一种基于匹配校正光频域干涉的分布式双向偏振测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基于匹配校正光频域干涉的分布式双向偏振测量装置，属于光纤测量领域。该装置包括可调谐激光源、光频域干涉反射测量模块、光频域干涉透射测量模块、待测器件模块、第一辅助干涉仪模块、第二辅助干涉仪模块、信号处理模块；激光源输出的连续光作为问询光注入待测器件模块，其中的瑞利散射光返回注入光频域干涉反射测量模块中，而前向传输光和偏振耦合光则注入光频域干涉透射测量模块中，经过第一辅助干涉仪、第二辅助干涉仪匹配校正扫频非线性后，分别获得光纤器件的分布式瑞利散射谱、分布式偏振串扰谱。该装置利用多个具有不同光程差的辅助干涉仪匹配校正扫频非线性，提升了系统的空间分辨率，快速获得光纤器件的透反射信息。纤器件的透反射信息。纤器件的透反射信息。

【技术实现步骤摘要】
一种基于匹配校正光频域干涉的分布式双向偏振测量装置


[0001]本专利技术属于分布式光纤测量
，涉及的是一种光纤器件的分布式透反射性能测量装置。

技术介绍

[0002]分布式光纤测量技术由于具有同时获取器件的空间上被测量分布信息的能力，对光纤器件的高精度测量与评估方面是白光干涉测量原理与技术的一个重要应用，其中光频域偏振(OFDP)测量技术和光频域反射(OFDR)测量技术是分别针对光纤器件的透射特性和反射特性进行测量的高精度分布式测量技术。
[0003]光频域偏振(OFDP)测量技术是由可调谐激光源对光频进行线性扫描，对待测器件偏振串音的强度和位置进行高精度的测量，从而测量与评估偏振光学器件。
[0004]光频域反射(OFDR)测量技术是基于光外差探测技术，通过光纤瑞利散射的背向反射作用，应用于各种范围的高精度测量具有大动态范围，由此得到光纤器件内部的反射信息。
[0005]分布式光纤测量技术可真实描述光信号在光纤光路中的透射和反射行为，尤其适合于对光纤器件、元件，以及高精度光纤传感光路进行测量和评估。其具有模块简本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于匹配校正光频域干涉的分布式双向偏振测量装置，包括可调谐激光源(1)、光频域干涉反射测量模块(2)、光频域干涉透射测量模块(3)、待测器件模块(4)、信号处理模块(5)、第一辅助干涉仪模块(6)、第二辅助干涉仪模块(7)，其特征是：可调谐激光源(1)发出的连续光经第一耦合器(102)分成两束，分别进入第二耦合器(201)与第三耦合器(203)中，第二耦合器(201)将光信号分成两束，一束作为待测光注入第二耦合器第一输出端(211)，经环行器第一端口(202a)进入三端口环行器(202)中，由环行器第二端口(202b)注入待测器件模块(4)，其分别产生瑞利散射光(404a)和偏振耦合光(404b)，瑞利散射光(404a)返回注入光频域干涉反射测量模块(2)中，由第一采集卡(210)接收，前向传输光和偏振耦合光(404b)注入光频域干涉透射测量模块(3)中，由第二采集卡(209)接收，另一束光作为参考光注入第二耦合器第二输出端(212)；第三耦合器(203)将光信号分别注入第一辅助干涉仪模块(6)和第二辅助干涉仪模块(7)中，第一辅助干涉仪模块(6)的输出信号由第一采集卡(210)接收，并校正光频域干涉反射测量模块(2)中的扫频非线性，第二辅助干涉仪模块(7)的输出信号由第二采集卡(209)接收，并校正光频域干涉透射测量模块(3)中的扫频非线性；最后由信号处理模块(5)对干涉信号进行测量，经过快速傅里叶变化(501)和透反射数据融合(502)后，最后同时得到待测器件的透射和反射信息。2.根据权利要求1所述的待测器件模块(4)，其特征是：由可调谐激光源(1)输出的光信号依次经过起偏器输入尾纤(403a)、起偏器(403)，由起偏器尾纤(403b)注入待测器件(401)中，再经过检偏器尾纤(405a)、检偏器(405)，由检偏器输出尾纤(405b)输出，其中起偏器尾纤(403b)、待测器件(401)、检偏器尾纤(405a)对应的光程差为S
FUT
。3.根据权利要求2所述的起偏器(403)和检偏器(405)，其特征是：起偏器(403)的起偏角度是0
°
、检偏器(205)的检偏角度是45
°
；起偏器输入尾纤(403a)是单模光纤，起偏器尾纤(403b)是保偏光纤；检偏器输入尾纤(405a)是保偏光纤，检偏器输出尾纤(405b)是单模光纤。4.根据权利要求1中所述光频域干涉反射测量模块(2)，其特征是：瑞利散射光(404a)从环行器第三端口(...

【专利技术属性】
技术研发人员：温坤华，李培炯，黄明阳，喻张俊，杨军，徐鹏柏，王云才，秦玉文，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：