存储器、存储器的编程方法及编程验证方法、存储器系统技术方案

本公开实施例公开了一种存储器、存储器的编程方法及编程验证方法、存储器系统，所述编程验证方法包括：获取第i编程验证操作的第i验证结果；其中，所述第i编程验证操作验证的编程态范围为第n态至第n+k态，i和n为正整数，k为自然数，且第n+k态小于或等于所述存储器的最高编程态；根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围；根据确定的所述第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围，执行第i+1编程验证操作。执行第i+1编程验证操作。执行第i+1编程验证操作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】存储器、存储器的编程方法及编程验证方法、存储器系统


[0001]本公开实施例涉及但不限于半导体领域，尤其涉及一种存储器、存储器的编程方法及编程验证方法、存储器系统。

技术介绍

[0002]快闪存储器作为例如移动电话、数字相机等便携式电子设备的存储媒介而被广泛使用。快闪存储器通常使用允许高存储器密度、高可靠性和低功耗的单晶体管存储器单元。通过对电荷存储结构(例如，浮栅或电荷阱)或其它物理现象(例如，相变或铁电)进行编程，存储器单元的阈值电压的改变决定每个存储器单元的数据状态(例如，数据值)。
[0003]相关技术中，对存储器施加编程脉冲以进行编程后，需要进行编程验证操作，施加编程脉冲的次数以及进行编程验证操作的次数，是决定编程时间的重要因素。因此，如何在保证编程质量的前提下，缩短编程时间，成为亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本公开实施例提供一种存储器、存储器的编程方法及编程验证方法、存储器系统。
[0005]根据本公开实施例的第一方面，提供一种存储器的编程验证方法，包括：
[0006]获取第i编程验证操作的第i验证结果；其中，所述第i编程验证操作验证的编程态范围为第n态至第n+k态，i和n为正整数，k为自然数，且第n+k态小于或等于所述存储器的最高编程态；
[0007]根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围；
[0008]根据确定的所述第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围，执行第i+1编程验证操作。
[0009]在一些实施例中，所述根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的的编程态范围，包括：
[0010]根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态；
[0011]根据所述第i验证结果中第n+k态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态。
[0012]在一些实施例中，所述第i验证结果中第n态的验证子结果包括：第n态的第i统计数据，用于统计对第n态进行编程的失败比特数；
[0013]所述根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态，包括：
[0014]根据所述第n态的第i统计数据，确定对所述第n态进行编程的失败比特数；
[0015]当对所述第n态进行编程的失败比特数小于第一预设值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n+1态；当对所述第n态进行编程的失败比特数大于或等
于所述第一预设值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的的最低编程态为第n态；
[0016]或者，
[0017]当对所述第n态进行编程的失败比特数与目标态为所述第n态的比特数的比值小于第一预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n+1态；当对所述第n态进行编程的失败比特数与目标态为所述第n态的比特数的比值大于或等于所述第一预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n态。
[0018]在一些实施例中，所述编程验证方法还包括：
[0019]获取待编程存储单元的循环次数；
[0020]根据所述循环次数，确定所述第一预设值的取值范围或所述第一预设比值的取值范围。
[0021]在一些实施例中，所述第一预设值的取值范围是在对所述存储器进行的误差校正码纠错机制所允许范围内。
[0022]在一些实施例中，所述第i验证结果中第n+k态的验证子结果包括：第n+k态的第i统计数据，用于统计对第n+k态进行编程的成功比特数；
[0023]所述根据所述第i验证结果中第n+k态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态，包括：
[0024]根据所述第n+k态的第i统计数据，确定对所述第n+k态进行编程的成功比特数；
[0025]当对所述第n+k态进行编程的成功比特数大于第二预设值，且所述第n+k态小于所述所述存储器的最高编程态时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k+1态；当对所述第n+k态进行编程的成功比特数小于或等于所述第二预设值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k态；
[0026]或者，
[0027]当对所述第n+k态进行编程的成功比特数与目标态为所述第n+k态的比特数的比值大于第二预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k+1态；当对所述第n+k态进行编程的成功比特数与目标态为所述第n+k态的比特数的比值小于或等于所述第二预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k态。
[0028]在一些实施例中，所述编程验证方法还包括：
[0029]获取增量步长脉冲编程的步长和/或编程电压斜率；根据所述步长和/或所述编程电压斜率，确定所述第二预设值或所述第二预设比值的取值范围；其中，所述编程验证方法应用于增量步长脉冲编程方法中；
[0030]或者，
[0031]获取待编程存储单元的循环次数；根据所述循环次数，确定所述第二预设值的取值范围或所述第二预设比值的取值范围。
[0032]在一些实施例中，所述第二预设比值的取值范围为2％至3％。
[0033]在一些实施例中，所述根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围，包括：
[0034]对所述第i验证结果中的第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果分别进行抽样，获得第n态的第i抽样统计数据和第n+k态的第i抽样统计数据；
[0035]根据所述第n态的第i抽样统计数据，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态；
[0036]根据所述第n+k态的第i抽样统计数据，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态。
[0037]根据本公开实施例的第二方面，提供一种存储器的编程方法，包括：
[0038]对所述存储器的待编程存储单元施加第i+1编程脉冲；
[0039]在施加所述第i+1编程脉冲的过程中，根据第i编程验证操作的第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，对第i编程操作中第n态的编程和第n+k态的编程进行失败比特数计数，获得第i计数结果；其中，所述第i编程验证操作验证的编程态范围为第n态至第n+k态，i和n为正整数，k为自然数，且第n+k态小于或等于所述存储器的最高编程态；
[0040]根据所述第i计数结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围；其中，所述第i编程验证操作验证的编程态范围为第n态至第n+k态，i和n为正整数，k为自然数，且第n+k态小于或等于所述存储器的最高编程态；
[0041]根据确定的所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种存储器的编程验证方法，其特征在于，包括：获取第i编程验证操作的第i验证结果；其中，所述第i编程验证操作验证的编程态范围为第n态至第n+k态，i和n为正整数，k为自然数，且第n+k态小于或等于所述存储器的最高编程态；根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围；根据确定的所述第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围，执行第i+1编程验证操作。2.根据权利要求1所述的编程验证方法，其特征在于，所述根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的的编程态范围，包括：根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态；根据所述第i验证结果中第n+k态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态。3.根据权利要求2所述的编程验证方法，其特征在于，所述第i验证结果中第n态的验证子结果包括：第n态的第i统计数据，用于统计对第n态进行编程的失败比特数；所述根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态，包括：根据所述第n态的第i统计数据，确定对所述第n态进行编程的失败比特数；当对所述第n态进行编程的失败比特数小于第一预设值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n+1态；当对所述第n态进行编程的失败比特数大于或等于所述第一预设值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n态；或者，当对所述第n态进行编程的失败比特数与目标态为所述第n态的比特数的比值小于第一预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n+1态；当对所述第n态进行编程的失败比特数与目标态为所述第n态的比特数的比值大于或等于所述第一预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态为第n态。4.根据权利要求3所述的编程验证方法，其特征在于，所述编程验证方法还包括：获取待编程存储单元的循环次数；根据所述循环次数，确定所述第一预设值的取值范围或所述第一预设比值的取值范围。5.根据权利要求3所述的编程验证方法，其特征在于，所述第一预设值的取值范围是在对所述存储器进行的误差校正码纠错机制所允许范围内。6.根据权利要求2所述的编程验证方法，其特征在于，所述第i验证结果中第n+k态的验证子结果包括：第n+k态的第i统计数据，用于统计对第n+k态进行编程的成功比特数；所述根据所述第i验证结果中第n+k态的验证子结果，确定所述第i+1编程验证操作需
要验证的最高编程态，包括：根据所述第n+k态的第i统计数据，确定对所述第n+k态进行编程的成功比特数；当对所述第n+k态进行编程的成功比特数大于第二预设值，且所述第n+k态小于所述存储器的最高编程态时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k+1态；当对所述第n+k态进行编程的成功比特数小于或等于所述第二预设值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k态；或者，当对所述第n+k态进行编程的成功比特数与目标态为所述第n+k态的比特数的比值大于第二预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k+1态；当对所述第n+k态进行编程的成功比特数与目标态为所述第n+k态的比特数的比值小于或等于所述第二预设比值时，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态为第n+k态。7.根据权利要求6所述的编程验证方法，其特征在于，所述编程验证方法还包括：获取增量步长脉冲编程的步长和/或编程电压斜率；根据所述步长和/或所述编程电压斜率，确定所述第二预设值或所述第二预设比值的取值范围；其中，所述编程验证方法应用于增量步长脉冲编程方法中；或者，获取待编程存储单元的循环次数；根据所述循环次数，确定所述第二预设值的取值范围或所述第二预设比值的取值范围。8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第二预设比值的取值范围为2％至3％。9.根据权利要求1所述的编程验证方法，其特征在于，所述根据所述第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，确定第i+1编程验证操作需要验证的编程态范围，包括：对所述第i验证结果中的第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果分别进行抽样，获得第n态的第i抽样统计数据和第n+k态的第i抽样统计数据；根据所述第n态的第i抽样统计数据，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最低编程态；根据所述第n+k态的第i抽样统计数据，确定所述第i+1编程验证操作需要验证的最高编程态。10.一种存储器的编程方法，其特征在于，包括：对所述存储器的待编程存储单元施加第i+1编程脉冲；在施加所述第i+1编程脉冲的过程中，根据第i编程验证操作的第i验证结果中第n态的验证子结果以及第n+k态的验证子结果，对第i编程操作中第n态的编程和第n+k态的编程进行失败比特数计数，获得第i计数结果；其...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓江，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：