用于密封片的测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了用于密封片的测量装置及方法，测量密封片孔中心到两个对称斜面上特定点的距离。测量装置包括量规体、量杆、两个测量头、螺钉和插销。测量时将待测的密封片和测量装置通过插销和量规体模拟装配在一起，再用量杆插入量规体中，最后比较量杆上的高测量面和低测量面与量规体上端凸台平面的位置关系即可判断密封片孔中心到两个对称斜面上特定点距离是否合格，本发明专利技术操作简单，测量准确，测量效率高。效率高。效率高。

【技术实现步骤摘要】
用于密封片的测量装置及方法


[0001]本专利技术属于航空发动机加工
,具体涉及零部件制造过程中孔中心到两个对称斜面上特定点距离的测量装置和方法。

技术介绍

[0002]在航空发动机众多零部件制造过程中，经常会遇到带有孔和斜面的密封片，由于这种密封片和相配件的装配精度要求较高，使得密封片自身制造精度相应提高，如图3所示，为一种前述的带有孔和斜面的密封片，该密封片有两个耳片，耳片上开有孔，两个耳片之间的间隔形成了槽口，耳片上孔的两侧为关于该孔中心对称的两条斜面，斜面上有两个距离为L的待测点，耳片上孔中心到待测点的垂直距离为A(A＞0)，A有上下偏差的设计。
[0003]为了保证装配精度，需要检测密封片的孔中心到对称斜面特定点的距离是否合格。由于生产现场一直没有专用的测量工具，工人只能凭借现场经验判断零件是否合格，从而造成与相配件配合合格率极低。为便于观察和检测，需要一种简便的测量装置和测量方法来实现。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本专利技术旨在提供一种用于密封片的孔中心到两个对称斜面上特定点距离的测量装置和测量方法，测量效率高，测量结果准确，测量装置结构简单。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用了下述技术方案：
[0006]用于密封片的测量装置，所述密封片上有一个孔和两个斜面，孔中心到两个斜面的垂直距离大于零，且两个斜面位于孔的两侧并关于孔对称分布，测量装置包括，
[0007]量规体，所述量规体的上端面有一条判断用平面，判断用平面上开有一个圆孔，量规体的侧端面上开有一个通孔，且通孔与圆孔垂直相交；判断用平面上的圆孔也可以是其它形状截面的孔，例如方孔、多边形孔等，其目的是能够将量杆方便的插入该孔中；通孔的作用是插入插销，通孔的形状没有特别要求，但要求插销能够插入并留有间隙，且量规体可以通过前述间隙相对插销上下移动；
[0008]测量头，两个所述测量头设置在量规体上，且分居在圆孔两侧，两个测量头的测量端连线平行于量规体上端圆孔所在的判断用平面，且测量端到判断用平面的距离等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离的最小值加上一个延长距离D，D大于零(即图1中尺寸A取下偏差值加上延长距离D)；测量头的测量端是指与对称斜面上待测点接触的位置；
[0009]量杆，所述量杆长度方向上的一个端面上设置有高测量面和低测量面两个平行平面，另一个端面为接触用端面，接触用端面平行于低测量面，高测量面和低测量面之间的高度差等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离所允许的最大误差值(即图1中尺寸A的上偏差值减去下偏差值)，低测量面到接触用端面的距离等于延长距离D与密封片上孔的半径之差；量杆的外形一般选择圆柱形，但也可以选择其它形状，例如方形截面的立
方体，或者直多棱柱，目的是能够插入量规体判断用平面的圆孔中；
[0010]插销，所述插销表面包括一个外径匹配密封片上孔内径的圆柱面，圆柱面外径与量规体上通孔的竖向孔径之差大于等于高测量面和低测量面之间的高度差，所述竖向孔径为平行于量规体上圆孔轴线方向的通孔最小孔径，插销的长度长于通孔的深度。
[0011]作为一种选择，所述量规体呈门形，且在门形量规体的上端面有一个凸台，凸台的上端面为判断用平面，判断用平面上开有圆孔，两个测量头分别位于门形量规体的左、右两端，凸台位于门形量规体左、右两端连线的中点位置。
[0012]作为一种选择，用于密封片的测量装置还包括，
[0013]螺孔，所述螺孔位于量规体的侧端面，螺孔与圆孔相交；
[0014]空刀槽，所述空刀槽位于量杆的侧表面；
[0015]螺钉，所述螺钉与螺孔螺纹连接。
[0016]作为一种选择，所述密封片上有两个耳片，所述孔同时贯穿两个耳片，两个耳片之间的间隔形成槽口；所述量规体的厚度尺寸B小于等于密封片上槽口的宽度尺寸。
[0017]作为一种选择，所述高测量面和低测量面之间有一条凹槽，凹槽用于隔开高测量面和低测量面，便于操作人员触摸时快速、准确地区分出高测量面和低测量面。
[0018]作为一种选择，所述测量头与量规体可拆卸连接，例如螺纹连接。
[0019]作为一种选择，插销还包括与圆柱面同轴的握持段，握持段表面有防滑花纹，测量时，握持段方便操作人员将插销通过通孔并插入密封片的孔中。
[0020]用于密封片的测量方法，采用前述的测量装置，且包括以下步骤，
[0021]步骤一，将量规体上的通孔对准密封片上的孔，然后将插销穿过通孔并使得插销上的圆柱面与密封片上的孔装配；
[0022]步骤二，将量杆上接触用端面的一端插入量规体判断用平面上的圆孔中，确保量杆插入圆孔内的接触用端面与插销上的圆柱面接触；
[0023]步骤三，移动量规体，确保量规体上的测量头与密封片上两个对称斜面上距离为L的待测量的特定点接触；
[0024]步骤四，比较量规体上判断用平面与量杆上高测量面和低测量面的位置关系，如果圆孔所在平面介于高测量面和低测量面之间，或者与高测量面或低测量面齐平，则密封片上的孔中心到两个对称斜面上特定点的距离合格，否则不合格。
[0025]与现有技术相比，本专利技术提供了一种用于密封片的孔中心到两个对称斜面上特定点距离的测量装置和测量方法。通过该测量装置和方法，将密封片孔中心到两个对称斜面上特定点的距离所允许的最大及最小值通过测量装置进行转换，采用测量人员手指触摸量规体上判断用平面(例如凸台上端平面)，然后比较量杆高测量面和低测量面位置的方式进行判断，如果量规体上判断用平面(例如凸台上端平面)位于高测量面和低测量面之间，或者与高测量面或低测量面之一齐平，则待测密封片为合格产品；反之为不合格品。
[0026]本专利技术的测量装置和测量方法在生产现场操作方便可靠，并能够迅速判断产品的合格与否，大大提高了工作效率，本专利技术也可用于其它类似测量需求的领域。
附图说明
[0027]图1为测量装置的主视图；
[0028]图2为测量装置的俯视图；
[0029]图3为密封片的零件示意图；
[0030]图中，1
‑
量规体；2
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量杆；3
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测量头；4
‑
螺钉；5
‑
插销。
具体实施方式
[0031]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步的说明，但不应就此理解为本专利技术所述主题的范围仅限于以下的实施例，在不脱离本专利技术上述技术思想情况下，凡根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种修改、替换和变更，均包括在本专利技术的范围内。
[0032]如图1和图2所示，用于密封片的测量装置包括量规体1、量杆2、测量头3(两个)、螺钉4和插销5。量规体1中间设有凸台，从凸台上端平面沿中心竖直方向有圆孔a，量杆2的外径(采用圆柱面)与圆孔a内壁间隙配合，保证竖直可拆卸地安装在这个圆孔a里；在量杆2侧面加工留有空刀槽c；螺钉4安装在凸台侧面，螺钉4头部可以旋入在空刀槽c本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于密封片的测量装置，所述密封片上有一个孔和两个斜面，孔中心到两个斜面的垂直距离大于零，且两个斜面位于孔的两侧并关于孔对称分布，其特征在于：测量装置包括，量规体(1)，所述量规体(1)的上端面有一条判断用平面，判断用平面上开有一个圆孔，量规体(1)的侧端面上开有一个通孔，且通孔与圆孔垂直相交；测量头(3)，两个所述测量头(3)设置在量规体(1)上，且分居在圆孔两侧，两个测量头(3)的测量端连线平行于量规体(1)上端圆孔所在的判断用平面，且测量端到判断用平面的距离等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离的最小值加上一个延长距离D，D大于零；量杆(2)，所述量杆(2)长度方向上的一个端面上设置有高测量面和低测量面两个平行平面，另一个端面为接触用端面，接触用端面平行于低测量面，高测量面和低测量面之间的高度差等于密封片上孔中心到两个对称斜面上特定点的距离所允许的最大误差值，低测量面到接触用端面的距离等于延长距离D与密封片上孔的半径之差；插销(5)，所述插销(5)表面包括一个外径匹配密封片上孔内径的圆柱面，圆柱面外径与量规体(1)上通孔的竖向孔径之差大于等于高测量面和低测量面之间的高度差，所述竖向孔径为平行于量规体(1)上圆孔轴线方向的通孔最小孔径，插销的长度长于通孔的深度。2.根据权利要求1所述的用于密封片的测量装置，其特征在于：所述量规体(1)呈门形，且在门形量规体(1)的上端面有一个凸台，凸台的上端面为判断用平面，判断用平面上开有圆孔，两个测量头(3)分别位于门形量规体(1)的左、右两端，凸台位于门形量规体(1)左、右两端连线的中点位置。3.根据权利要求1所述的用...

【专利技术属性】
技术研发人员：金秀芬，董常昇，夏启全，
申请(专利权)人：中国航发贵州黎阳航空动力有限公司，
类型：发明
国别省市：