本发明专利技术提供了提供一种信号测试装置以及信号测试方法。信号测试方法包含：通过探针以取得对应于测试治具以及待测件的第一频率响应；通过探针以取得对应于测试治具的第二频率响应；以及根据第一频率响应、第二频率响应、去嵌入演算法以及经验模态分解演算法以产生待测件的频率响应。本发明专利技术可基于去嵌入演算法以及经验模态分解演算法而使用同一探针来测量待测件在不同频率的频率响应。待测件在不同频率的频率响应。待测件在不同频率的频率响应。
【技术实现步骤摘要】
信号测试装置以及信号测试方法
[0001]本专利技术是有关于一种电子装置以及方法，且特别是有关于一种适用于通过测试治具测量待测件的频率响应的信号测试装置以及信号测试方法。
技术介绍
[0002]印刷电路板(printed circuit board，PCB)的介入损失(insertion loss)会显著地影响高频印刷电路板的效能。在设计印刷电路板时，设计人员会尽量降低介入损失以避免印刷电路板的效能降低。因应于此，设计人员需经常地对印刷电路板进行信号测试，并藉由测试结果来判断是否需要调整印刷电路板的布局或材质。
[0003]目前，业界大多是使用符合工业标准的信号测试装置来量测印刷电路板的频率响应。然而，现有的信号测试装置所能支援的最高频率仅能至40吉赫(GHz)，而无法测量更高频的信号。此外，在测量不同频率的信号时，现有的信号测试装置需要更换不同的探针(probe)。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供一种信号测试装置以及信号测试方法，可针对40吉赫以上的信号进行测试，并且可使用同一探针来测试不同频率的信号。
[0005]本专利技术的一种信号测试装置，适用于通过测试治具测量待测件的频率响应。信号测试装置包括探针以及处理器。处理器耦接探针，其中处理器通过探针以取得对应于测试治具以及待测件的第一频率响应，通过探针以取得对应于测试治具的第二频率响应，并且根据第一频率响应、第二频率响应、去嵌入演算法以及经验模态分解演算法以产生待测件的频率响应。
[0006]在本专利技术的一实施例中，上述的处理器根据第一频率响应、第二频率响应以及去嵌入演算法以产生对应于待测件的第三频率响应，并且根据第三频率响应以及经验模态分解演算法以产生频率响应。
[0007]在本专利技术的一实施例中，上述的处理器根据经验模态分解演算法以将第三频率响应分解为剩余量以及多个本质模态函数分量，并且根据剩余量以及多个本质模态函数分量的至少其中之一以产生频率响应。
[0008]在本专利技术的一实施例中，上述的多个本质模态函数分量的至少其中之一包括：多个本质模态函数分量的第N到M个本质模态函数分量，其中M为多个本质模态函数分量的数量，并且N为小于M的正整数。
[0009]在本专利技术的一实施例中，上述的处理器根据第一频率响应以及经验模态分解演算法以产生第三频率响应，根据第二频率响应以及经验模态分解演算法以产生第四频率响应，并且根据第三频率响应、第四频率响应以及去嵌入演算法以产生频率响应。
[0010]在本专利技术的一实施例中，上述的处理器根据经验模态分解演算法以将第一频率响应分解为剩余量以及多个本质模态函数分量，并且根据剩余量以及多个本质模态函数分量
的至少其中之一以产生第三频率响应。
[0011]在本专利技术的一实施例中，上述的多个本质模态函数分量的至少其中之一包括：多个本质模态函数分量的第N到M个本质模态函数分量，其中M为多个本质模态函数分量的数量，并且N为小于M的正整数。
[0012]在本专利技术的一实施例中，上述的经验模态分解演算法为二维经验模态分解演算法。
[0013]在本专利技术的一实施例中，上述的探针支援的频率范围包括0赫到70吉赫。
[0014]本专利技术的一种信号测试方法，适用于通过测试治具测量待测件的频率响应。信号测试方法包括：通过探针以取得对应于测试治具以及待测件的第一频率响应；通过探针以取得对应于测试治具的第二频率响应；以及根据第一频率响应、第二频率响应、去嵌入演算法以及经验模态分解演算法以产生待测件的频率响应。
[0015]基于上述，本专利技术可基于去嵌入演算法以及经验模态分解演算法而使用同一探针来测量待测件在不同频率(例如：超过40吉赫的频率)的频率响应。
附图说明
[0016]图1根据本专利技术的一实施例绘示一种信号测试装置的示意图。
[0017]图2根据本专利技术的一实施例绘示信号测试装置根据经验模态分解演算法产生频率响应的示意图。
[0018]图3A根据本专利技术的一实施例绘示测量测试治具以及待测件的频率响应的示意图。
[0019]图3B根据本专利技术的一实施例绘示测量测试治具的频率响应的示意图。
[0020]图4根据本专利技术的一实施例绘示测试治具以及待测件的频率响应与测试治具的频率响应的示意图。
[0021]图5A和图5B根据本专利技术的一实施例绘示根据去嵌入演算法以及经验模态分解演算法产生待测件的频率响应的示意图。
[0022]图6A和图6B根据本专利技术的另一实施例绘示根据去嵌入演算法以及经验模态分解演算法产生待测件的频率响应的示意图。
[0023]图7根据本专利技术的一实施例绘示一种信号测试方法的示意图。
[0024]附图符号说明：
[0025]100：信号测试装置；
[0026]110：处理器；
[0027]120：储存媒体；
[0028]130：探针；
[0029]200、420、430、510、520、610、620、630：频率响应；
[0030]300：测试治具；
[0031]310：第一治具；
[0032]311、321：测试埠；
[0033]312、322、410：金属线路；
[0034]320：第二治具；
[0035]400：待测件；
[0036]IMF 1、IMF 2、IMF 3、IMF 4、IMF 5、IMF 6、IMF 7、IMF 8、IMF 9、IMF 10：本质模态函数分量；
[0037]R：剩余量；
[0038]S701、S702、S703：步骤。
具体实施方式
[0039]为了使本专利技术的内容可以被更容易明了，以下特举实施例作为本专利技术确实能够据以实施的范例。另外，凡可能之处，在图式及实施方式中使用相同标号的元件/构件/步骤，代表相同或类似部件。
[0040]图1根据本专利技术的一实施例绘示一种信号测试装置100的示意图。信号测试装置100可包含处理器110、储存媒体120以及探针130。信号测试装置100适用于通过测试治具(例如：如图3A所示的测试治具300)测量待测件(例如：如图3A所示的待测件)的频率响应。
[0041]处理器110例如是中央处理单元(central processing unit，CPU)，或是其他可编程化的一般用途或特殊用途的微控制单元(micro control unit，MCU)、微处理器(microprocessor)、数字信号处理器(digital signal processor，DSP)、可编程化控制器、特殊应用集成电路(application specific integrated circuit，ASIC)、图形处理器(graphics processing unit，GPU)、图像信号处理器(image signal processor，ISP)、图像处理单元(image processing unit，IPU)、算数逻辑单元(a本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种信号测试装置，适用于通过测试治具测量待测件的频率响应，其特征在于，包括：探针；以及处理器，耦接所述探针，其中所述处理器通过所述探针以取得对应于所述测试治具以及所述待测件的第一频率响应，通过所述探针以取得对应于所述测试治具的第二频率响应，并且根据所述第一频率响应、所述第二频率响应、去嵌入演算法以及经验模态分解演算法以产生所述待测件的所述频率响应。2.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，所述处理器根据所述第一频率响应、所述第二频率响应以及所述去嵌入演算法以产生对应于所述待测件的第三频率响应，并且根据所述第三频率响应以及所述经验模态分解演算法以产生所述频率响应。3.如权利要求2所述的信号测试装置，其特征在于，所述处理器根据所述经验模态分解演算法以将所述第三频率响应分解为剩余量以及多个本质模态函数分量，并且根据所述剩余量以及所述多个本质模态函数分量的至少其中之一以产生所述频率响应。4.如权利要求3所述的信号测试装置，其特征在于，所述多个本质模态函数分量的所述至少其中之一包括：所述多个本质模态函数分量的第N到M个本质模态函数分量，其中M为所述多个本质模态函数分量的数量，并且N为小于M的正整数。5.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，所述处理器根据所述第一频率响应以及所述经验模态分解演算...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈冠维，魏子喻，陈义宪，陈毅唐，洪启翔，王丁凯，
申请(专利权)人：纬颖科技服务股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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