System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法技术_技高网

一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法技术

技术编号:41201736 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-07 22:28
本发明专利技术提供一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其包括以下步骤:步骤1.将磷酸铁锂粉末压制成压片样品;步骤2.使用X射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、磷、铁的含量;步骤3.依据磷的含量推导出五氧化二磷的含量,依据铁的含量推导出三氧化二铁的含量;步骤4.依据氧元素的含量、五氧化二磷的氧含量及三氧化二铁的氧含量,推导氧化锂中的氧含量,进而得到氧化锂中的锂含量。本发明专利技术能够简便快速测出磷酸铁锂中的锂含量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法


技术介绍

1、锂电池具备安全性好、成本低、循环性能优等特点,是新能源汽车广泛采用的电池材料。锂电池正极材料为磷酸铁锂,磷酸铁锂的生产工艺主要有固相法和液相法两种,原料有锂源、磷源以及含铁化合物经高温煅烧或液相溶液沉淀制成。在磷酸铁锂的生产过程中,控制其主要金属元素(锂、磷及铁)离子摩尔比是质量控制重点,常规采用电感耦合等离子体发射光谱(icp oes)方法分析各种元素含量,需要将样品溶解处理,步骤繁琐复杂,分析周期长,对生产质量控制滞后。行业需要一种快速、准确分析磷酸铁锂材料中主要金属元素离子摩尔比的测定方法。

2、因此,需要对现有的磷酸铁锂中锂含量的测定方法进行改进。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种操作方便且快速检测磷酸铁锂中锂含量的测定方法。

2、具体地,本专利技术是通过如下技术方案实现的,一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其包括以下步骤:步骤1.将磷酸铁锂粉末压制成压片样品;步骤2.使用x射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、磷、铁的含量;步骤3.依据磷的含量推导出五氧化二磷的含量,依据铁的含量推导出三氧化二铁的含量;步骤4.依据氧元素的含量、五氧化二磷的氧含量及三氧化二铁的氧含量,推导氧化锂中的氧含量,进而得到氧化锂中的锂含量。

3、依据本专利技术的一个实施例,步骤1中磷酸铁锂样品粉末的粒径小于100um。

4、依据本专利技术的一个实施例,步骤2中,x射线荧光光谱仪还同步测定压片样品中以下杂质元素的含量:钙、钠、镁、铝、硅、硫、氯、钾、钛、钒、钴、铬、锰、镍、铜、锌。

5、依据本专利技术的一个实施例,所述x射线荧光光谱仪采用ag:lα射线及ge晶体制成的全聚焦型双曲面弯晶。

6、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本专利技术。

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【技术保护点】

1.一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,其包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤1中磷酸铁锂样品粉末的粒径小于100um。

3.根据权利要求2所述的磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤2中,X射线荧光光谱仪还同步测定压片样品中以下杂质元素的含量:钙、钠、镁、铝、硅、硫、氯、钾、钛、钒、钴、铬、锰、镍、铜、锌。

4.根据权利要求1所述的磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,所述X射线荧光光谱仪采用Ag:Lα射线及Ge晶体制成的全聚焦型双曲面弯晶。

【技术特征摘要】

1.一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,其包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤1中磷酸铁锂样品粉末的粒径小于100um。

3.根据权利要求2所述的磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其特征在于,步骤2中...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘小东滕飞刘晓静刘在原李伯伦周剑波贾少朋
申请(专利权)人:北京安科慧生科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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