变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法技术

本发明专利技术公开一种变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，包括：提供检测试块、确定最佳透照参数，并计算在所述最佳透照参数下的X射线的有效透照厚度范围，以及选择位于此厚度范围内的待检测变厚度碳化硅纤维复合材料，并采用所述最佳透照参数的X射线参数对其进行检测。不仅减少了X射线透照试验次数和对零部件的透照次数，提高了效率，减少了能耗；而且也考虑了SiC纤维复合材料零部件厚度变化可能对X射线检测效果的影响，避免了微细缺陷漏检的风险，进而更有利于提高X射线检测的可靠性，更加适合变厚度SiC纤维复合材料零部件X射线检测。适合变厚度SiC纤维复合材料零部件X射线检测。适合变厚度SiC纤维复合材料零部件X射线检测。

【技术实现步骤摘要】
变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法


[0001]本专利技术涉及无损检测领域，特别涉及一种变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法。

技术介绍

[0002]在SiC纤维增强复合材料零部件制造过程中，为了保证质量，必须对其进行100％无损检测。X射线是目前检测SiC纤维增强复合材料零部件的一种重要检测方法，为了获得理想的X射线透照效果，实现SiC纤维增强复合材料零部件的可靠的无损检测，必须选择合适的X射线透照参数，才能得到有效反映被检测对象内部缺陷的X射线灰度图像，通常用灰度值来表征X射线图像中灰度，根据灰度值进行缺陷的判别。而X射线灰度图像的灰度值分布与X射线透照参数的选择直接相关。在其他条件一定时，X射线透照参数的选择直接与被检测SiC纤维增强复合材料零部件照射区的厚度有关。因此，X射线灰度图像的灰度值分布与被检测SiC纤维增强复合材料零部件照射区的厚度有关。
[0003]目前现有技术中对于SiC纤维增强复合材料X射线检测通常使用以下方法：
[0004]1)根据被检测SiC纤维增强复合材料零部件照射区的厚度，通过X射线透照试验本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种变厚度碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，包括：获取待检测变厚度碳化硅纤维复合材料的厚度范围；按照所述待检测变厚度碳化硅纤维复合材料的厚度范围提供多个检测试块，多个所述检测试块的内部均具有预设缺陷，且多个所述检测试块的厚度范围涵盖所述待检测变厚度碳化硅纤维复合材料的厚度范围；分别使用不同透照参数的X射线对多个所述检测试块进行检测，并分别获取多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图；根据多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图中的缺陷区和非缺陷区的灰度值确定最佳透照参数，并计算在所述最佳透照参数下的X射线的有效透照厚度范围；按照所述有效透照厚度范围，选择位于此厚度范围内的待检测变厚度碳化硅纤维复合材料，并采用所述最佳透照参数的X射线对其进行检测。2.如权利要求1所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于，按照多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图中的缺陷区和非缺陷区的灰度值确定最佳透照参数包括：分别计算多个所述检测试块在不同透照参数下的X射线灰度分布图中的缺陷区和非缺陷区的灰度值之差的绝对值，并选定缺陷区和非缺陷区的灰度值之差的绝对值最大的一组所对应的透照参数为所述最佳透照参数。3.如权利要求2所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于：所述缺陷区和所述非缺陷区的灰度值均取平均值。4.如权利要求2所述的变厚度的碳化硅纤维复合材料X射线检测方法，其特征在于：计算所述最佳透照参数所对应的多个所述检测试块各自的X射线灰度分布图的灰度值，并根据多个所述检测试块各自的厚度及其对应的X射线灰度分布图的灰度值构建厚度灰度函数，所述厚度灰度函数为h
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘菲菲，刘松平，章清乐，
申请(专利权)人：中国航空制造技术研究院，
类型：发明
国别省市：