System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种三元锂中锂含量的测定方法技术_技高网

一种三元锂中锂含量的测定方法技术

技术编号:41179330 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-07 22:14
本发明专利技术提供一种三元锂中锂含量的测定方法,其包括以下步骤:步骤1.将三元锂粉末压制成压片样品;步骤2.使用X射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、镍、钴、锰的含量;步骤3.依据镍的含量推导出三氧化二镍的含量,依据钴的含量推导出三氧化二钴的含量,依据锰的含量推导出三氧化二锰的含量;步骤4.依据氧元素的含量、三氧化二镍的氧含量、三氧化二钴的氧含量及三氧化二锰的氧含量,推导氧化锂中的氧含量,进而得到氧化锂中的锂含量。本发明专利技术能够简便快速测出三元锂中的锂含量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种三元锂中锂含量的测定方法


技术介绍

1、锂电池具备安全性好、成本低、循环性能优等特点,是新能源汽车广泛采用的电池材料。其中三元锂离子电池正极材料生产的三大重要环节是混料磨料、高温烧结、粉碎分解,每个环节的控制和设备性能都会影响最终三元锂电池的性能,其中镍、钴、锰、锂的摩尔比是三元锂离子电池核心指标,也是生产控制主要指标。

2、常规采用电感耦合等离子体发射光谱(icpoes)方法分析各种元素含量,需要将样品溶解处理,步骤繁琐复杂,分析周期长,对生产质量控制滞后。行业需要一种快速、准确分析三元锂材料中主要金属元素离子摩尔比的测定方法。其中,镍、钴、锰的元素含量可以由x射线荧光光谱仪(xrf)直接测定,但x射线荧光光谱仪(xrf)不能直接测定锂的含量。

3、因此,需要对现有的三元锂中锂含量的测定方法进行改进。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种操作方便且快速检测三元锂中锂含量的测定方法。

2、具体地,本专利技术是通过如下技术方案实现的,一种三元锂中锂含量的测定方法,其包括以下步骤:步骤1.将三元锂粉末压制成压片样品;步骤2.使用x射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、镍、钴、锰的含量;步骤3.依据镍的含量推导出三氧化二镍的含量,依据钴的含量推导出三氧化二钴的含量,依据锰的含量推导出三氧化二锰的含量;步骤4.依据氧元素的含量、三氧化二镍的氧含量、三氧化二钴的氧含量及三氧化二锰的氧含量,推导氧化锂中的氧含量,进而得到氧化锂中的锂含量。>

3、依据本专利技术的一个实施例,步骤1中三元锂样品粉末的粒径小于100um。

4、依据本专利技术的一个实施例,步骤2中,x射线荧光光谱仪还同步测定压片样品中以下杂质元素的含量:钠、镁、铝、硅、磷、硫、氯、钾、钙、钛、铁、铜、锌。

5、依据本专利技术的一个实施例,所述x射线荧光光谱仪采用ag:lα射线及ge晶体制成的全聚焦型双曲面弯晶。

6、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本专利技术。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,其包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤1中三元锂样品粉末的粒径小于100um。

3.根据权利要求2所述的三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤2中,X射线荧光光谱仪还同步测定压片样品中以下杂质元素的含量:钠、镁、铝、硅、磷、硫、氯、钾、钙、钛、铁、铜、锌。

4.根据权利要求1所述的三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,所述X射线荧光光谱仪采用Ag:Lα射线及Ge晶体制成的全聚焦型双曲面弯晶。

【技术特征摘要】

1.一种三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,其包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤1中三元锂样品粉末的粒径小于100um。

3.根据权利要求2所述的三元锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤2...

【专利技术属性】
技术研发人员:张琦滕云秦玉文吴福根周剑波江红贾少朋谭志勇郭利敏
申请(专利权)人:北京安科慧生科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1