一种芯片检测电路及设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片检测电路及设备，包括与芯片中的开关电路连接的外部可调电容，基于补偿电容的待测档位可对外部可调电容的容值进行调节，从而使控制模块基于接收到的电容数据是否在预设范围内确定补偿电容在当前档位能否正常工作，即基于外部可调电容不同的容值实现对芯片中的补偿电容的各个档位进行检测，并判断补偿电容在各个档位能否正常工作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测电路及设备


[0001]本技术涉及电子领域，特别是涉及一种芯片检测电路及设备。

技术介绍

[0002]现有技术中的触摸芯片在投入使用前需要对其进行检测，在对触摸芯片中的补偿电容进行检测时，现有技术中的检测电路如图1所示，图1为现有技术中的芯片检测电路的结构示意图，外部电容C1的一端接地，另一端通过开关电路S1至开关电路Sn+1与补偿电容101的第一端、放大器103的负输入端及反馈电容102的第一端连接，补偿电容101的第二端接地，放大器103的正输入端与参考电压输出装置104连接，输出端与反馈电容102的第二端及模数转换器105的输入端连接，在对补偿电容101进行检测时，先基于外部电容C1的容值及反馈电容102的容值将补偿电容101的容值调至预设容值，模数转换器105通过对放大器103的输出电压进行采集，控制模块106，即图中所示MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)，对模数转换器105采集的电压数据进行处理并生成电容数据，通过判断该电容数据是否在预设范围内，从而判断补偿电容101在预设容值时是否能够正常工作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测电路，其特征在于，所述芯片包括开关电路、补偿电容、模数转换器以及控制模块，所述检测电路包括：第一端接地，第二端与所述芯片中的所述开关电路连接的外部可调电容，用于基于所述补偿电容的待测档位调节自身的容值，以对所述芯片中的补偿电容的各个档位进行检测；所述控制模块用于基于所述模数转换器采集到的电压生成相应的电容数据，并基于对所述电容数据是否在预设范围内的判断确定所述补偿电容在当前档位能否正常工作；所述预设范围与所述外部可调电容的当前容值及所述补偿电容的当前档位对应。2.如权利要求1所述的芯片检测电路，其特征在于，所述芯片包括多个所述开关电路；所述外部可调电容包括：第一端均接地，第二端分别与所述芯片的多个所述开关电路连接且容值不同的多个外部电容，用于基于各个所述开关电路的导通状...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘瑾浩，曹兴，
申请(专利权)人：敦泰电子深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：