一种应用于光线偏振研究的测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种应用于光线偏振研究的测量装置，包括：安装架，放置在实验台上；检偏器，通过支撑架安装在安装架的一侧，可使得光线在通过检偏器后被分辨；波片，通过连接架安装在安装架上位于检偏器的一侧，可使得光线通过波片后被检偏器分辨；传动组件，安装在支撑架与连接架之间，通过推动所述检偏器，可使得波片被推动至检偏器同一水平面，进而使得检偏器与波片同步测试光线种类，本发明专利技术可以通过传动机构只转动检偏器就可以推动波片至待测位置，进而研究人员只需单手操作，操作较为简便，方便研究人员独立的光线偏振的研究。方便研究人员独立的光线偏振的研究。方便研究人员独立的光线偏振的研究。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于光线偏振研究的测量装置


[0001]本专利技术涉及光线偏振测量
，具体为一种应用于光线偏振研究的测量装置。

技术介绍

[0002]光的干涉和衍射现象说明了光具有波动性。光的偏振和光学各向异性晶体中的双折射现象进一步证实了光的横波性。振动方向对于传播方向的不对称性叫做偏振，它是横波区别于纵波的一个最明显的标志，只有横波才有偏振现象，干涉和衍射是各种波动都具有的现象，无论是纵波还是横波，都会产生干涉和衍射。因此，我们常常根据干涉或衍射是否能发生来鉴别某种物质或某种运动形式是否具有波动性质。但是，由衍射和干涉的现象无法鉴别某种波动是纵波还是横波。纵波和横波的区别表现在另一类现象上，即偏振现象，按照偏振特征，光波可分为自然光、部分偏振光、线偏振光、圆偏振光和椭圆偏振光5种。
[0003]对于光线偏振现象，研究人员需要对其光线进行测量，现有的测量方式是通过将待测光源穿过检偏器，通过转动检偏器而形成的光线亮度而分辨为哪种偏振光，对于圆形偏振光和椭圆偏振光、自然光和部分偏振光，还得在检偏器的前端加入一个1/4的波片，随后需要单独转动检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于光线偏振研究的测量装置，其特征在于：包括：安装架（1），放置在实验台上；检偏器（2），通过支撑架（3）安装在安装架（1）的一侧，可使得光线在通过检偏器（2）后被分辨；波片（4），通过连接架（5）安装在安装架（1）上位于检偏器（2）的一侧，可使得光线通过波片（4）后被检偏器（2）分辨；传动组件（7），安装在支撑架（3）与连接架（5）之间，通过推动所述检偏器（2），可使得波片（4）被推动至检偏器（2）同一水平面，进而使得检偏器（2）与波片（4）同步测试光线种类。2.根据权利要求1所述的一种应用于光线偏振研究的测量装置，其特征在于：所述传动组件（7）包括安装在检偏器（2）外壳外侧的齿环（71），所述支撑架（3）内可转动的连接有转轴（72），所述转轴（72）的一端设有可被齿环（71）推动并转动的齿轮（73），所述转轴（72）的另一端设有可推动波片（4）外壳插入连接架（5）内的推板（12），通过推动所述检偏器（2），使得齿环（71）推动齿轮（73）转动，进而使得波片（4）被推动至连接架（5）内。3.根据权利要求2所述的一种应用于光线偏振研究的测量装置，其特征在于：所述连接架（5）包括安装在安装架（1）顶部的安装板（51），所述安装板（51）的顶部设有轨道（52），所述波片（4）外壳的外侧设有连接环（10），所述波片（4）在转动后可插入轨道（52）内，所述连接环（10）的表面开设有插槽（11），所述推板（12）的一侧设有可插入插槽（11）内将推板（12）连接环（10）相对连接的插板（13），通过将所述插板（13）插入连接环（10）与推板（12）之间，使得推板（12）推动连接环（10）进入两个轨道（52）之间。4.根据权利要求3所述的一种应用于光线偏振研究的测量装置，其特征在于：所述插板（13）的一侧设有连接绳（14），所述连接绳（14）将插板（13）连接在推板（12）上，使得插板（13）在拔出插槽（11）后不与推板（12）分离。5.根据权利要求3所述的一种应用于光线偏振研究的测量装置，其特征在于：所述轨道（52）位于插板（13）的一侧设有顶出机构（8），所述顶出机构（8）包括安装在两个轨道（52...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭菊阳，
申请(专利权)人：深圳市众安邦智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：