一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构，包括机体，以及铰接在机体上端的机盖，过滤组件的下端固定连接有安装块，安装块的下端开设有缓冲槽，缓冲槽的内腔搭接有缓冲块，测量主体的两侧贴合有安装在机体内壁的第一橡胶垫和第二橡胶垫，当测量主体产生震动时，首先测量主体会通过过滤组件带动安装块下压，安装块下压时带动缓冲槽向下包裹缓冲块，因缓冲块为橡胶材质的空心圆台，且缓冲块上端与缓冲槽相匹配，故在缓冲槽向下包裹缓冲块时，会受缓冲块的阻碍减缓下落速度，从而极大的削弱了震动力，再通过第一橡胶垫和第二橡胶垫，可对测量主体的两侧进行缓冲，缓冲效果显著，极大的削弱了噪音，对内部构件进行保护。对内部构件进行保护。对内部构件进行保护。

【技术实现步骤摘要】
一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构


[0001]本技术涉及测厚仪
，具体为一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构。

技术介绍

[0002]XRF测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。XRF测厚仪是利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
[0003]XRF测厚仪在进行测量时，其测量主体会产生的震动，震动时会出现较大的噪音，然而，现有的XRF测厚仪并不具有减震与噪音过滤的功能，导致无法将噪音进行削弱，长久以此，不仅造成XRF测厚仪内部构件损坏，还极大的工作人员的工作效率。
[0004]针对上述问题，本技术提出了一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构，测量主体的下端搭接有过滤组件，过滤组件的下端固定连接有安装块，安装块的下端开设有缓冲槽，缓冲槽的内腔搭接有缓冲块，测量主体的两侧贴合本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构，包括机体(1)，以及铰接在机体(1)上端的机盖(2)，机盖(2)的下端设置有安装在机体(1)内腔的测量主体(3)，其特征在于：所述测量主体(3)的下端搭接有过滤组件(4)，过滤组件(4)的下端固定连接有安装块(5)，安装块(5)的下端开设有缓冲槽(6)，缓冲槽(6)的内腔搭接有缓冲块(7)；所述测量主体(3)的两侧贴合有安装在机体(1)内壁的第一橡胶垫(8)和第二橡胶垫(9)。2.根据权利要求1所述的一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构，其特征在于：所述缓冲块(7)的形状为空心圆台，且为橡胶材质所制成的构件。3.根据权利要求2所述的一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构，其特征在于：所述缓冲块(7)上端与缓冲槽(6)相匹配。4.根据权利要求1所述的一种XRF测厚仪的噪音降低过滤结构，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤志坚，
申请(专利权)人：深圳市鼎极天电子有限公司，
类型：新型
国别省市：