【技术实现步骤摘要】
本申请涉及打印设备，特别是涉及一种芯片短路校验方法、装置、芯片检测方法、芯片和耗材盒。
技术介绍
1、常见的打印设备会安装有可拆卸的耗材盒，以在墨水用尽后方便更换新耗材盒。墨盒、硒鼓、墨袋盒等均属于常见的耗材盒，通常均配备有芯片，芯片中可存储各种信息，并可与打印设备通信。
2、芯片上通常设有电源端子(vdd)、数据端子(data)、时钟端子(clk)、复位端子(rst/ce)和接地端子(gnd)等，由于耗材盒中的墨水可能滴漏到芯片的端子处，或者其他导电材料附着至端子处，若相邻端子通过墨水或者导电材料连通，则芯片甚至打印设备可能出现短路故障甚至烧毁。因此，通常会对芯片进行短路校验，当芯片通过短路校验后，打印设备才会给芯片发送后续的正常通讯命令。
3、目前，在芯片的短路校验阶段，打印设备会先给芯片发送短路校验命令，然后芯片中的数据端子回复一个符合打印设备预期的波形，表明芯片未发生短路，否则认为芯片发生短路。但在实际应用过程中，当芯片功能损坏时，在芯片的短路校验阶段，芯片也无法回复一个符合打印设备预期的波形，从而造成芯...
【技术保护点】
1.一种芯片短路校验方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片短路校验方法，其特征在于，所述基于所述实际输出电平信号确定所述待测芯片的短路校验结果，包括：
3.根据权利要求2所述的短路校验方法，其特征在于，若所述实际输出电平信号与所述期望电平信号一致，则所述待测芯片功能正常，所述方法还包括：
4.根据权利要求2所述的芯片短路校验方法，其特征在于，若所述实际输出电平信号与所述期望电平信号一致，则所述待测芯片功能正常，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的芯片短路校验方法，其特征在于，所述基于所述短路校验信号...
【技术特征摘要】
1.一种芯片短路校验方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片短路校验方法，其特征在于，所述基于所述实际输出电平信号确定所述待测芯片的短路校验结果，包括：
3.根据权利要求2所述的短路校验方法，其特征在于，若所述实际输出电平信号与所述期望电平信号一致，则所述待测芯片功能正常，所述方法还包括：
4.根据权利要求2所述的芯片短路校验方法，其特征在于，若所述实际输出电平信号与所述期望电平信号一致，则所述待测芯片功能正常，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的芯片短路校验方法，其特征在于，所述基于所述短路校验信号，在校验响应时段中的指定时刻，为待测芯片中的数据端子设置期望电平信号，包括：
6.根据权利要求5所述的芯片短路校验方法，其特征在于，所述指定时刻包括第一指定时刻、第二指定时刻以及第三指定时刻，所述第一指定时刻早于所述第二指定时刻、所述第二指定时刻早于所述第三指定时刻，所述在所述数据端子对应的指定时刻设置期望电平信号，包括：
7.根据权利要求1所述的芯片短路校验方法，其特征在于，所述获取短路校验信号，包括：
8.一种芯片短路校验装置，其特征在于，包括：
9.一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：杭州旗捷科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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