用于电子件测试的全自动测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种用于电子件测试的全自动测试系统，包括上料机、测试机以及下料机，上料机设置于测试机的上料侧，下料机设置于测试机的下料侧，上料机包括上料臂、第一TRAY盘搬运模组、第一料盘周转装置，第一料盘周转装置用于顺序地将TRAY盘放置于第一TRAY盘搬运模组上，第一TRAY盘搬运模组输送TRAY盘至上料臂的上料爪的下方；下料机包括下料臂、第二TRAY盘搬运模组、第二料盘周转装置，第二料盘周转装置用于顺序地将TRAY盘放置于第二TRAY盘搬运模组上，第二TRAY盘搬运模组输送TRAY盘至下料臂的下料爪的下方。本申请可在提高测试效率的同时，降低人工成本的投入。降低人工成本的投入。降低人工成本的投入。

【技术实现步骤摘要】
用于电子件测试的全自动测试系统


[0001]本技术涉及电子产品测试
，特别是涉及一种用于电子件测试的全自动测试系统。

技术介绍

[0002]目前对于3C行业产品进行测试时，已经具备了自动化测试机等系列的测试工具，但其上料时多是通过人工进行上料，这不但导致上料麻烦，影响测试效率，同时提高了人力成本的投入，人工测试所带来的差异性也会影响测试结果的准确性。

技术实现思路

[0003]本技术目的是要提供一种用于电子件测试的全自动测试系统，可在提高测试效率的同时，降低人工成本的投入。
[0004]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：
[0005]本技术提供了一种用于电子件测试的全自动测试系统，包括上料机、测试机以及下料机，所述上料机设置于测试机的上料侧，所述下料机设置于测试机的下料侧，
[0006]所述上料机包括上料臂、第一TRAY盘搬运模组、第一料盘周转装置，所述第一料盘周转装置用于顺序地将TRAY盘放置于所述第一TRAY盘搬运模组上，所述第一TRAY盘搬运模组输送所述TRAY盘至所述上料臂的上料爪的下方；
[0007]所述下料机包括下料臂、第二TRAY盘搬运模组、第二料盘周转装置，所述第二料盘周转装置用于顺序地将TRAY盘放置于所述第二TRAY盘搬运模组上，所述第二TRAY盘搬运模组输送所述TRAY盘至所述下料臂的下料爪的下方。
[0008]对于上述技术方案，申请人还有进一步的优化措施。
[0009]可选地，所述第一料盘周转装置包括第一空盘仓、第一满盘仓、第一顶升模组以及第一分盘模组，所述第一空盘仓、第一满盘仓沿所述第一TRAY盘搬运模组输送方向设置，且所述第一TRAY盘搬运模组的输送表面串联所述第一空盘仓与第一满盘仓，所述第一顶升模组设置于所述第一满盘仓的底部用于顶撑第一满盘仓中所放置的承载有待测电子件的TRAY盘，第一分盘模组设置于所述第一满盘仓的侧面，所述第一分盘模组中设置有可横向插入相邻TRAY盘之间的拨叉。
[0010]进一步地，所述第一分盘模组包括固定架、滑轨、滑动块、定位架以及拨叉，所述固定架固定在系统机架上并设置于第一满盘仓的侧面，所述滑轨固定于所述固定架的顶部并且滑轨设置方向垂直于所述第一TRAY盘搬运模组输送方向，所述定位架竖直设置，且定位架的底部通过滑块与所述滑轨滑动配合，所述拨叉固定于所述定位架的顶部并且所述拨叉同样垂直于所述第一TRAY盘搬运模组的输送方向。
[0011]进一步地，所述第一顶升模组包括顶升电机和顶板，所述顶板设置于所述第一TRAY盘搬运模组的传动辊之间并且位于第一TRAY盘搬运模组的下方，所述顶升电机带动所述顶板从所述第一TRAY盘搬运模组的传动辊之间穿出或者回落。
[0012]可选地，所述第二料盘周转装置包括第二空盘仓、第二满盘仓、第二顶升模组以及第二分盘模组，所述第二空盘仓、第二满盘仓沿所述第二TRAY盘搬运模组输送方向设置，且所述第二TRAY盘搬运模组的输送表面串联所述第二空盘仓与第二满盘仓，所述第二顶升模组设置于所述第二空盘仓的底部用于顶撑第二空盘仓中所放置的空载的TRAY盘，第二分盘模组设置于所述第二空盘仓的侧面，所述第二分盘模组中设置有可横向插入相邻TRAY盘之间的拨叉。
[0013]进一步地，所述第二分盘模组包括固定架、滑轨、滑动块、定位架以及拨叉，所述固定架固定在系统机架上并设置于第二空盘仓的侧面，所述滑轨固定于所述固定架的顶部并且滑轨设置方向垂直于所述第二TRAY盘搬运模组输送方向，所述定位架竖直设置，且定位架的底部通过滑块与所述滑轨滑动配合，所述拨叉固定于所述定位架的顶部并且所述拨叉同样垂直于所述第二TRAY盘搬运模组的输送方向。
[0014]进一步地，所述第二顶升模组包括顶升电机和顶板，所述顶板设置于所述第二TRAY盘搬运模组的传动辊之间并且位于第二TRAY盘搬运模组的下方，所述顶升电机带动所述顶板从所述第二TRAY盘搬运模组的传动辊之间穿出或者回落。
[0015]由于上述技术方案运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：
[0016]本技术的用于电子件测试的全自动测试系统，操作方便，通过拨叉以及顶升模组的配合能够实现对于成叠TRAY盘的自动取放，结合TRAY盘搬运模组能够实现TRAY盘的移动，便于上料臂或者下料臂对TRAY盘上的电子件逐一取放，如此能够实现自动化取料以及TRAY盘的自动取放，实现了全自动化的测试工作，如此有效提高了生产测试效率，减少人力投入，实现了人性化、自动化、标准化地测试工作，保证了最终的产品质量。
附图说明
[0017]后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本技术的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：
[0018]图1是根据本技术一个实施例的用于电子件测试的全自动测试系统的整体结构示意图；
[0019]图2是图1所示全自动测试系统中顶升模组的结构示意图；
[0020]图3是图1所示全自动测试系统中分盘模组的结构示意图。
[0021]其中，附图标记说明如下：
[0022]1、上料机，11、上料臂，12、第一TRAY盘搬运模组，13、第一料盘周转装置；
[0023]2、测试机；
[0024]3、下料机，31、下料臂，32、第二TRAY盘搬运模组，33、第二料盘周转装置；
[0025]41、第一空盘仓，42、第一满盘仓，43、第一顶升模组，44、第一分盘模组；
[0026]51、第二空盘仓，52、第二满盘仓，53、第二顶升模组，54、第二分盘模组；
[0027]61、固定架，62、滑轨，63、滑动块，64、定位架，65、拨叉；
[0028]71、顶升电机，72、顶板。
具体实施方式
[0029]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0030]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0031]此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0032]本实施例描述了一种用于电子件测试的全自动测试系统，如图1所示，包括上料机1、测试机2以及下料机3，所述上料机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子件测试的全自动测试系统，包括上料机、测试机以及下料机，所述上料机设置于测试机的上料侧，所述下料机设置于测试机的下料侧，其特征在于，所述上料机包括上料臂、第一TRAY盘搬运模组、第一料盘周转装置，所述第一料盘周转装置用于顺序地将TRAY盘放置于所述第一TRAY盘搬运模组上，所述第一TRAY盘搬运模组输送所述TRAY盘至所述上料臂的上料爪的下方；所述下料机包括下料臂、第二TRAY盘搬运模组、第二料盘周转装置，所述第二料盘周转装置用于顺序地将TRAY盘放置于所述第二TRAY盘搬运模组上，所述第二TRAY盘搬运模组输送所述TRAY盘至所述下料臂的下料爪的下方。2.根据权利要求1所述的用于电子件测试的全自动测试系统，其特征在于，所述第一料盘周转装置包括第一空盘仓、第一满盘仓、第一顶升模组以及第一分盘模组，所述第一空盘仓、第一满盘仓沿所述第一TRAY盘搬运模组输送方向设置，且所述第一TRAY盘搬运模组的输送表面串联所述第一空盘仓与第一满盘仓，所述第一顶升模组设置于所述第一满盘仓的底部用于顶撑第一满盘仓中所放置的承载有待测电子件的TRAY盘，第一分盘模组设置于所述第一满盘仓的侧面，所述第一分盘模组中设置有可横向插入相邻TRAY盘之间的拨叉。3.根据权利要求2所述的用于电子件测试的全自动测试系统，其特征在于，所述第一分盘模组包括固定架、滑轨、滑动块、定位架以及拨叉，所述固定架固定在系统机架上并设置于第一满盘仓的侧面，所述滑轨固定于所述固定架的顶部并且滑轨设置方向垂直于所述第一TRAY盘搬运模组输送方向，所述定位架竖直设置，且定位架的底部通过滑块与所述滑轨滑动配合，所述拨叉固定于所述定位架的顶部并且所述拨叉同样垂直于所述第一TRAY盘搬运模组的输...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐文飞，刘红燕，
申请(专利权)人：苏州润弘安创自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：