用于错误校正码结构的解码方案制造技术

本文中所描述的各种实施方案涉及用于通过解码码字以确定建议校正来在闪存装置中执行错误校正的系统及方法。另外，确定基于多个组件码中的第一组件码获得的第一组所述建议校正是否与基于所述多个组件码中的第二组件码获得的第二组所述建议校正一致。基于所述第一组所述建议校正与所述第二组所述建议校正是否一致来选择接受所述第一组所述建议校正或拒绝所述第一组所述建议校正中的一者。或拒绝所述第一组所述建议校正中的一者。或拒绝所述第一组所述建议校正中的一者。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于错误校正码结构的解码方案


[0001]本公开大体上涉及用于闪存装置的错误校正码(ECC)结构的解码方案的系统及方法。

技术介绍

[0002]闪存装置(例如NAND闪存装置)基于闪存装置的电压阈值启用页面读取。由于编程及读取期间的不同噪声(例如NAND噪声)及干扰源，存储于闪存装置中的信息位可发生错误。此类错误可由于编程错误、非最佳阈值读取、滞留/读取干扰应力等等中的一或多者。强ECC可允许快速编程(具有可能高编程错误)且在高应力条件下及/或使用低复杂性数字信号处理(DSP)读取。
[0003]码率由码字的信息内容(称为“有效负载”)与码字的总大小的比率定义。例如，对于含有k个位及r个冗余位的代码，码率R
c
由定义。常规编码方法不太适合支持具有高码率的代码用于硬解码及软解码两者。例如，具有高码率(例如0.9)的常规低密度奇偶校验(LDPC)码具有相当长码长，从而导致复杂且高成本实施方案。

技术实现思路

[0004]在某些方面中，本专利技术实施方案涉及使用具有多个组件码的ECC结构解码在闪存装置中编程的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于在闪存装置中错误校正的方法，其包括：通过基于多个组件码解码码字来确定建议校正；确定基于所述多个组件码中的第一组件码获得的第一组所述建议校正是否与基于所述多个组件码中的第二组件码获得的第二组所述建议校正一致；及基于所述第一组所述建议校正与所述第二组所述建议校正是否一致来选择接受所述第一组所述建议校正或拒绝所述第一组所述建议校正中的一者。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述码字对应于具有输入位的输入有效负载；所述输入位被组织成伪三角矩阵；所述伪三角矩阵的每一行或列与相邻行或列相差两个或更多个位；且所述输入位基于基于所述伪三角矩阵将所述输入位中的每一者映射到所述多个组件码中的两者或更多者来使用所述多个组件码编码。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述伪三角矩阵包括多个块；所述多个块中的每一者包括所述输入位中的两者或更多者；所述第一组件码及所述第二组件码编码所述多个块中的相同块。4.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一组所述建议校正是否与所述第二组所述建议校正一致包括响应于以下而确定所述第一组所述建议校正与所述第二组所述建议校正一致：确定所述第一组所述建议校正及所述第二组所述建议校正包括相同数目个建议校正；确定所述第一组所述建议校正包括建议校正；及确定所述第二组所述建议校正包括所述相同建议校正。5.根据权利要求4所述的方法，其进一步包括响应于通过至少一个位(或根据阈值)确定所述第一组所述建议校正与所述第二组所述建议校正一致而选择接受所述第一组所述建议校正及所述第二组所述建议校正。6.根据权利要求4所述的方法，其中将所述相同两个或更多个位映射到所述第一组件码及所述第二组件码两者。7.根据权利要求4所述的方法，其中所述相同数目个所述建议校正是所述第一组件码及所述第二组件码的错误校正能力。8.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一组所述建议校正是否与所述第二组所述建议校正一致包括响应于以下而确定所述第一组所述建议校正与所述第二组所述建议校正不一致：确定所述第一组所述建议校正包括对映射到所述第一组件码及所述第二组件码两者的两个或更多个位的建议校正；及确定所述第二组所述建议校正是针对除映射到所述第一组件码及所述第二组件码两者的所述两个或更多个位之外的位。9.根据权利要求8所述的方法，所述第一组所述建议校正包括等于所述第一组件码的错误校正能力的建议校正数目。10.根据权利要求8所述的方法，其进一步包括响应于确定所述第一组所述建议校正与
所述第二组所述建议校正不一致而拒绝所述第一组所述建议校正。11.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一组所述建议校正是否与所述第二组所述建议校正一致包括响应于以下而确定所述第一组所述建议校正与所述第二组所述建议校正不一致：确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾维，
申请(专利权)人：铠侠股份有限公司，
类型：发明
国别省市：