一种芯片自动测试系统及芯片测试方法技术方案

本发明专利技术涉及芯片生产技术领域，具体公开了一种芯片自动测试系统及芯片测试方法，该芯片自动测试系统包括喂料单元、传输单元、至少一个测试单元以及装料单元；喂料单元用于储存第一容器，且可将第一容器中盛放的芯片转移至传输单元，传输单元将芯片传输至测试单元，测试单元对芯片进行测试作业；装料单元将完成测试作业的芯片装入第二容器。上述设置实现了芯片的全自动化生产，并且通过设置多个测试单元，能够实现单个测试单元进行生产或者多个测试单元同时生产，极大地提高了生产效率，满足了打印耗材芯片的生产需求。打印耗材芯片的生产需求。打印耗材芯片的生产需求。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动测试系统及芯片测试方法


[0001]本专利技术涉及芯片生产加工
，尤其涉及一种芯片自动测试系统及芯片测试方法。

技术介绍

[0002]目前的打印机大多使用可拆卸的打印耗材，打印耗材上设置有打印耗材芯片，常见的打印耗材芯片有墨盒芯片、碳粉盒芯片以及硒鼓芯片。在打印耗材装载于打印机的过程中，打印耗材芯片用于与打印机进行通讯，完成打印耗材与打印机的装配。
[0003]由于打印耗材芯片的需求量大，需要大批量生产，目前的生产设备，自动化程度低，且生产效率低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种芯片自动测试系统及芯片测试方法，以改善现有技术中打印耗材芯片生产自动化程度低，且生产效率低的问题。
[0005]为达上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0006]一方面，本专利技术提供一种芯片自动测试系统，该芯片自动测试系统包括支架和设于所述支架的喂料单元、传输单元、至少一个测试单元以及装料单元；
[0007]所述喂料单元用于储存第一容器，且可将所述第一容器中盛放的芯片转移至所述传输单元；所述传输单元将芯片传输至所述测试单元，所述测试单元对芯片进行测试作业；所述装料单元将完成测试作业的芯片装入第二容器。
[0008]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述喂料单元包括储存器、运输器和喂料器；所述储存器用于储存第一容器，所述运输器用于将所述储存器中的所述第一容器取出并转移至喂料位置，所述喂料器将位于所述喂料位置的所述第一容器中盛放的芯片转移至所述传输单元。
[0009]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述储存器包括两个相对设于所述支架的第一储存架和第二储存架，所述第一储存架和所述第二储存架的相对面分别设有沿第一方向延伸的第一储存槽和第二储存槽，所述第一储存架和所述第二储存架的底端均设有出料口，所述第一容器的两端分别位于所述第一储存槽和所述第二储存槽内，且能从所述出料口沿第二方向滑出，所述第二方向垂直于所述第一方向。
[0010]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述运输器包括移动板，所述移动板设有第一放置部，所述移动板沿所述第二方向滑动设于所述支架，所述移动板具有靠近所述储存器的取料位置和靠近所述喂料器的喂料位置；所述储存器还包括卸料件，所述卸料件沿所述第一方向滑动设于所述支架，所述卸料件具有将所述第一容器托至所述出料口上方的顶托位置和将所述第一容器放落至所述出料口处的放料位置；所述卸料件位于所述顶托位置时，所述移动板能运动至所述取料位置，所述卸料件位于所述放料位置时，所述第一容器位于所述第一放置部并被所述移动板转移至所述喂料位置。
[0011]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述喂料单元还包括设于所述支架的收集区，所述移动板还包括第二放置部，所述移动板还具有靠近所述收集区的弃料位置，所述移动板位于所述取料位置时，所述喂料位置的所述第一容器能放置于所述第二放置部，所述移动板运动至所述弃料位置时，所述第一容器能被放置于所述收集区。
[0012]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述喂料器包括：
[0013]喂料架，转动设于所述支架上的支撑板，具有接收所述第一容器的接料位置和将所述第一容器倾斜的下料位置，所述喂料架设有承载部；
[0014]压块，滑动设于所述喂料架，具有靠近所述承载部以将所述第一容器压紧于所述承载部的压紧位置和远离所述承载部以释放所述第一容器的放开位置。
[0015]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述支架包括支撑板，所述传输单元包括主料道组件和位于所述主料道组件下游的分料道组件；
[0016]所述主料道组件设于所述支撑板，所述主料道组件中能同时容纳多个芯片，且能将芯片逐个放行至所述分料道组件；所述分料道组件用于将芯片择一分配至多个所述测试单元。
[0017]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，多个所述测试单元沿第二方向间隔设于所述支撑板，所述分料道组件能于所述支撑板沿所述第二方向移动；所述分料道组件能将芯片择一分配至多个所述测试单元。
[0018]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述测试单元包括写读承载板、写读盖板、写读码组件和第一写读止挡件；所述写读承载板设于所述支架的支撑板，所述写读盖板盖设于所述写读承载板，所述写读承载板和所述写读盖板之间形成有测试通道，所述第一写读止挡件用于阻挡待写读码的芯片，所述写读码组件用于对所述测试通道内的芯片进行数据写入、读取、校验；及/或
[0019]所述测试单元还包括性能检测组件，所述性能检测组件用于对所述测试通道内的芯片进行性能检测；及/或
[0020]所述测试单元还包括打标组件，所述打标组件用于对所述测试通道内的芯片进行打标作业；及/或
[0021]所述测试单元还包括性能数据改写组件，所述数据改写组件用于对需要升级的芯片进行数据刷写。
[0022]作为一种芯片自动测试系统的优选方案，所述装料单元包括装料组件和装有多个所述第二容器的固定架，所述装料组件和所述固定架均设于所述支撑板，多个所述第二容器并列设于所述固定架，所述写读码组件及/或所述性能检测组件及/或所述打标组件及/或所述数据改写组件分别与所述装料组件通信连接及/或电性连接，所述装料组件能够根据所述性能检测组件的检测结果，及/或所述写读码组件的校验结果，及/或所述打标组件的作业结果，及/或所述数据改写组件的测试结果，将芯片分别放入不同的所述第二容器中。
[0023]另一方面，本专利技术提供一种芯片测试方法，适用于上述任一项所述的芯片自动测试系统，包括以下步骤：
[0024]S01、喂料单元将第一容器转移至喂料位置，并将芯片送入传输单元；
[0025]S02、芯片被传输单元传递至一个或多个测试单元，测试单元对芯片进行性能检测
及/或数据写入及/或数据校验及/或数据改写及/或打标作业；且每个测试单元的测试通道内能储备至少一个芯片；
[0026]S03、对芯片进行检测，装料单元将测试成功或测试失败的芯片装入不同的第二容器。
[0027]作为一种芯片测试方法的优选方案，所述测试单元包括写读码组件，所述写读码组件能够对芯片进行写入、读取、校验；及/或
[0028]所述测试单元包括性能检测组件，所述性能检测组件能够对芯片进行性能检测；及/或
[0029]所述测试单元包括打标组件，所述打标组件能够对芯片进行打标作业；及/或
[0030]所述测试单元包括数据改写组件，所述数据改写组件能够对需要升级的芯片进行数据刷写；
[0031]所述装料单元包括装料组件，所述写读码组件及/或所述性能检测组件及/或所述打标组件及/或所述数据改写组件分别与所述装料组件通信连接及/或电性连接，所述装料组件能够根据所述性能检测组件的检测结果，及/或所述写读码组件的校验结果，及/或所述打标组件的作业结果，及/或所述数据改写组件的测试结果，将芯片分别放入不同的所述第二容器中。
[0032]本专利技术的有益效果为：...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片自动测试系统，其特征在于，包括支架(400)和设于所述支架(400)的喂料单元(6)、传输单元(7)、至少一个测试单元(8)以及装料单元(9)；所述喂料单元(6)用于储存第一容器(100)，且可将所述第一容器(100)中盛放的芯片(300)转移至所述传输单元(7)；所述传输单元(7)将芯片(300)传输至所述测试单元(8)，所述测试单元(8)对芯片(300)进行测试作业；所述装料单元(9)将完成测试作业的芯片(300)装入第二容器(200)。2.根据权利要求1所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述喂料单元(6)包括储存器(61)、运输器(62)和喂料器(63)；所述储存器(61)用于储存第一容器(100)，所述运输器(62)用于将所述储存器(61)中的所述第一容器(100)取出并转移至喂料位置，所述喂料器(63)将位于所述喂料位置的所述第一容器(100)中盛放的芯片(300)转移至所述传输单元(7)。3.根据权利要求2所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述储存器(61)包括两个相对设于所述支架(400)的第一储存架(611)和第二储存架(612)，所述第一储存架(611)和所述第二储存架(612)的相对面分别设有沿第一方向延伸的第一储存槽(6111)和第二储存槽(6121)，所述第一储存架(611)和所述第二储存架(612)的底端均设有出料口(6112)，所述第一容器(100)的两端分别位于所述第一储存槽(6111)和所述第二储存槽(6121)内，且能从所述出料口(6112)沿第二方向滑出，所述第二方向垂直于所述第一方向。4.根据权利要求3所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述运输器(62)包括移动板(621)，所述移动板(621)设有第一放置部(6211)，所述移动板(621)沿所述第二方向滑动设于所述支架(400)，所述移动板(621)具有靠近所述储存器(61)的取料位置和靠近所述喂料器(63)的喂料位置；所述储存器(61)还包括卸料件(615)，所述卸料件(615)沿所述第一方向滑动设于所述支架(400)，所述卸料件(615)具有将所述第一容器(100)托至所述出料口(6112)上方的顶托位置和将所述第一容器(100)放落至所述出料口(6112)处的放料位置；所述卸料件(615)位于所述顶托位置时，所述移动板(621)能运动至所述取料位置，所述卸料件(615)位于所述放料位置时，所述第一容器(100)位于所述第一放置部(6211)并被所述移动板(621)转移至所述喂料位置。5.根据权利要求4所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述喂料单元(6)还包括设于所述支架(400)的收集区(64)，所述移动板(621)还包括第二放置部(6212)，所述移动板(621)还具有靠近所述收集区(64)的弃料位置，所述移动板(621)位于所述取料位置时，所述喂料位置的所述第一容器(100)能放置于所述第二放置部(6212)，所述移动板(621)运动至所述弃料位置时，所述第一容器(100)能被放置于所述收集区(64)。6.根据权利要求2所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述喂料器(63)包括：喂料架(631)，转动设于所述支架(400)上的支撑板(401)，具有接收所述第一容器(100)的接料位置和将所述第一容器(100)倾斜的下料位置，所述喂料架(631)设有承载部(6311)；压块(633)，滑动设于所述喂料架(631)，具有靠近所述承载部(6311)以将所述第一容器(100)压紧于所述承载部(6311)的压紧位置和远离所述承载部(6311)以释放所述第一容器(100)的放开位置。7.根据权利要求1所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述支架(400)包括支撑板
(401)，所述传输单元(7)包括主料道组件(71)和位于所述主料道组件(71)下游的分料道组件(72)；所述主料道组件(71)设于所述支撑板(401)，所述主料道组...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：杭州旗捷科技有限公司，
类型：发明
国别省市：