本发明专利技术提供一种激光器的参数测试方法及装置，根据焦点所在水平面的光斑尺寸最小的特点，通过在预设焦距范围内以较大的粗寻步进长度确定焦距的大致范围，然后在焦距的大致范围内再以细寻步进长度确定焦距的精确范围，由此无需扫描每个平面中的每个点才能最终找到焦点，大大减少了焦距的测试时间，提高了测试效率。率。率。
【技术实现步骤摘要】
激光器的参数测试方法及装置
[0001]本专利技术涉及激光测试领域，尤其涉及一种激光器的参数测试方法及装置。
技术介绍
[0002]传统的测试半导体激光器（Laser Diode，LD）焦距的方式，如图1所示，其中，1为半导体激光器，2为光纤，3为激光探测器，半导体激光器1发出的激光束通过光纤2耦合出射至激光探测器，通常是通过手动耦合台或自行耦合台，将半导体激光器1出射的激光束通过光纤2耦合并经过聚焦系统（图中未示出）出射。利用激光束在激光器的焦点位置形成最小尺寸的光斑，并达到最大光功率的特点，通过扫描激光器通过光纤耦合射出的激光束在不同高度下的水平面中的各个点的光功率，从而对激光器的焦点进行定位和测量，以最终获取激光器的焦距。但是，这种方法需要测量不同高度下的多个平面中的各个点的光功率，才能找到光功率最大的点，因此效率很低，严重影响测试效率。
[0003]因此，本专利技术提出一种激光器的参数测试方法及装置，以更快的速度找到激光器的焦点，提高测试效率。
技术实现思路
[0004]为了解决上述问题，本专利技术实施例提供一种激光器的参数测试方法及装置。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种激光器的参数测试方法，包括：根据预设焦距精度，确定细寻步进长度；根据所述预设焦距范围，确定粗寻步进长度，其中，所述粗寻步进长度大于所述细寻步进长度；在所述预设焦距范围内，以所述粗寻步进长度在垂直方向逐步递进获取多个不同的第一高度下的水平面中的光斑尺寸；若连续三个不同的第一高度下的水平面中的光斑尺寸的变化趋势从由大变小转换为由小变大，则在所述连续三个不同的第一高度所覆盖的高度范围内，以所述细寻步进长度在垂直方向逐步递进获取多个不同的第二高度下的水平面中的光斑尺寸；若连续三个不同的第二高度下的水平面中的光斑尺寸的变化趋势从由大变小转换为由小变大，则以所述连续三个不同的第二高度中的第二个第二高度下的水平面作为所述激光器的焦点所在水平面，以获取所述激光器的焦距。
[0006]在一些实施例中，该参数测试方法还包括：测量所述焦点所在水平面附近的多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸；根据多个不同的第三高度和多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸绘制拟合曲线，以修正所述激光器的焦点所在水平面的实际高度。
[0007]在一些实施例中，所述根据所述预设焦距范围，确定粗寻步进长度，具体包括：根据所述预设焦距范围、所述细寻步进长度，以及所述细寻步进长度和所述粗寻步进长度之间的关系，建立粗寻步数和细寻步数之和对应的总步数函数方程；
对所述总步数函数方程求导，以使得总步数最小，并获取最小总步数对应的粗寻步进长度。
[0008]在一些实施例中，获取激光束在各个不同高度下的水平面中的光斑尺寸，具体包括：通过红外相机拍摄激光束在不同高度下的水平面图像，并确定各个高度下的水平面中的光功率峰值位置；根据各个高度下的水平面中的所述光功率峰值位置，获取各个高度下的水平面中的光斑位置和光斑尺寸。
[0009]在一些实施例中，该参数测试方法还包括：根据所述焦点的三维坐标，以及与另一个与所述焦点所在水平面不同高度的水平面中的光斑边缘的三维坐标，获取所述激光器的水平方向发散角和垂直方向发散角。
[0010]在一些实施例中，该参数测试方法还包括：根据所述焦点的三维坐标，以及与所述焦点所在水平面垂直的平面中的任意一点的三维坐标，获取所述激光器的水平方向偏角和垂直方向偏角。
[0011]第二方面，本专利技术实施例提供一种激光器的参数测试装置，包括：细寻步进长度确定模块，用于根据预设焦距精度，确定细寻步进长度；粗寻步进长度确定模块，用于根据所述预设焦距范围，确定粗寻步进长度；粗寻模块，用于在所述预设焦距范围内，以所述粗寻步进长度在垂直方向逐步递进获取多个不同的第一高度下的水平面中的光斑尺寸；细寻模块，用于若连续三个不同的第一高度下的水平面中的光斑尺寸的变化趋势从由大变小转换为由小变大，则在所述连续三个不同的第一高度所覆盖的高度范围内，以所述细寻步进长度在垂直方向逐步递进获取多个不同的第二高度下的水平面中的光斑尺寸；焦距获取模块，用于若连续三个不同的第二高度下的水平面中的光斑尺寸的变化趋势从由大变小转换为由小变大，则以所述连续三个不同的第二高度中的第二个第二高度下的水平面作为所述激光器的焦点所在水平面，以获取所述激光器的焦距。
[0012]在一些实施例中，该参数测试装置还包括修正模块；所述修正模块用于测量所述焦点所在水平面附近的多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸；以及，根据多个不同的第三高度和多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸绘制拟合曲线，以修正所述激光器的焦点所在水平面的实际高度。
[0013]第三方面，本专利技术实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上所述的激光器的参数测试方法。
[0014]第四方面，本专利技术实施例提供一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上所述的激光器的参数测试方法。
[0015]本专利技术实施例提供的激光器的参数测试方法及装置，根据焦点所在水平面的光斑尺寸最小的特点，通过在预设焦距范围内以较大的粗寻步进长度确定焦距的大致范围，然后在焦距的大致范围内再以细寻步进长度确定焦距的精确范围，由此无需扫描每个平面中的每个点才能最终找到焦点，大大减少了焦距的测试时间，提高了测试效率。
附图说明
[0016]下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0017]图1为现有技术的耦合台的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的激光器的参数测试方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例提供的通过该激光器的参数测试方法扫描不同高度下的水平面的示意图；图4为本专利技术实施例提供的根据多个不同的第三高度和多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸绘制拟合曲线的示意图；图5为本专利技术实施例提供的激光器的参数测试方法测试发散角的示意图；图6为本专利技术实施例提供的激光器的参数测试方法测试偏角的示意图；图7为本专利技术实施例提供的激光器的参数测试装置的结构示意图；图8为本专利技术实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]目前测量激光器的焦距时，需要测量激光器射出的激光束在不同高度下的水平面中的各个点的光功率，才能找到光功率最大的点，从而找到激光器的焦点，这种方法效率很低，严重影响测试效率。
[0020]有鉴于此，如图2所示，本专利技术实施例提供一种激光器的参数测试方法，包括：S1、根据预设焦距精度，确定细寻步进长度；具体地，激光器的焦距精度本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种激光器的参数测试方法，其特征在于，包括：根据预设焦距精度，确定细寻步进长度；根据所述预设焦距范围，确定粗寻步进长度，其中，所述粗寻步进长度大于所述细寻步进长度；在所述预设焦距范围内，以所述粗寻步进长度在垂直方向逐步递进获取多个不同的第一高度下的水平面中的光斑尺寸；若连续三个不同的第一高度下的水平面中的光斑尺寸的变化趋势从由大变小转换为由小变大，则在所述连续三个不同的第一高度所覆盖的高度范围内，以所述细寻步进长度在垂直方向逐步递进获取多个不同的第二高度下的水平面中的光斑尺寸；若连续三个不同的第二高度下的水平面中的光斑尺寸的变化趋势从由大变小转换为由小变大，则以所述连续三个不同的第二高度中的第二个第二高度下的水平面作为所述激光器的焦点所在水平面，以获取所述激光器的焦距。2.如权利要求1所述的激光器的参数测试方法，其特征在于，还包括：测量所述焦点所在水平面附近的多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸；根据多个不同的第三高度和多个不同的第三高度下的水平面中的光斑尺寸绘制拟合曲线，以修正所述激光器的焦点所在水平面的实际高度。3.如权利要求1所述的激光器的参数测试方法，其特征在于，所述根据所述预设焦距范围，确定粗寻步进长度，具体包括：根据所述预设焦距范围、所述细寻步进长度，以及所述细寻步进长度和所述粗寻步进长度之间的关系，建立粗寻步数和细寻步数之和对应的总步数函数方程；对所述总步数函数方程求导，以使得总步数最小，并获取最小总步数对应的粗寻步进长度。4.如权利要求1所述的激光器的参数测试方法，其特征在于，获取激光束在各个不同高度下的水平面中的光斑尺寸，具体包括：通过红外相机拍摄激光束在不同高度下的水平面图像，并确定各个高度下的水平面中的光功率峰值位置；根据各个高度下的水平面中的所述光功率峰值位置，获取各个高度下的水平面中的光斑位置和光斑尺寸。5.如权利要求1所述的激光器的参数测试方法，其特征在于，还包括：根据所述焦点的三维坐标，以及另一个与所述焦点所在水平面不同高度的水平面中的光斑边缘的三维坐标，获取所述激...
【专利技术属性】
技术研发人员：马超，李博，许德玉，黄秋元，周鹏，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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