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本实用新型公开了一种芯片检测电路及设备，包括与芯片中的开关电路连接的外部可调电容，基于补偿电容的待测档位可对外部可调电容的容值进行调节，从而使控制模块基于接收到的电容数据是否在预设范围内确定补偿电容在当前档位能否正常工作，即基于外部可调电容...
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