一种可替换式电路板测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可替换式电路板测试探针，包括探针头部、探针中部和探针尾部，探针中部用于装存并替换备用探针头部，探针中部包括旋转仓，旋转仓空套在T型连接轴上，T型连接轴分别连接上端盖和下端盖，上端盖上开设有连接通孔，连接通孔与探针尾部相适配，下端盖上开设有检测通孔，检测通孔与探针头部相适配，旋转仓内开设有容置腔，容置腔内装有支撑弹簧，支撑弹簧内装有可替换的探针头部。本实用新型专利技术通过设探针中部，可及时更换不够灵敏或损坏的探针头部，具体通过旋转探针中部，然后下压探针尾部，即可更换使用不同的探针头部，避免了人工捏着探针手动更换探针头部使其易沾异物，导致测试误差大且效率低的问题。导致测试误差大且效率低的问题。导致测试误差大且效率低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种可替换式电路板测试探针


[0001]本技术属于半导体测试
，具体为一种可替换式电路板测试探针。

技术介绍

[0002]电路板又称为印刷线路板或印刷电路板，是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的印刷电路板。随着电子产品的广泛应用，电路板作为电子产品的重要元件被大量的生产，而电路板的检测是电路板生产过程中的重要环节之一，这就不可避免地会用到一些信号测试设备。大多数信号测试设备都是通过将测试信号施加到测试探针上，然后将测试探针手动插接到相应的测试位置进行信号测试。
[0003]测试探针在测试过程中经常会发生损坏，导致测试结果不准确，因此，大多数测试设备都需要对探针进行频繁更换。目前对探针的更换存在着易造成探针头沾上异物，导致测试误差较大、测试效率偏低的问题。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本技术目的是提供一种可替换式电路板测试探针，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种可替换式电路板测试探针，包括探针头部、探针中部和探针尾部，所述探针中部用于装存并替换备用的探针头部，所述探针尾部用于连接探针头部与检测设备并用于将探针头部顶出至所述探针中部外与电路板连接，所述探针中部包括旋转仓、T型连接轴、上端盖、容置腔、支撑弹簧和下端盖，所述旋转仓空套在所述T型连接轴上，所述T型连接轴分别连接所述上端盖和所述下端盖，所述上端盖上开设有连接通孔，所述连接通孔与所述探针尾部相适配，所述下端盖上开设有检测通孔，所述检测通孔与所述探针头部相适配，所述旋转仓内开设有容置腔，所述容置腔内装有支撑弹簧，所述支撑弹簧内装有可替换的探针头部。
[0006]采用上述技术方案，通过设置用于装存并替换备用探针头部的探针中部，可以及时更换不够灵敏或损坏的探针头部，具体通过旋转探针中部，然后下压探针尾部，即可更换使用不同的探针头部，避免了人工捏着探针手动更换探针头部使其易沾异物，导致测试误差大且效率低的问题。其中探针中部由绝缘材料制成，优选由橡胶材质制成，橡胶材质既使得探针具有良好的绝缘效果，也因其自身的弹性能够保护探针头部。
[0007]进一步地，所述容置腔内壁上设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块环，所述滑块环连接所述支撑弹簧的一端，所述支撑弹簧的另一端连接所述容置腔内壁。
[0008]采用上述技术方案，通过支撑弹簧支撑滑块环，当支撑弹簧收缩时，滑块环沿着滑槽滑动，既通过滑块环加强了支撑弹簧与容置腔的连接，也避免了支撑弹簧周向运动影响探针头部与探针尾部的连接。
[0009]进一步地，所述上端盖设有周向定位块，所述旋转仓上设有周向定位槽，所述周向定位块与所述周向定位槽相适配。
[0010]采用上述技术方案，通过周向定位块和周向定位槽的设置限制旋转仓的周向运动，避免测试过程中旋转仓的转动，影响探针头部与探针尾部的连接，进而影响测试结果的准确性。
[0011]进一步地，所述下端盖上设有螺纹槽，所述T型连接轴依次穿过所述上端盖、所述旋转仓与所述螺纹槽螺纹连接。
[0012]采用上述技术方案，使得探针中部为可拆卸连接，便于受损探针头部的更换，也便于探针中部的连接紧固。优选的，所述上端盖上也设螺纹槽，使得T型连接轴与上、下端盖均螺纹连接，便于上、下端盖的紧固、拆卸。更优选的，上端盖和下端盖的螺纹方向相反，便于上端盖在T型连接轴上固定的情况下，只松动下端盖即可松动并旋转旋转仓，更换探针头部。
[0013]进一步地，所述旋转仓、所述上端盖和所述下端盖的外侧面均设有指示区。
[0014]采用上述技术方案，在旋转仓上设置指示区便于通过指示区确定旋转仓的旋转角度，进而确定其内部的探针头部情况，如了解下一个可替换的探针头部在哪个位置，如确定其内的探针头部是否全部受损需要更换，等等。在上端盖和下端盖上设置指示区，便于通过上、下端盖的指示区与旋转仓指示区的对应，确保容置腔中心、连接通孔中心与检测通孔中心三心共线。
[0015]进一步地，所述旋转仓外圆周设有凹槽，所述下端盖外圆周设有凸缘，所述凹槽与所述凸缘相适配。凹槽与凸缘的设置便于旋转仓与下端盖的装配，也便于通过凹槽与凸缘引导旋转仓的转动，限定其水平滑动，使得探针头部与探针尾部的连接稳固。
[0016]进一步地，所述下端盖底部设有荧光层。荧光层的设置便于提供光线，检测探针头部的受损情况。
[0017]进一步地，所述探针头部包括依次连接的针帽、针杆和针头，所述针帽底部与所述支撑弹簧的端部连接，所述针帽滑动穿设于所述容置腔中，所述针杆穿设于所述支撑弹簧内部。
[0018]更进一步地，所述针帽顶部开设有圆锥槽，所述探针尾部两端均设置成圆锥体，一端与所述圆锥槽相适配，另一端便于与检测设备连接。
[0019]更进一步地，所述针杆为圆柱体，所述针头为圆球体，所述圆球体的中心相对于所述圆柱体的中心线偏心设置。偏心设置使得测试过程中针头与电路板的接触点不仅限于圆球底部正中的点，也可是圆球侧面的任一点。而圆球体的针头在电路板表面移动检测时能够避免对电路板产生刮痕。
[0020]本技术具有以下有益效果：
[0021]1、本技术通过设置用于装存并替换备用探针头部的探针中部，可以及时更换不够灵敏或损坏的探针头部，具体通过旋转探针中部，然后下压探针尾部，即可更换使用不同的探针头部，避免了人工捏着探针手动更换探针头部使其易沾异物，导致测试误差大且效率低的问题。
[0022]2、本技术通过螺纹槽的设置使得探针中部为可拆卸连接，便于受损探针头部的更换，也便于探针中部的连接紧固。
[0023]3、本技术通过滑块环和滑槽避免支撑弹簧的周向运动，通过周向定位块和周向定位槽的设置限制旋转仓的周向运动，通过凹槽与凸缘的设置限定旋转仓的水平滑动，
前述众细节设置避免测试过程中与探针头部直接或间接接触的部件运动，确保探针头部与探针尾部的连接稳固，确保测试结果准确。
[0024]4、本技术通过针头与针杆的偏心设置使得测试过程中针头与电路板的接触点不仅限于圆球针头底部正中的点，也可是圆球针头侧面的任一点，扩大测试接触范围，保证连接。
附图说明
[0025]图1为本技术一种可替换式电路板测试探针剖视图；
[0026]图2为图1中滑块环俯视图。
[0027]图中：1、探针头部；101、针帽；102、针杆；103、针头；104、圆锥槽；2、探针中部；201、旋转仓；202、T型连接轴；203、上端盖；204、容置腔；205、支撑弹簧；206、下端盖；207、连接通孔；208、周向定位块；209、周向定位槽；210、螺纹槽；211、指示区；212、凹槽；213、凸缘；214、荧光层；215、检测通孔；216、滑块环；217、滑槽；3、探针尾部。
具体实施方式
[0028]下面结合附图和实施例对本技术进行详细的说明。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可替换式电路板测试探针，包括探针头部(1)、探针中部(2)和探针尾部(3)，其特征在于，所述探针中部(2)用于装存并替换备用的探针头部(1)，所述探针尾部(3)用于连接探针头部(1)与检测设备并用于将探针头部(1)顶出至所述探针中部(2)外与电路板连接，所述探针中部(2)包括旋转仓(201)、T型连接轴(202)、上端盖(203)、容置腔(204)、支撑弹簧(205)和下端盖(206)，所述旋转仓(201)空套在所述T型连接轴(202)上，所述T型连接轴(202)分别连接所述上端盖(203)和所述下端盖(206)，所述上端盖(203)上开设有连接通孔(207)，所述连接通孔(207)与所述探针尾部(3)相适配，所述下端盖(206)上开设有检测通孔(215)，所述检测通孔(215)与所述探针头部(1)相适配，所述旋转仓(201)内开设有容置腔(204)，所述容置腔(204)内装有支撑弹簧(205)，所述支撑弹簧(205)内装有可替换的探针头部(1)。2.根据权利要求1所述的一种可替换式电路板测试探针，其特征在于，所述容置腔(204)内壁上设有滑槽(217)，所述滑槽(217)内滑动连接有滑块环(216)，所述滑块环(216)连接所述支撑弹簧(205)的一端，所述支撑弹簧(205)的另一端连接所述容置腔(204)内壁。3.根据权利要求1所述的一种可替换式电路板测试探针，其特征在于，所述上端盖(203)设有周向定位块(208)，所述旋转仓(201)上设有周向定位槽(209)，所述周向定位块(208)与所述周向定位槽(209)相适配。4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙建新，谭世鹏，
申请(专利权)人：天津泰瑞斯科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：