阱作为所述第二聚积区。3.如权利要求2所述的光电检测器,其中,所述控制单元控制将所述电压施加到所述第一和第二电极的时序以及所述电压的极性,以便通过光照射而在所述光电转换部分中生成的所述电子和空穴中的一种被聚积在所述第一聚积区中,而通过光照射在所述光电转换部分中在不同时间生成的所述电子和空穴中的另一种被聚积在所述第二聚积区中。4.如权利要求2所述的光电检测器,其中,所述控制单元将具有相反极性的电压施加到所述第一和第二电极,以便通过光的照射而在所述光电转换部分中生成的所述电子和空穴中的一种被聚积在所述第一聚积区中,而同时所述电子和空穴中的另一种被聚积在所述第二聚积区中。5.如权利要求2所述的光电检测器,其中,所述控制单元在将所述电压施加到所述第一和第二电极以便电子被聚积在所述第一聚积区中并且空穴被聚积在所述第二聚积区中的状态和将所述电压施加到所述第一和第二电极以便空穴被聚积在所述第一聚积区中并且电子被聚积在所述第二聚积区中的状态之间切换,从而所述电子和空穴在所述第一聚积区和所述第二聚积区之间被重新结合。6.如权利要求2所述的光电检测器,包括在所述第二电极上的光屏蔽膜,其中,所述控制单元控制将所述电压施加到所述第一和第二电极的时序以及所述电压的极性,以便电子和空穴中的一种被聚积在所述第一聚积区之后,它们被传送并被保持在所述第二聚积区中,并且电子和空穴中的另一种被聚积在所述第一聚积区中。7.如权利要求2所述的光电检测器,包括透镜,用于允许入射光会聚在所述第一电极上。8.如权利要求2所述的光电检测器,其中,所述第一电极通过一对第一电极提供,所述第二电极通过一对第二电极提供,并且将所述第一电极放置在所述第二电极之间。9.如权利要求8所述的光电检测器,其中,所述第一电极之间的距离大于所述第一电极中的一个和与其相邻的所述第二电极之间的距离。10.如权利要求2所述的光电检测器,其中,所述第一电极通过一对第一电极来提供,所述第二电极通过一对第二电极来提供,在所述第一电极之间和所述第二电极之间通过所述绝缘层在所述光电转换部分上形成传送电极,并且所述控制单元控制向所述第一电极、所述第二电极和所述传送电极施加的电压,以便余留的电子和空穴中的至少一种被传送到所述输出单元。11.如权利要求8所述的光电检测器,包括电荷丢弃电极,其被形成在所述光电转换部分的表面上,以便在与所述第一和第二电极的每个纵向方向正交的方向上并离开所述第一和第二电极中的每一个延伸基本相等的距离,其中,所述控制单元控制向所述电荷丢弃电极施加的电压,以从所述光电转换部分丢弃电子和空穴。12.如权利要求2所述的光电检测器,其中,所述第一电极通过一对第一电极来提供,所述第二电极通过一对第二电极来提供,至少一个控制电极在所述第一电极之间和/或在所述第二电极之间通过所述绝缘层被形成在所述光电转换部分上,并且所述控制单元向所述控制电极施加电压以形成势阱的疏散区,以便电子和空穴经由该疏散区在所述第一聚积区和所述第二聚积区之间传送。13.如权利要求12所述的光电检测器,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:桥本裕介,高田裕司,
申请(专利权)人:松下电工株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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