【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于制造太阳能电池的方法和太阳能电池本专利技术涉及用于制造太阳能电池的方法和太阳能电池。已知太阳能电池具有半导体实体(Halbleiterkoerper),其中在n掺 杂区段(n-dotierten Zone)和p掺杂半导体区段(p-dotierten Halbleiterzone) 之间形成pn结。通过吸收光,即通过引入半导体实体的光子 (Photonen),在半导体实体中产生载流子对(电子空穴对),载流子对由 形成于pn结区域的空间电荷区段(Raumladungszone)隔开并且载流子 对用于电流。在半导体实体中pn结的空间电荷区段之外产生的载流段的区域并由那里存在的电场隔开,或直到它们通过再结合 (Rekombination)消失。在太阳能电池的p掺杂区段中产生载流子对时,再结合速率取决 于半导体实体中少数载流子的扩散长度(Difflisionslaenge),即依赖于 电子的扩散长度,而在太阳能电池的n掺杂区段中产生载流子对时, 再结合速率取决于空穴的扩散长度。扩散长度由存在于半导体实体的 晶体中的晶体缺陷(Kristalldefekte)的浓度来决定,这些晶体缺陷可以 作为再结合中心起作用并且由此减小扩散长度。为了降低再结合速 率,对半导体实体的半导体晶体的无缺陷性或者晶体质量提出了高的 要求,而这些必然与较高的制造成本相联系。DE 44 16 549 Al介绍了相应太阳能电池,其中大量凹部 (Vertiefimg)始于一侧延伸入太阳能电池的半导体实体中。为了实现pn 结,摻杂的区域存在于这些沟槽(Graeben)侧壁的区域,这些掺杂的区 域是互 ...
【技术保护点】
一种用于制造太阳能电池的方法,所述方法具有以下方法步骤: -提供单晶质半导体实体(100),所述单晶质半导体实体(100)具有两个相对侧(101、102)和p型基本掺杂, -将质子通过所述侧的第一侧(101)用以下方式注入半导体实体(100)中,使得形成一定数量相互间隔设置的缺陷区域(11′),所述缺陷区域(11′)始于所述一侧(101)延伸入半导体实体(100), -执行热处理步骤,在所述热处理步骤中至少在所述缺陷区域(11′)的区域中加热所述半导体实体,并且其温度和持续时间用以下方式选择,使得形成一定数量的相互间隔设置的n掺杂半导体区段(31), -制造n掺杂发射极(13),所述n掺杂发射极(13)联接到所述n掺杂半导体区段(31)。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】DE 2005-12-23 102005061820.01.一种用于制造太阳能电池的方法,所述方法具有以下方法步骤:-提供单晶质半导体实体(100),所述单晶质半导体实体(100)具有两个相对侧(101、102)和p型基本掺杂,-将质子通过所述侧的第一侧(101)用以下方式注入半导体实体(100)中,使得形成一定数量相互间隔设置的缺陷区域(11'),所述缺陷区域(11')始于所述一侧(101)延伸入半导体实体(100),-执行热处理步骤,在所述热处理步骤中至少在所述缺陷区域(11')的区域中加热所述半导体实体,并且其温度和持续时间用以下方式选择,使得形成一定数量的相互间隔设置的n掺杂半导体区段(31),-制造n掺杂发射极(13),所述n掺杂发射极(13)联接到所述n掺杂半导体区段(31)。2. 根据权利要求1所述的方法,其中所述n掺杂发射极(21)在所 述第一侧(101)的区域中制造。3. 根据权利要求2所述的方法,其中所述n掺杂发射极(21)用以 下方式制造,使得存在具有p型基本掺杂的所述半导体实体(100)的部 分(12)直接联接到所述第 一侧(101)。4. 根据权利要求1所述的方法,其中所述半导体实体具有垂直于 所述第一和第二侧(IOI、 102)伸展的边侧(103),且其中在此所述边侧 (103)的区域中制造所述n掺杂发射极。5. 根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中制造了柱形的n 掺杂半导体区段(ll)。6. 根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其中制造了多个在 所述半导体实体(100)的横向方向上相互平行伸展的n掺杂半导体区段 (11)。7. 根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其中制造了 n掺杂 半导体区段(ll),所述n掺杂半导体区段(ll)在平行于所述第一和第二 侧(IOI、 102)伸展的平面上形成为格状。8. 根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中注入所述质子包 括用多个注入能量的多个注入步骤。9. 根据权利要求1-7中任一项所述的方法,其中注入所述质子 包括用一个注入能量的注入步骤。10. 根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述质子在所 述注入步骤期间以关于所述第一側(101)90。的角注入所述半导体实体 (100)。11. 根据权利要求1 - 9中任一项所述的方法,其中所述质子在所 述注入步骤期间以关于所述第一侧(101)小于90。且大于45。的角注入 所述半导体实体(IOO)。12. 根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述质子用以下方式注入,^吏得所述缺陷区域(ir)始于所述第一側(ioi)的深度相应 于一个值,所述值至少相应于在所述太阳能电池工作时通过所迷第一側(101)的入射光的穿透深度和少数载流子的扩散长度的和。13. 根据权利要求12所述的方法,其中所述缺陷区域(ir)的深度至少相应于所述太阳能电池工作时通过所述第一侧(101)的入射光的穿透深度与所迷少数栽流子的扩散长度的和的两倍。14. 一种用于制造太阳能电池的方法,所述方法具有以下方法步骤-提供单晶质半导体实体(IOO),所述单晶质半导体实体(100)具有 两个相对侧(IOI、 102)和p型基本掺杂,-执行质子注入,其中质子通过所述侧中的第一側(101)以以下方 式注入半导体实体(IOO),即与所述一侧(101)相隔一段距离至少形成一 个缺陷区域(31'),-执行热处理步骤,其中加热至少在所述至少一个缺陷区域(31') 的区域中的所述半导体实体并且所述加热温度和时间以以下方式选择,即形成氢感生施主,从而由此产生至少一个埋藏的n掺杂半导体 区段(31),-制造n掺杂发射极(13),-制造n掺杂连接区段(32; 33),所述n掺杂连接区段(32; 33) 在所述半导体实体中从所述至少一个埋藏的n掺杂半导体区段(41)延 伸直到所述n掺杂发射极(13)。15. 根据权利要求14所述的方法,其中所述n掺杂发射极(13)在 所述第一侧(101)的区域中制造。16. 根据权利要求14所述的方法,其中所述n掺杂发射极通过所 述连接区段(32)构成。17. 根据权利要求14-16中的任一项所述的方法,其中所述质子 照射用以下方式掩蔽而实现,使得形成至少两个在^f黄向方向上相互间 隔设置的缺陷区域(31')或一个在横向方向上部分中断的缺陷区域 (31')。18. 根据权利要求17所述的方法,其中所述质子照射用以下方式 掩蔽而实现,使得形成至少两个在平行于所述侧(101、 102)伸展的平 面中形成为带状的缺陷区域(31')。19. 根据权利要求14-18中任一项所迷的方法,其中制造所述连 接区段(32)包括以下方法步骤-制造沟槽(103),所述沟槽(103)始于所述第一侧(101)延伸直到 所述埋藏的n掺杂半导体区段,-在沟槽(103)的侧壁区域中制造n掺杂半导体区段(32)。20. 根据权利要求19所述的方法,其中在制造所述埋藏的n掺杂 半导体区段(3 l)之前制造所述连接区段(32)。21. 根据权利要求14-18中任一项所述的方法,其中制造所述连 接区段(33)包括以下方法步骤-执行质子注入,在所述质子注入中质子在使用掩膜的情况下通 过所述第一侧(101)用以下方式注入所述半导体实体(IOO),使得形成缺 陷区域,所述缺陷区域始于所述侧(101)延伸入所述半导体实体(100) 中,且在所述缺陷区域中存在所述半导体实体(100)的晶体缺陷和注入的质子,-执行热处理步骤,其中所述半导体实体至少在所述缺陷区域的 区域中被加热,且其温度和持续时间用以下方式来选择,使得由所述缺陷和所述质子形成氩感生施主,从而由此产生所述连接区段(33)。22. 根据权利要求21所述的方法,其中所述连接区段在制造所述 埋藏的n掺杂半导体区段(31)之前制造。23. 根据权利要求21或22所述的方法,其中用于制造所述连接 区段(33)的所述质子注入仅包含利用一个注入能量的注入步骤。...
【专利技术属性】
技术研发人员:HJ舒尔泽,
申请(专利权)人:英飞凌科技奥地利股份公司,
类型:发明
国别省市:AT[奥地利]
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