基于光频域干涉的光纤器件分布式双向偏振测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于光频域干涉的光纤器件分布式双向偏振测量装置，属于光纤测量技术领域，包括可调谐激光源模块、待测器件模块、光频域干涉反射测量模块、光频域干涉透射测量模块、信号采集分析模块，其特征是：使用线性扫频激光作为问询光，问询光经过起偏器后注入待测光纤器件，其中的瑞利散射光经过起偏器返回后注入光频域干涉反射测量模块中，而前向传输光和偏振耦合光则注入光频域干涉透射测量模块中，分别测得光纤器件的分布式瑞利散射谱和分布式偏振串扰谱，并使用互相关算法对其进行数据融合。该测试装置利用可调谐激光源快速的线性频率扫描，提升了测试速率和测量长度，快速获得器件的透射和反射信息，减少外界变化对测试结果的干扰。测试结果的干扰。测试结果的干扰。

【技术实现步骤摘要】
基于光频域干涉的光纤器件分布式双向偏振测量装置


[0001]本专利技术设计属于光纤测量
，具体涉及一种基于光频域干涉的光纤器件分布式双向偏振测量的装置

技术介绍

[0002]光频域测量技术是一种重要的分布式光纤测量和传感技术，主要是测量或监控沿光纤传输路径的空间分布和随时间变化的信号。光频域偏振测量技术(OFDP)和光频域反射技术(OFDR)分别是针对光学器件透射和反射性能测试的高精度分布式测量技术。
[0003]保偏光纤及光纤偏振器件内具有两个正交的特征轴，当光波经过其中的耦合点(例如熔接点，缺陷点，扰动点等)时，工作在主轴的光波会被耦合到正交轴上，这个现象被描述为偏振串音现象。光频域偏振测量技术(OFDP)通过可调谐激光源的频率线性扫描，实现不同偏振模式下的拍频干涉，是对偏振串音特性进行探测的重要技术，通过对偏振串扰的空间位置、偏振耦合的信号强度高精度分析，对偏振光学器件的性能进行测试评估。
[0004]光频域反射技术(OFDR)是一种基于光的背向散射进行的测量传感技术，光经过光链路中缺陷点如焊点，断点，机械接头点就会本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光频域干涉的光纤器件分布式双向偏振测量装置，包括可调谐激光源(101)、光频域干涉反射测量模块(2)、待测器件模块(3)、光频域干涉透射测量模块(4)和信号采集分析模块(5)，其特征在于：可调谐激光源(101)产生波长随时间变化的线性扫频连续光作为问询光，注入第一耦合器(201)并被分成两束，一束作为参考光注入第一耦合器第一输出端(201b)，另一束作为测试光注入第一耦合器第二输出端(201a)，经过三端口环行器第一端口(202a)进入三端口环行器(202)，从三端口环行器第二端口(202b)输出到待测器件模块(3)，其中产生瑞利散射光(303a)和偏振耦合光(303b)，瑞利散射光(303a)注入光频域干涉反射测量模块(2)；偏振耦合光(303b)注入光频域干涉透射测量模块(4)；采集卡(501)对光频域干涉反射测量模块(2)和光频域干涉透射测量模块(4)的干涉信号进行数据同步采集，然后通过快速傅里叶变换(502)，再将信号输入瑞利散射信息获取模块(503)和偏振串扰信息获取模块(504)，获得分布式瑞利散射谱(510)和分布式偏振串扰谱(511)，然后在透反射数据融合模块(505)中，通过算法算出对应瑞利散射光程差和偏振串扰光程差错位量Δx，通过偏振串扰光程差加上错位量Δx，对齐对应瑞利散射光程差和偏振串扰光程差，得到器件的透射和反射特性信息。2.根据权利要求1所述的待测器件模块(3)，其特征在于：线性扫频连续光依次经起偏器输入尾纤(301a)、起偏器(301)、起偏器输出尾纤(301b)注入保偏待测器件(303)，其中产生的瑞利散射光(303a)经过起偏器输出尾纤(301b)注入起偏器(301)，再经起偏器输入尾纤(301a)输出；保偏待测器件(303)产生的偏振耦合光(303b)经过检偏器输入尾纤(302a)注入检偏器(302)，再经检偏器输出尾纤(302b)输出；起偏器输出尾纤(301b)，保偏待测器件(30...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨军，黄明阳，李培炯，喻张俊，徐鹏柏，温坤华，王云才，秦玉文，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：