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本申请提供一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其包括以下步骤：步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；步骤2、...
该专利属于北京安科慧生科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京安科慧生科技有限公司授权不得商用。

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