一种多探头铜箔厚度测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多探头铜箔厚度测量仪，包括厚度测量仪主体和设置在厚度测量仪主体顶部的探头，厚度测量仪主体上端的两端外壁上分别活动安装有伸缩柱，且伸缩柱的输出端分别活动安装在擦拭板的两端外壁上，擦拭板嵌入安装在厚度测量仪主体上端的一侧外壁上，当操作者需要对铜箔厚度进行测量时，则可用手按住伸缩连接柱并向外进行抽拽，使得第二卡接组件卡接到位于安装套筒开口处的第二半圆槽中，实现伸缩连接柱的固定，此时将安装套筒转动九十度后，使得第一卡接组件卡接进位于第一T型安装槽上端的第一半圆槽中，即可将安装套筒固定在竖直方向上，此时操作者手握厚度测量仪主体即可将擦拭布贴附铜箔进行清理。体即可将擦拭布贴附铜箔进行清理。体即可将擦拭布贴附铜箔进行清理。

【技术实现步骤摘要】
一种多探头铜箔厚度测量仪


[0001]本技术涉及铜箔
，具体为一种多探头铜箔厚度测量仪。

技术介绍

[0002]铜箔：一种阴质性电解材料，沉淀于电路板基底层上的一层薄的、连续的金属箔，它作为PCB的导电体。它容易粘合于绝缘层，接受印刷保护层，腐蚀后形成电路图样。在铜箔生产使用时，通常需要测定铜箔的厚度，从而来得知铜箔的生产使用性能。
[0003]目前的铜箔厚度测量仪通常都是手持并且使输出端直接贴紧铜箔进行测量的，当铜箔的表面灰尘较多时，则需要将灰尘擦干净后，在进行厚度测量，这样才能够得出准确的数值，但是由于擦拭时需要额外使用纸巾或者擦布，不仅增加了测量成本，同时也限定了测量的条件，不便于使用。
[0004]针对以上问题，提出了一种多探头铜箔厚度测量仪。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种多探头铜箔厚度测量仪，采用本装置进行工作，从而解决了上述背景中铜箔厚度测量仪通常都是手持并且使输出端直接贴紧铜箔进行测量的，当铜箔的表面灰尘较多时，则需要将灰尘擦干净后，在进行厚度测量，这样才能够得出准确的数值，但是由于擦拭时需要额外使用纸巾或者擦布，不仅增加了测量成本，同时也限定了测量的条件，不便于使用的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种多探头铜箔厚度测量仪，包括厚度测量仪主体和设置在厚度测量仪主体顶部的探头，所述厚度测量仪主体上端的两端外壁上分别活动安装有伸缩柱，且伸缩柱的输出端分别活动安装在擦拭板的两端外壁上，擦拭板嵌入安装在厚度测量仪主体上端的一侧外壁上；
[0007]所述伸缩柱包括安装套筒和一端滑动安装在安装套筒内腔中的伸缩连接柱；
[0008]所述擦拭板包括安装背板和滑动安装在安装背板内侧外壁上的擦拭板主体。
[0009]进一步地，所述厚度测量仪主体的上端外壁上设置有防脏凹槽，厚度测量仪主体上端的两端外壁上分别设置有第一T型安装槽和一对第一半圆槽，且第一半圆槽分别等距设置在第一T型安装槽的上端和一侧处，安装套筒的一端活动安装在第一T型安装槽中。
[0010]进一步地，所述安装套筒内腔下端和上端的两侧内壁上分别设置有第二半圆槽，安装套筒的中部外壁上设置有嵌入槽，且嵌入槽中设置第一卡接组件，第一卡接组件活动卡接在第一半圆槽中。
[0011]进一步地，所述第一卡接组件包括弹簧和滑动安装在嵌入槽中的半圆块，弹簧的一端安装在嵌入槽的内腔底面上，弹簧的另一端安装在半圆块的底面上。
[0012]进一步地，所述伸缩连接柱包括伸缩连接柱主体和分别设置在伸缩连接柱主体下端两侧外壁上的第二卡接组件，伸缩连接柱主体上端两侧外壁上固定安装有T型安装轴，第二卡接组件活动卡接在第二半圆槽中。
[0013]进一步地，所述T型安装轴外端的两侧外壁上分别设置有第三卡接组件。
[0014]进一步地，所述第二卡接组件和第三卡接组件中各机构的结构组成和连接方式与第一卡接组件中各机构的结构组成和连接方式相同。
[0015]进一步地，所述安装背板两端的中部外壁上分别设置有第二T型安装槽，且第二T型安装槽两端的内腔内壁上分别设置有第三半圆槽，且第三卡接组件活动卡接在第三半圆槽中，安装背板的一侧外壁上设置有T型滑槽。
[0016]进一步地，所述擦拭板主体包括固定板和固定安装在固定板正面外壁上的擦拭布，固定板中部的背面外壁上固定安装有T型滑块，且T型滑块滑动安装在T型滑槽中，固定板的一端外壁上固定安装有抽拉带。
[0017]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0018]1.本技术提出的一种多探头铜箔厚度测量仪，当操作者需要对铜箔厚度进行测量时，则可用手按住伸缩连接柱并向外进行抽拽，使得第二卡接组件卡接到位于安装套筒开口处的第二半圆槽中，实现伸缩连接柱的固定，此时将安装套筒转动九十度后，使得第一卡接组件卡接进位于第一T型安装槽上端的第一半圆槽中，即可将安装套筒固定在竖直方向上，此时操作者手握厚度测量仪主体即可将擦拭布贴附铜箔进行清理，操作起来方便快捷，且可以对铜箔进行随时检测，无需再额外用物品进擦拭。
[0019]2.本技术提出的一种多探头铜箔厚度测量仪，当擦拭布擦拭后较脏时，则可用手捏住抽拉带向外抽拉，即可将擦拭板主体抽出，安装时，将T型滑块对准T型滑槽后插入即可，方便了擦拭布的重复使用。
[0020]3.本技术提出的一种多探头铜箔厚度测量仪，擦拭布固定安装在固定板的正面外壁上，且擦拭布设置在防脏凹槽中，在不使用擦拭布时，保证了擦拭布的洁净性。
附图说明
[0021]图1为本技术的整体立体结构示意图；
[0022]图2为本技术的厚度测量仪主体立体结构示意图；
[0023]图3为本技术的安装套筒剖面图；
[0024]图4为本技术的伸缩连接柱剖面图；
[0025]图5为本技术的擦拭板立体结构示意图；
[0026]图6为本技术的安装背板剖面图。
[0027]图中：1、厚度测量仪主体；11、防脏凹槽；12、第一T型安装槽；13、第一半圆槽；2、探头；3、伸缩柱；31、安装套筒；311、第二半圆槽；312、嵌入槽；313、第一卡接组件；3131、弹簧；3132、半圆块；32、伸缩连接柱；321、伸缩连接柱主体；322、第二卡接组件；323、T型安装轴；3231、第三卡接组件；4、擦拭板；41、安装背板；411、第二T型安装槽；412、第三半圆槽；413、T型滑槽；42、擦拭板主体；421、固定板；422、擦拭布；423、T型滑块；424、抽拉带。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]请参阅图1，一种多探头铜箔厚度测量仪，包括厚度测量仪主体1和设置在厚度测量仪主体1顶部的若干探头2，厚度测量仪主体1上端的两端外壁上分别活动安装有伸缩柱3，且伸缩柱3的输出端分别活动安装在擦拭板4的两端外壁上，擦拭板4嵌入安装在厚度测量仪主体1上端的一侧外壁上，伸缩柱3包括安装套筒31和一端滑动安装在安装套筒31内腔中的伸缩连接柱32，擦拭板4包括安装背板41和滑动安装在安装背板41内侧外壁上的擦拭板主体42。
[0030]请参阅图1和图2，一种多探头铜箔厚度测量仪，厚度测量仪主体1的上端外壁上设置有防脏凹槽11，厚度测量仪主体1上端的两端外壁上分别设置有第一T型安装槽12和一对第一半圆槽13，且第一半圆槽13分别等距设置在第一T型安装槽12的上端和一侧处，安装套筒31的一端活动安装在第一T型安装槽12中。
[0031]请参阅图1、图3和图4，一种多探头铜箔厚度测量仪，安装套筒31内腔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多探头铜箔厚度测量仪，包括厚度测量仪主体(1)和设置在厚度测量仪主体(1)顶部的探头(2)，其特征在于：所述厚度测量仪主体(1)上端的两端外壁上分别活动安装有伸缩柱(3)，且伸缩柱(3)的输出端分别活动安装在擦拭板(4)的两端外壁上，擦拭板(4)嵌入安装在厚度测量仪主体(1)上端的一侧外壁上；所述伸缩柱(3)包括安装套筒(31)和一端滑动安装在安装套筒(31)内腔中的伸缩连接柱(32)；所述擦拭板(4)包括安装背板(41)和滑动安装在安装背板(41)内侧外壁上的擦拭板主体(42)。2.根据权利要求1所述的一种多探头铜箔厚度测量仪，其特征在于：所述厚度测量仪主体(1)的上端外壁上设置有防脏凹槽(11)，厚度测量仪主体(1)上端的两端外壁上分别设置有第一T型安装槽(12)和一对第一半圆槽(13)，且第一半圆槽(13)分别等距设置在第一T型安装槽(12)的上端和一侧处，安装套筒(31)的一端活动安装在第一T型安装槽(12)中。3.根据权利要求1所述的一种多探头铜箔厚度测量仪，其特征在于：所述安装套筒(31)内腔下端和上端的两侧内壁上分别设置有第二半圆槽(311)，安装套筒(31)的中部外壁上设置有嵌入槽(312)，且嵌入槽(312)中设置第一卡接组件(313)，第一卡接组件(313)活动卡接在第一半圆槽(13)中。4.根据权利要求3所述的一种多探头铜箔厚度测量仪，其特征在于：所述第一卡接组件(313)包括弹簧(3131)和滑动安装在嵌入槽(312)中的半圆块(3132)，弹簧(3131)的一端安装在嵌入槽(312)的内腔底面上，弹簧(313...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤志坚，
申请(专利权)人：深圳市鼎极天电子有限公司，
类型：新型
国别省市：