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本发明涉及一种评定核截面偏差引起keff不确定度的方法，属于核数据评价技术领域，包括以下步骤：S1、选取待分析核系统中需要评定的核素；S2、选取每种核素需要评定的核截面；S3、分别计算步骤S2中选取的每个核截面的灵敏度；S4、选取与每个核截...
该专利属于中国核电工程有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国核电工程有限公司授权不得商用。

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