用于密封片的测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了用于密封片的测量装置及方法，测量密封片孔中心到两个对称斜面上特定点的距离。测量装置包括量规体、量杆、两个测量头、螺钉和插销。测量时将待测的密封片和测量装置通过插销和量规体模拟装配在一起，再用量杆插入量规体中，最后比较量杆上的高测量面和低测量面与量规体上端凸台平面的位置关系即可判断密封片孔中心到两个对称斜面上特定点距离是否合格，本发明专利技术操作简单，测量准确，测量效率高。效率高。效率高。

【技术实现步骤摘要】
用于密封片的测量装置及方法


[0001]本专利技术属于航空发动机加工
,具体涉及零部件制造过程中孔中心到两个对称斜面上特定点距离的测量装置和方法。

技术介绍

[0002]在航空发动机众多零部件制造过程中，经常会遇到带有孔和斜面的密封片，由于这种密封片和相配件的装配精度要求较高，使得密封片自身制造精度相应提高，如图3所示，为一种前述的带有孔和斜面的密封片，该密封片有两个耳片，耳片上开有孔，两个耳片之间的间隔形成了槽口，耳片上孔的两侧为关于该孔中心对称的两条斜面，斜面上有两个距离为L的待测点，耳片上孔中心到待测点的垂直距离为A(A＞0)，A有上下偏差的设计。
[0003]为了保证装配精度，需要检测密封片的孔中心到对称斜面特定点的距离是否合格。由于生产现场一直没有专用的测量工具，工人只能凭借现场经验判断零件是否合格，从而造成与相配件配合合格率极低。为便于观察和检测，需要一种简便的测量装置和测量方法来实现。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本专利技术旨在提供一种用于密封片的孔中心到两个对称斜面上特定点距离的测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于密封片的测量装置，所述密封片上有一个孔和两个斜面，孔中心到两个斜面的垂直距离大于零，且两个斜面位于孔的两侧并关于孔对称分布，其特征在于：测量装置包括，量规体(1)，所述量规体(1)的上端面有一条判断用平面，判断用平面上开有一个圆孔，量规体(1)的侧端面上开有一个通孔，且通孔与圆孔垂直相交；测量头(3)，两个所述测量头(3)设置在量规体(1)上，且分居在圆孔两侧，两个测量头(3)的测量端连线平行于量规体(1)上端圆孔所在的判断用平面，且测量端到判断用平面的距离等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离的最小值加上一个延长距离D，D大于零；量杆(2)，所述量杆(2)长度方向上的一个端面上设置有高测量面和低测量面两个平行平面，另一个端面为接触用端面，接触用端面平行于低测量面，高测量面和低测量面之间的高度差等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离所允许的最大误差值，低测量面到接触用端面的距离等于延长距离D与密封片上孔的半径之差；插销(5)，所述插销(5)表面包括一个外径匹配密封片上孔内径的圆柱面，圆柱面外径与量规体(1)上通孔的竖向孔径之差大于等于高测量面和低测量面之间的高度差，所述竖向孔径为平行于量规体(1)上圆孔轴线方向的通孔最小孔径，插销的长度长于通孔的深度。2.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：所述量规体(1)呈门形，且在门形量规体(1)的上端面有一个凸台，凸台的上端面为判断用平面，判断用平面上开有圆孔，两个测量头(3)分别位于门形量规体(1)的左、右两端，凸台位于门形量规体(1)左、右两端连线的中点位置。3.根据权利要求1所述的用...

【专利技术属性】
技术研发人员：金秀芬，董常昇，夏启全，
申请(专利权)人：中国航发贵州黎阳航空动力有限公司，
类型：发明
国别省市：