本实用新型专利技术涉及砂轮平面度检测技术领域，具体涉及一种用于砂轮平面度检测的测量装置，包括测量机构和测量台，所述测量机构固定在所述测量台上，其特征在于：所述测量台上设有柱形凸起，所述柱形凸起的截面与砂轮的中心圆孔截面形状相适配，所述砂轮可通过所述中心圆孔套装于所述柱形凸起，当所述砂轮套装于所述柱形凸起时，所述柱形凸起外周与所述中心圆孔相抵构成对所述砂轮的限位配合。本实用新型专利技术具有以下优点和效果：能够防止工人在手动转动砂轮的过程中导致砂轮出现误动使得转动中心产生偏差。偏差。偏差。
【技术实现步骤摘要】
用于砂轮平面度检测的测量装置
[0001]本技术涉及砂轮平面度检测
，具体涉及一种用于砂轮平面度检测的测量装置。
技术介绍
[0002]薄片砂轮作为工业生产常用的工具之一，在对金属和非金属材料进行切割、修磨方面发挥着重要的作用，随着微电子技术和微加工技术的快速发展，精密切割用超硬材料薄片砂轮的厚度也变得越来越薄，薄片砂轮厚度越薄，越易变形，性能越差，薄片砂轮平面度的好坏是影响其加工精度和加工质量的关键指标当薄片砂轮的平面度较差时，不仅会直接影响开槽和切割等的精度，甚至还会造成砂轮破裂，引起安全事故，因此，对薄片砂轮平面度的检测就显得尤为重要了。
[0003]目前在对砂轮进行平面度检测时，为了提高检测精度，一般采用激光测量装置进行检测，在检测时先将砂轮放置在检测台上，随后利用激光测量装置在被检测的物体表面扫描采样，然后利用现有技术对采样点数据进行数据处理，进而判断被测物体的平面度，由于在检测时需要工人手动转动砂轮来确保激光测量装置能够对砂轮进行全面检测，但是在转动的过程中，砂轮容易产生误动并使其转动中心产生偏差，从而影响激光测量装置对砂轮平面度进行检测。
技术实现思路
[0004]针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种用于砂轮平面度检测的测量装置，能够防止工人在手动转动砂轮的过程中导致砂轮出现误动使得转动中心产生偏差。
[0005]为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种用于砂轮平面度检测的测量装置，包括测量机构和测量台，所述测量机构固定在所述测量台上，其特征在于：所述测量台上设有柱形凸起，所述柱形凸起的截面与砂轮的中心圆孔截面形状相适配，所述砂轮可通过所述中心圆孔套装于所述柱形凸起，当所述砂轮套装于所述柱形凸起时，所述柱形凸起外周与所述中心圆孔相抵构成对所述砂轮的限位配合。
[0006]本技术进一步设置为：所述柱形凸起为多个并环绕所述测量台外围等距设置。
[0007]本技术进一步设置为：所述柱形凸起沿远离所述测量台的方向直径依次减小，所述测量台内设有安装腔，所述测量台上设有开口，所述开口与所述安装腔联通，所述安装腔内设有调节机构，所述调节机构通过所述开口可从所述安装腔内伸出，所述调节机构用于对柱形凸起进行高度调节。
[0008]本技术进一步设置为：所述调节机构包括丝杠和滑块，所述丝杠一端转动连接于所述安装腔底部，所述丝杠套装在所述丝杠上并与所述丝杠构成螺纹配合，所述柱形凸起设有贯穿所述柱形凸起的通孔，所述柱形凸起固定在所述滑块上，所述丝杠可通过所
述通孔穿出所述柱形凸起。
[0009]本技术进一步设置为：还包括转动手柄，所述丝杠朝向所述安装腔底部的一端作为连接端，所述连接端向下延伸并延伸至所述安装腔外，所述转动手柄与所述连接端固定连接。
[0010]本技术进一步设置为：所述测量台上设有花纹，所述花纹用于增加所述砂轮表面与测量台表面接触时产生的摩擦力。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0012]由于在测量台上设置了柱形凸起，且该柱形凸起的截面与砂轮的中心圆孔截面形状相适配，当砂轮需要放置在测量台上对平面度进行检测时，砂轮可通过其中心圆孔套装在柱形凸起上并且砂轮的表面能够抵接在测量台表面上，此时柱形凸起外周能够与砂轮的中心圆孔相抵构成对砂轮的限位配合，起到定位作用，确保工人在手动转动砂轮时能始终以柱形凸起为转动中心，并能防止砂轮误动，所以，有效的解决了工人在转动砂轮的过程中，砂轮容易产生误动并使其转动中心产生偏差，从而影响对砂轮平面度进行检测的技术问题。
附图说明
[0013]图1为实施例一的整体结构示意图；
[0014]图2为实施例二的主视结构示意图；
[0015]图3为实施例二在测量中心圆孔规格较大砂轮时的内部结构示意图；
[0016]图4为实施例二在测量中心圆孔规格较小砂轮时的内部结构示意图；
[0017]图5为实施例二中的柱形凸起内部结构示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0020]实施例一
[0021]如图1所示，本实施例公开了一种用于砂轮100平面度检测的测量装置，包括测量机构1和测量台2，测量机构1固定在测量台2上，测量台2上设有柱形凸起3，柱形凸起3的截面与砂轮100的中心圆孔截面形状相适配，砂轮100可通过中心圆孔套装于柱形凸起3，当砂轮100套装于柱形凸起3时，柱形凸起3外周与中心圆孔相抵构成对砂轮100的限位配合，当砂轮100需要放置在测量台2上对平面度进行检测时，砂轮100可通过其中心圆孔套装在柱形凸起3上并且砂轮100的表面能够抵接在测量台2表面上，此时柱形凸起3外周能够与砂轮100的中心圆孔相抵构成对砂轮100的限位配合，起到定位作用，确保工人在手动转动砂轮
100时能始终以柱形凸起3为转动中心，并能防止砂轮100误动。
[0022]柱形凸起3为多个并环绕测量台2外围等距设置，通过设置多个柱形凸起3，使得能由多个工人分别将多个砂轮100分别套装在对应的柱形凸起3上，由柱形凸起3对其进行限位，从而降低了工人的劳动强度提高了检测效率。
[0023]测量台2上设有花纹8，花纹8用于增加砂轮100表面与测量台2表面接触时产生的摩擦力，当砂轮100套装在柱形凸起3后需要由工人将砂轮100以柱形凸起3为圆心进行转动时，由于花纹8增加了砂轮100表面与测量台2表面接触时产生的摩擦力，能够对砂轮100的转动起到阻碍作用，从而确保砂轮100能缓慢的进行转动，进而确保检测机构能充分的对砂轮100的平面度进行检测，提高了测量精度。
[0024]实施例二
[0025]如图2至图5所示，本实施例的区别在于，柱形凸起3沿远离测量台2的方向直径依次减小，测量台2内设有安装腔4，测量台2上设有开口5，开口5与安装腔4联通，安装腔4内设有调节机构6，调节机构6通过开口5可从安装腔4内伸出，调节机构6用于对柱形凸起3进行高度调节，由于不同直径的砂轮100其中心圆孔规格互不相同，通过将柱形凸起3沿远离测量台2的方向直径依次减小，使得柱形凸起3能够与不同中心圆孔规格的砂轮100相适配，通过调节机构6能够对柱形凸起3进行高度的调整，使得柱本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于砂轮平面度检测的测量装置，包括测量机构和测量台，所述测量机构固定在所述测量台上，其特征在于：所述测量台上设有柱形凸起，所述柱形凸起的截面与砂轮的中心圆孔截面形状相适配，所述砂轮可通过所述中心圆孔套装于所述柱形凸起，当所述砂轮套装于所述柱形凸起时，所述柱形凸起外周与所述中心圆孔相抵构成对所述砂轮的限位配合。2.根据权利要求1所述的一种用于砂轮平面度检测的测量装置，其特征在于：所述柱形凸起为多个并环绕所述测量台外围等距设置。3.根据权利要求1所述的一种用于砂轮平面度检测的测量装置，其特征在于：所述柱形凸起沿远离所述测量台的方向直径依次减小，所述测量台内设有安装腔，所述测量台上设有开口，所述开口与所述安装腔联通，所述安装腔内设有调节机构，所述调节机构通过所述开口可从所述安装腔内伸出，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶乾乾，
申请(专利权)人：卡帕亚洲科技嘉善有限公司，
类型：新型
国别省市：
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