利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法技术

本申请提供一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其包括以下步骤：步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；步骤2、定义样品氯含量值为X_Cl，将I_Cl及I_Ge代入以下公式：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，得出X_Cl，其中A0、A1、A2及A3为预先使用所述X射线荧光光谱仪对多组已知氯含量的标准样品进行检测而确定的具体数值。本申请通过上述方法检测，可降低高硫样品中硫元素对氯元素的影响，得到的样品氯含量结果更加精确。氯含量结果更加精确。氯含量结果更加精确。

【技术实现步骤摘要】
利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法


[0001]本申请涉及一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法。

技术介绍

[0002]单波长色散X射线荧光光谱仪是一种利用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X射线管发射的X射线特征峰单色化并聚焦于测试样品表面，激发样品中元素产生荧光X射线，荧光X射线再经次级全聚焦型双曲面弯晶衍射，并聚焦到探测器上进行探测，由特征X射线荧光强度对单一元素含量进行定量分析的仪器。通过全聚焦双曲面弯晶的衍射，极大降低了X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射构成荧光光谱的连续散射背景，大幅提升了样品中特定元素的激发效率，待测元素X射线荧光通过次级双曲面弯晶衍射后，获得极佳的特定元素峰背比，元素的检出限更低。
[0003]现有的单波长色散X射线荧光光谱仪在分析样品中的氯含量时，如果样品中含有硫含量，会产生硫元素对氯元素的吸收效应即X射线激发样品中氯元素产生的荧光被硫元素吸收，导致氯元素荧光强度减少。样品中硫含量高于0.5％时，硫对氯的荧光强度吸收更显著，此时氯的荧光强度显著减弱，氯含量结果显著降低，会出现实际检测到的氯含量分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其特征在于，其包括以下步骤：步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；步骤2、定义样品氯含量值为X_Cl，将I_Cl及I_Ge代入以下公式：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，得出X_Cl，其中A0、A1、A2及A3为预先使用所述X射线荧光光谱仪对多组已知氯含量的标准样品进行检测而确定的具体数值。2.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述样品的硫含量大于0.5％。3.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述X射线荧光光谱仪的屏幕上显示步骤1中的I_Cl及I_Ge。4.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：通过软件程序执行上述公式的计算。5.根据权利要求4所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述软体程序的界面至少包括用于输入I_Cl及I_Ge的两个输入栏，和用于输出X_Cl的输出栏。6.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘小东，滕飞，贾少鹏，谭志勇，吴梅，
申请(专利权)人：北京安科慧生科技有限公司，
类型：发明
国别省市：