分布式集成电路测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种分布式集成电路测试系统，包括至少两块测试板卡，每块所述测试板卡上集成有一控制模块、一测试单元模块和一电源模块，每个所述控制模块通过以太网与一上位机连接，每块所述测试板卡上的所述控制模块与对应的所述电源模块和所述测试单元模块连接，所述测试单元模块与待测集成电路连接，各个所述测试板卡上的所述电源模块之间相互独立。本实用新型专利技术的技术方案能够在对集成电路测试系统进行扩展的同时，还能节约测试成本和测试空间以及能够避免产生共地干扰的问题。试空间以及能够避免产生共地干扰的问题。试空间以及能够避免产生共地干扰的问题。

【技术实现步骤摘要】
分布式集成电路测试系统


[0001]本技术涉及集成电路测试领域，特别涉及一种分布式集成电路测试系统。

技术介绍

[0002]集成电路测试数据传输控制集成电路测试过程中各种控制信号的发送与测量数据的接收，一般包含测试机本身各测试单元控制信号与测量数据传输、测试机与上位机间数据通信、测试机与分选机(或探针台)通信三方面，是集成电路测试的枢纽环节。
[0003]随着集成电路自动化测试需求的增长，如果使用单台机器测试，测试一批集成电路往往需要很长时间。为了提高测试速度，目前是通过增加测试机进行并行测试或者进行多站测试。但是，增加测试机需要增加测试成本，且存在与分选机(或探针台)通信资源和场地受限的问题；而多站测试虽然不存在与分选机(或探针台)通信资源和场地受限的问题，但会存在共地干扰的问题。
[0004]因此，需要设计一种分布式集成电路测试系统，以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种分布式集成电路测试系统，能够在对集成电路测试系统进行扩展的同时，还能节约测试成本和测试空间以及能够避免产生共地干扰的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供了一种分布式集成电路测试系统，包括至少两块测试板卡，每块所述测试板卡上集成有一控制模块、一测试单元模块和一电源模块，每个所述控制模块通过以太网与一上位机连接，每块所述测试板卡上的所述控制模块与对应的所述电源模块和所述测试单元模块连接，所述测试单元模块与待测集成电路连接，各个所述测试板卡上的所述电源模块之间相互独立。
>[0007]可选的，所述控制模块与所述上位机连接并输出所述上位机发出的测试信号，所述测试单元模块与对应的所述控制模块和所述待测集成电路连接，接收所述控制模块输出的所述测试信号，并将测试结果发送给所述控制模块，所述控制模块接收所述测试结果并上传至所述上位机。
[0008]可选的，所述分布式集成电路测试系统还包括网络交换机，与所述上位机和所述控制模块连接，所述控制模块通过所述网络交换机输出所述上位机发出的测试信号，并通过所述网络交换机将接收到的测试结果上传至所述上位机。
[0009]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一任意波发送器模块，与对应的所述控制模块和所述测试单元模块连接，所述任意波发送器模块施加所述待测集成电路所需的各种交流信号给所述测试单元模块。
[0010]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一程控电压电流源模块，与对应的所述控制模块和所述测试单元模块连接，所述程控电压电流源模块输出直流信号给所述测试单元模块，所述测试单元模块将所述待测集成电路的电流值或电压值通过所述程控电压电流源
模块发送给所述控制模块。
[0011]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一数据采集模块，与对应的所述控制模块和所述测试单元模块连接，所述数据采集模块采集所述测试单元模块输出的测试结果。
[0012]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一D/A转换模块，与对应的所述控制模块和所述程控电压电流源模块连接，所述D/A转换模块通过所述程控电压电流源模块施加加压测压、加压测流、加流测压和加流测流之间的切换以及电压量程和电流量程之间的切换。
[0013]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一A/D转换模块，与对应的所述控制模块和所述数据采集模块连接，所述A/D转换模块对所述数据采集模块采集的测试结果进行A/D转换。
[0014]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一用户测试卡，与对应的所述测试单元模块和所述待测集成电路连接。
[0015]可选的，每块所述测试板卡上还集成有一报警模块，与对应的所述控制模块连接。
[0016]可选的，所述分布式集成电路测试系统还包括自动测试设备，与所述控制模块连接，所述自动测试设备发送开始测试信号给所述控制模块，并接收所述控制模块发出的测试结果信号。
[0017]可选的，所述分布式集成电路测试系统还包括下位机接口模块，与所述控制模块和所述自动测试设备连接，所述下位机接口模块传输所述自动测试设备的控制信号。
[0018]可选的，所述自动测试设备包括分选机或探针台。
[0019]可选的，所述控制模块包括单片机。
[0020]可选的，所述控制模块还包括以太网口和专用芯片，所述以太网口与所述单片机和所述网络交换机连接，所述网络交换机通过所述专用芯片连接所述单片机。
[0021]与现有技术相比，本技术提供的分布式集成电路测试系统，由于包括至少两块测试板卡，每块所述测试板卡上集成有一控制模块、一测试单元模块和一电源模块，每个所述控制模块通过以太网与一上位机连接，每块所述测试板卡上的所述控制模块与对应的所述电源模块和所述测试单元模块连接，各个所述测试板卡上的所述电源模块之间相互独立，为所述测试板卡提供单独的供电，使得能够在对集成电路测试系统进行扩展的同时，还能节约测试成本和测试空间以及能够避免产生共地干扰的问题。
附图说明
[0022]图1是本技术一实施例的分布式集成电路测试系统的示意图。
[0023]其中，附图1的附图标记说明如下：
[0024]10
‑
上位机；20
‑
网络交换机；30
‑
控制模块；41
‑
任意波发送器模块；42
‑
程控电压电流源模块；43
‑
数据采集模块；50
‑
测试单元模块；60
‑
用户测试卡；70
‑
自动测试设备；80
‑
电源模块。
具体实施方式
[0025]为使本技术的目的、优点和特征更加清楚，以下结合附图1对本技术提出的分布式集成电路测试系统作进一步详细说明。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施例的目的。
[0026]本技术一实施例提供一种分布式集成电路测试系统，参阅图1，所述分布式集成电路测试系统包括至少两块测试板卡(未图示)，每块所述测试板卡上集成有一控制模块30、一测试单元模块50和一电源模块80，每个所述控制模块30通过以太网与一上位机10连接，每块所述测试板卡上的所述控制模块30与对应的所述电源模块80和所述测试单元模块50连接，所述测试单元模块50与待测集成电路(未图示)连接，各个所述测试板卡上的所述电源模块80之间相互独立。
[0027]下面参阅图1对所述分布式集成电路测试系统进行详细说明，图1中仅示意出了两块测试板卡上集成的各个模块，实际的分布式集成电路测试系统中可以不仅限于两块测试板卡。
[0028]所述分布式集成电路测试系统包括至少两块测试板卡，每块所述测试板卡上集成有一控制模块30、一测试单元模块50和一电源模块80，因此，所述控制模块30、所述测试单元模块50和所述电源模块80的数量均为至少两个。
[0029]每个所述控制模块3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分布式集成电路测试系统，其特征在于，包括至少两块测试板卡，每块所述测试板卡上集成有一控制模块、一测试单元模块和一电源模块，每个所述控制模块通过以太网与一上位机连接，每块所述测试板卡上的所述控制模块与对应的所述电源模块和所述测试单元模块连接，所述测试单元模块与待测集成电路连接，各个所述测试板卡上的所述电源模块之间相互独立。2.如权利要求1所述的分布式集成电路测试系统，其特征在于，所述控制模块与所述上位机连接并输出所述上位机发出的测试信号，所述测试单元模块与对应的所述控制模块和所述待测集成电路连接，所述测试单元模块用于接收所述控制模块输出的所述测试信号并将测试结果发送给所述控制模块，所述控制模块用于接收所述测试结果并上传至所述上位机。3.如权利要求1所述的分布式集成电路测试系统，其特征在于，所述分布式集成电路测试系统还包括网络交换机，与所述上位机和所述控制模块连接，所述控制模块通过所述网络交换机输出所述上位机发出的测试信号，并通过所述网络交换机将接收到的测试结果上传至所述上位机。4.如权利要求1所述的分布式集成电路测试系统，其特征在于，每块所述测试板卡上还集成有一任意波发送器模块，与对应的所述控制模块和所述测试单元模块连接，所述任意波发送器模块施加所述待测集成电路所需的交流信号给所述测试单元模块。5.如权利要求1所述的分布式集成电路测试系统，其特征在于，每块所述测试板卡上还集成有一程控电压电流源模块，与对应的所述控制模块和所述测试单元模块连接，所述程控电压电流源模块输出直流信号给所述测试单元模块，所述测试单元模块将所述待测集成电路的电流值或电压值通过所述程控电压电流源模块发送给所述控制模块。6.如权利要求1所述的分布式集成电路测试系统，其特征在于，每块所述测试板卡上还集成有一数据采集模块，与对应的所述控制模块和所述测试单元模块连接，所述数据采集模块采集所述测试单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶剑文，
申请(专利权)人：杭州友旺电子有限公司，
类型：新型
国别省市：