一种电镀件表面膜层的测厚方法技术

本发明专利技术提供了一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度，本发明专利技术所述的电镀件表面膜层的测厚方法具有操作简单、成本低、适用范围广、检测结果精确、成功率高，同时，还可以显示膜层厚度的分布情况的优点。的优点。的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种电镀件表面膜层的测厚方法


[0001]本专利技术涉及测量
，具体而言，涉及一种电镀件表面膜层的测厚方法。

技术介绍

[0002]在合金或金属件，如锌合金件的生产过程中，由于锌合金的电位较负，化学稳定性较差，容易被腐蚀，同时为了满足理化性能和外观视觉的需求，故常对合金件或金属件进行电镀加工使其成为电镀件，利用其表面的电镀层对合金件或金属件进行防护或防护装饰。
[0003]此外，为了大大提高电镀件的理化性能和外观视觉档次，在电镀后往往还需要在其表面再喷一层透明漆膜等膜层，如此所述透明漆膜的厚薄对产品的理化性能和外观视觉档次将会起到举足轻重的作用。
[0004]现有技术中，对于器件表面漆膜等膜层厚度的测量，普通厂家一般局限于使用游标卡尺、螺旋测微器(千分尺)、单功能便携式仪器等测量超厚度膜层、单一基体表面膜层、有颜色膜层、有磁性膜层和可导电膜层等，且测量结果容易受电、磁、光、热等物理条件影响，测量误差较大。此外，此类膜层厚度的测量技术还存在不能直观显示膜层厚度的分布情况，以及检测结果具有随机偶然性，对局部有缺陷膜层极易漏检等缺陷。
[0005]对于合金电镀件表面超薄透明绝缘无磁的膜层，如漆膜等，由于该膜层的厚度超薄、一般<3um，且膜层本身无颜色、无磁性、非导电，且合金基体上常存在多种金属电镀层，例如：铜层、银层、金层、铜
‑
锌合金层、铜
‑
锡合金层、铜
‑
锡
‑
锌合金层、锡
‑
钴合金层等等，使用上述设备和方法很难对这类电镀件表面超薄透明绝缘无磁的膜层进行精准测厚。
[0006]目前，对于合金电镀件这种复杂基体的表面超薄透明绝缘无磁膜层的精准测厚，科研机构主要采用SEM扫描式电子显微镜、STM扫描穿遂式电子显微镜、STEM扫描穿透式电子显微镜等高端高昂设备实现，然而电镜制样、电镜观察和电镜分析的费用昂贵、过程复杂、专业技术依赖性强，广泛实施和推广的难度极大。
[0007]为解决上述技术问题，特提出本申请。

技术实现思路

[0008]本专利技术设计出一种电镀件表面膜层的测厚方法，以克服现有普通厂家不能测量或科研机构需使用过程复杂、费用高昂、技术依赖程度高的电镜设备的技术难题。
[0009]为解决上述问题，本专利技术公开了一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤：
[0010]S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；
[0011]S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度。
[0012]进一步的，所述步骤S1包括：
[0013]S11，准备待测电镀件A；
[0014]S12，制备有色颜料工作液；
[0015]S13，将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面，干燥至恒重后得到
具有有色边界层的待测电镀件B；
[0016]S14，将所述待测电镀件B进行切割、使所述待测电镀件B表面膜层的横截面裸露出，之后将其进行浇铸和研磨制备成金相试样C。
[0017]进一步的，在所述步骤S12中，采用除黑色以外的有色颜料制备所述有色颜料工作液。
[0018]进一步的，在所述步骤S12中，采用非透明有色漆制备所述有色颜料工作液。
[0019]进一步的，在所述步骤S13中，采用浸涂或喷涂的方式将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面。
[0020]进一步的，在所述步骤S13中，将所述有色颜料工作液浸涂或喷涂于所述待测电镀件A的表面后，在80～120℃干燥至恒重，得待测电镀件B。
[0021]进一步的，在所述步骤S14中，垂直于所述待测电镀件B的表面进行切割，使得所述待测电镀件B表面膜层的横截面垂直裸露出。
[0022]进一步的，在所述步骤S14中，浇铸成型后的待测电镀件B表面膜层的横截面垂直裸露出。
[0023]进一步的，所述步骤S2包括：
[0024]S21，将所述金相试样C置于显微镜的载物台上，调整显微镜，直至在低倍放大倍数下看到清晰的金相试样C的边界图像；
[0025]S22，提高显微镜的倍数，直至在高倍放大倍数下看到清晰的金相试样C中电镀层的边界图像；
[0026]S23，缓慢增加光源亮度，直至看到清晰的所述金相试样C中电镀层和有色边界层之间的待测膜层两侧的边界图像；
[0027]S24，通过显微图像分析软件测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d。
[0028]进一步的，所述显微镜为金相显微镜。
[0029]本申请所述的电镀件表面膜层的测厚方法具有以下优点：
[0030]第一，本申请所述电镀件表面膜层的测厚方法可以广泛适用于各种膜层厚度的测量，不再局限于超厚度膜层、有颜色膜层、有磁性膜层、可导电膜层或单一基体表面膜层，对于复杂基体表面膜层，超薄度膜层、无颜色膜层、无磁性膜层、非导电膜层均可以准确测量其厚度；
[0031]第二，可以更加直观显示膜层厚度的分布情况；
[0032]第三，可以观察到边界清晰的膜层，测量结果误差极小，准确度和精确度高，且不受电磁光热等物理条件影响。
[0033]第四，不再依赖于电子显微镜等高昂设备和专业技术、不再费时费力。严格按该专利技术的操作步骤，过程简单、全过程傻瓜式操作，成功率高。
附图说明
[0034]图1为本专利技术实施例所述待测电镀件A的实物图；
[0035]图2为本专利技术实施例所述有色颜料工作液的实物图；
[0036]图3为本专利技术实施例所述待测电镀件B的实物图；
[0037]图4为本专利技术实施例所述金相试样C的实物图；
[0038]图5为本专利技术实施例所述显微图像分析软件的界面一；
[0039]图6为本专利技术实施例所述显微图像分析软件的界面二；
[0040]图7为本专利技术实施例所述显微图像分析软件的界面三；
[0041]图8为本专利技术实施例所述显微图像分析软件的界面四；
[0042]图9为本专利技术实施例所述显微图像分析软件的界面五；
[0043]图10为本专利技术实施例所述金相显微镜下的金相试样C的一种结构示意图。
具体实施方式
[0044]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。
[0045]一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤
[0046]S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；
[0047]S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度。
[0048]需要说明的是，为清楚的说明本申请，将所述电镀件表面膜层的两侧表面分别称为“外边界”和“内边界”，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，包括步骤S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度。2.根据权利要求1所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述步骤S1包括：S11，准备待测电镀件A；S12，制备有色颜料工作液；S13，将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面，干燥至恒重后得到具有有色边界层的待测电镀件B；S14，将所述待测电镀件B进行切割、使所述待测电镀件B表面膜层的横截面裸露出，之后将其进行浇铸和研磨制备成金相试样C。3.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S12中，采用除黑色以外的有色颜料制备所述有色颜料工作液。4.根据权利要求2或3所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S12中，采用非透明有色漆制备所述有色颜料工作液。5.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S13中，采用浸涂或喷涂的方式将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面。6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚鑫剑，颜飞，宋玉龙，
申请(专利权)人：临海市伟星化学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：