一种评定核截面引起keff不确定度的方法技术

本发明专利技术涉及一种评定核截面偏差引起keff不确定度的方法，属于核数据评价技术领域，包括以下步骤：S1、选取待分析核系统中需要评定的核素；S2、选取每种核素需要评定的核截面；S3、分别计算步骤S2中选取的每个核截面的灵敏度；S4、选取与每个核截面对应的协方差数据并对所述协方差数据进行调整或估计；S5、分别计算每个协方差矩阵对keff的不确定度Unc

【技术实现步骤摘要】
一种评定核截面引起keff不确定度的方法


[0001]本专利技术属于核数据评价
，具体为一种评定核截面引起keff不确定度的方法。

技术介绍

[0002]在评价核系统临界安全特性时，需要评价该核系统各种因素引起的不确定度，其中核截面引起的不确定度是非常重要的一方面。由于核截面在测量的过程中会产生一定的偏差，且根据其测量原理和方法，会导致偏差在不同能群、不同截面甚至不同核素间存在一定的关联性，这种关联性会导致核截面评价结果发生整体偏差，也会引起基于此核截面数据的keff(有效增殖因数)计算结果产生整体偏差，因此，评价这种关联性的影响是很有必要的。这种关联性一般体现在协方差数据中，由于近些年核数据评价技术的进步，在核数据中记录了相当数量的协方差数据信息，这使得评价核截面偏差引起keff不确定度成为可能。
[0003]同时，由于计算程序日渐成熟，使用蒙特卡洛方法计算核截面灵敏度的多种方法可在程序中实现，同时随着计算机技术的发展，大规模、精确化计算核系统核截面灵敏度越来越便捷。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术存在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评定核截面偏差引起keff不确定度的方法，包括以下步骤：S1、选取待分析核系统中需要评定的核素；S2、选取每种核素需要评定的核截面；S3、分别计算步骤S2中选取的每个核截面的灵敏度；S4、选取与每个核截面对应的协方差数据并对所述协方差数据进行调整或估计；S5、分别计算每个协方差数据对keff的不确定度Unc
k
；S6、计算核系统核截面偏差引起keff的不确定度Unc。2.根据权利要求1所述的评定核截面偏差引起keff不确定度的方法，其特征在于，步骤S1中选取的核素包括核系统中的核材料、结构材料或慢化材料。3.根据权利要求2所述的评定核截面偏差引起keff不确定度的方法，其特征在于，步骤S2中选取的核截面类型包括elastic、(n，n
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)、(n，2n)、fission、(n，gamma)、(n，p)、(n，d)、(n，t)、(n，he
‑
3)、nubar和chi。4.根据权利要求3所述的评定核截面偏差引起keff不确定度的方法，其特征在于，步骤S2中选取的每种核素的核截面类型具有唯一性，即不能同时选取同一种类型的总截面和分量截面。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的评定核截面偏差引起ke...

【专利技术属性】
技术研发人员：李云龙，易璇，霍小东，杨海峰，于淼，胡小利，陈添，李想，邵增，
申请(专利权)人：中国核电工程有限公司，
类型：发明
国别省市：