一种内孔缺陷检测光源制造技术

本实用新型专利技术公开了一种内孔缺陷检测光源，检测光源用于从被测工件内孔的上方或下方进行照射，灯板上形成多个发光区，发光区的发光面沿朝向被测工件内孔的中心轴的方向设置；沿灯板至被测工件的方向依次设有第一反射组件和第二反射组件，各发光区所形成的照射光线依次经过第一反射组件和第二反射组件的反射后，照射于被测工件的内孔壁上。本实用新型专利技术利用前述的光路设计，能够在一次拍摄中，得到被测工件的内孔壁表面特征的完整图像；此外，由于不需要将被测工件置入光源的内部进行缺陷检测，在节省流程时间、提高检测效率的同时，省去了用于将被测工件送料至光源内部的装置，降低了设备成本，也有效保护了被工件和检测光源。也有效保护了被工件和检测光源。也有效保护了被工件和检测光源。

【技术实现步骤摘要】
一种内孔缺陷检测光源


[0001]本技术涉及缺陷检测
，尤其涉及一种内孔缺陷检测光源。

技术介绍

[0002]为确保产品质量，在产品出厂之前需要对其进行缺陷检测，检测时，需要以检测光源照射于检测目标的表面，再利用成像装置成像，以得到包含检测目标的表面特征的图像。
[0003]由于检测时可能所涉及的检测目标物可能是平面，也可能是斜坡、凸起，或工件内孔。而对于工件内孔这样的检测目标，以往检测时需要在多个方向上设置多个同轴的检测光源和成像装置，在每个方向上使检测光源倾斜地射入工件的内孔壁，再依次利用成像装置成像。因此，目前对于工件内孔的缺陷检测流程较为繁琐，耗时过长，且工件摆放位置存在局限性，导致检测效率过低，难以适应市场要求。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供一种内孔缺陷检测光源，解决现有技术中在针对工件内孔进行缺陷检测时，由于工件摆放位置存在局限性，导致流程较为繁琐、耗时过长，进而检测效率过低，难以适应市场要求的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供以下的技术方案：
[0006]一种内孔缺陷检测光源，所述检测光源用于从被测工件内孔的上方或下方进行照射，包括：
[0007]灯板，所述灯板上设有多个灯珠，所述灯珠在所述灯板上分布形成多个发光区，所述发光区的发光面沿朝向被测工件内孔的中心轴的方向设置；
[0008]沿所述灯板至所述被测工件的方向依次设有：
[0009]第一反射组件，所述第一反射组件包括与所述多个发光区一一对应的多个第一反射面，所述第一反射面沿远离被测工件内孔的中心轴的方向设置；
[0010]第二反射组件，所述第二反射组件包括与所述第一反射面一一对应的多个第二反射面，所述第二反射面沿朝向被测工件内孔的中心轴的方向设置；
[0011]各所述发光区所形成的照射光线依次经过所述第一反射面和所述第二反射面的反射后，照射于所述被测工件的内孔壁上。
[0012]可选地，所述发光区呈扇环形，所述多个发光区组合形成圆台形的所述灯板；
[0013]所述多个灯珠均布于所述灯板的内侧壁。
[0014]可选地，所述的缺陷检测光源，包括光源外壳，所述光源外壳内设有光源支架，所述灯板设于所述光源支架上。
[0015]可选地，所述第一反射组件包括第一镜片底座，所述第一镜片底座上设有多个第一反射镜片，所述多个第一反射镜片依次连接形成棱台状；
[0016]所述第一反射面设于所述第一反射镜片的外侧面。
[0017]可选地，所述光源外壳内位于所述灯板的下方设有第二镜片底座，所述镜片底座
上的设有多个第二反射镜片，所述多个第二反射镜片依次连接形成棱柱状；
[0018]所述第二反射面设于所述第二反射镜片的内侧面。
[0019]可选地，所述第一镜片底座的外侧设有至少两个连接柱，所述两个连接柱位于同一直线上；
[0020]所述第一反射组件位于所述多个第二反射镜片围绕形成的空间内，且所述第一反射组件通过所述连接柱固定于所述第二反射组件上。
[0021]可选地，所述连接柱远离所述第一镜片底座的一端呈尖端状，所述尖端的形状与相邻的两个所述第二反射面形成的内夹角的形状相匹配；
[0022]所述连接柱远离所述第一镜片底座的一端固定于相邻的两个所述第二反射面形成的内夹角内。
[0023]可选地，所述灯板靠近所述被测工件的一侧设有扩散板，所述扩散板的形状与所述灯板相匹配。
[0024]可选地，所述光源支架的顶部设有用于安装成像相机的相机支架。
[0025]可选地，在垂直于被测工件内孔的中心轴的方向上，所述第一反射组件和所述第二反射组件的部分重合。
[0026]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0027]本技术提供了一种内孔缺陷检测光源，利用灯板上的多个发光区形成各个方向上的照射光线，并经过第一反射面和第二反射面的反射后照射于被测工件的内孔壁上，从而能够在一次拍摄中，得到被测工件的内孔壁表面特征的完整图像，省去了繁琐的缺陷检测流程；此外，由于不需要将被测工件深入光源内部进行缺陷检测，克服了工件摆放位置在光源内部的局限性，在节省流程时间、提高检测效率的同时，省去了在设备中增加送料至光源内部的部件，降低了设备成本，也有效保护了被工件和检测光源。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0029]图1为本技术提供的一种内孔缺陷检测光源的光路原理示意图；
[0030]图2为本技术提供的一种内孔缺陷检测光源的爆炸图。
[0031]上述图中：10、光源外壳；11、光源支架；111、光源周圈；12、灯板；121、灯珠；122、光源线；13、扩散板；14、第一反射组件；141、第一反射镜片；142、第一镜片底座；143、连接柱；15、第二反射组件；151、第二反射镜片；152、第二镜片底座；16、顶部安装板；30、被测工件。
具体实施方式
[0032]为使得本技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施
例，都属于本技术保护的范围。
[0033]在本技术的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
[0034]此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本技术的限制。
[0035]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。
[0036]请结合参考图1和图2，本技术实施例提供了一种内孔缺陷检测光源，包括光源外壳10，光源外壳10内设有光源支架11，灯板12设于光源支架11上。光源支架11的顶部设有用于安装成像相机的顶部安装板16。
[0037]该检测光源用于从被测工件30内孔的上方或下方进行照射，再利用成像相机进行拍摄，从而获得具有被测工件30的内孔壁表面特征的图像。可以理解的是，该缺陷检测光源可以应用于螺母的内螺纹检测，也可以应用于其他具有内孔的工件检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内孔缺陷检测光源，其特征在于，所述检测光源用于从被测工件的内孔的上方或下方进行照射，包括灯板，所述灯板上设有多个灯珠，所述灯珠在所述灯板上分布形成多个发光区，所述发光区的发光面沿朝向被测工件内孔的中心轴的方向设置；沿所述灯板至所述被测工件的方向依次设有：第一反射组件，所述第一反射组件包括与所述多个发光区一一对应的多个第一反射面，所述第一反射面沿远离被测工件内孔的中心轴的方向设置；第二反射组件，所述第二反射组件包括与所述第一反射面一一对应的多个第二反射面，所述第二反射面沿朝向被测工件内孔的中心轴的方向设置；各所述发光区所形成的照射光线依次经过所述第一反射面和所述第二反射面的反射后，照射于所述被测工件的内孔壁上。2.根据权利要求1所述的内孔缺陷检测光源，其特征在于，所述发光区呈扇环形，所述多个发光区组合形成的所述灯板呈圆台形；所述多个灯珠均布于所述灯板的内侧壁。3.根据权利要求1所述的内孔缺陷检测光源，其特征在于，包括光源外壳，所述光源外壳内设有光源支架，所述灯板设于所述光源支架上。4.根据权利要求3所述的内孔缺陷检测光源，其特征在于，所述第一反射组件包括第一镜片底座，所述第一镜片底座上设有多个第一反射镜片，所述多个第一反射镜片依次连接形成棱台状；所述第一反射面设于所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈灵铭，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：