【技术实现步骤摘要】
一种电镀镀层测厚仪
[0001]本技术涉及电镀领域,更具体地说,涉及一种电镀镀层测厚仪。
技术介绍
[0002]镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段,为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求;
[0003]其现有技术中测量电镀层厚度的测厚仪中,其测厚仪探头在进行测量时,需要在镀层表面滑动,其滑动时不便于定位,容易使探头倾斜影响测量,并且探头裸露容易发生碰撞。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中存在的问题,本技术的目的在于提供一种电镀镀层测厚仪,通过在测厚探头外设置圆壳组件,其可在测厚时支撑,便于对测厚探头定位,不会滑动倾斜,并且不使用时可收起测厚探头,可对其进行保护,避免碰撞损坏。
[0005]为解决上述问题,本技术采用如下的技术方案。
[0006]一种电镀镀层测厚仪,包括测厚仪,所述测厚仪上端插接有插头,所述插头上端设置接线,所述接线的下端设置测厚探头,所述测厚探头下端套接有圆壳,所述圆壳的下端设置有倾斜环 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电镀镀层测厚仪,包括测厚仪(1),其特征在于:所述测厚仪(1)上端插接有插头(2),所述插头(2)上端设置接线(3),所述接线(3)的下端设置测厚探头(4),所述测厚探头(4)下端套接有圆壳(5),所述圆壳(5)的下端设置有倾斜环边,所述测厚探头(4)的外端设置环形凸起(40),所述圆壳(5)上侧开设螺纹,其圆壳(5)的上端通过螺纹连接有凹套(6),所述圆壳(5)的内侧表面放置有弹簧(7),所述弹簧(7)挤压测厚探头(4)的...
【专利技术属性】
技术研发人员:黎书圣,李伟龙,
申请(专利权)人:厦门明佑电镀有限公司,
类型:新型
国别省市:
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