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本发明公开了一种应用于光线偏振研究的测量装置，包括：安装架，放置在实验台上；检偏器，通过支撑架安装在安装架的一侧，可使得光线在通过检偏器后被分辨；波片，通过连接架安装在安装架上位于检偏器的一侧，可使得光线通过波片后被检偏器分辨；传动组件，安...
该专利属于深圳市众安邦智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市众安邦智能科技有限公司授权不得商用。

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