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本申请涉及一种芯片短路校验方法、装置、芯片检测方法、芯片和耗材盒，其中，该芯片短路校验方法包括：获取短路校验信号；基于短路校验信号，在校验响应时段中的指定时刻，为待测芯片中的数据端子设置期望电平信号；获取数据端子设置期望电平信号后的实际输出...
该专利属于杭州旗捷科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州旗捷科技有限公司授权不得商用。

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