光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质技术方案

本申请公开一种光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质，光束质量分析方法包括：将遮挡物的遮挡面按第一方向划分为多个测试区域；执行对多个所述测试区域的测试步骤；所述对多个所述测试区域的测试步骤包括：控制所述定位模块沿所述第一方向移动至所述多个测试区域中的第一测试区域，控制所述相机模块对所述遮挡物进行拍摄得到原图；基于所述原图确定目标区域；对所述目标区域进行第一方向扫描得到灰度极大值集合，对所述灰度极大值集合沿着第二方向进行均值处理，得到所述第一测试区域的光束最高灰度曲线；基于所述灰度极大值集合确定所述第一测试区域的光束倾斜情况。集合确定所述第一测试区域的光束倾斜情况。集合确定所述第一测试区域的光束倾斜情况。

【技术实现步骤摘要】
光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质


[0001]本申请涉及光束分析
，尤其涉及一种光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质。

技术介绍

[0002]红外激光定位技术广泛应用于各种非接触反馈场景，常见应用方案为激光模组投射出线激光，被测范围内有遮挡物则构成反射，使用红外相机拍摄得到数据进行坐标分析来确定被测物体的平面坐标。
[0003]常用对激光模组进行评价测试的手段为使用光束分析仪对激光输出进行监测，使用软件对采集的数据进行记录分析，通过在光学平台上改变模组距离，使用软件改变驱动电路脉冲频率、占空比、电流等参数，得到激光模组在不同条件下的输出值。但是现有使用光束分析仪进行光束质量分析成本较高。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本申请实施例通过提供一种光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质，本申请旨在解决现有使用光束分析仪进行光束质量分析成本较高的问题。
[0006]本申请实施例提供了一种光束质量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光束质量分析方法，其特征在于，应用于光束分析系统，所述光束分析系统包括：用于对待测产品的发出光束进行遮挡的遮挡物，用于对所述遮挡物反射的光束进行拍摄的相机模块，用于移动所述遮挡物的定位模块；所述方法包括：将遮挡物的遮挡面按第一方向划分为多个测试区域；执行对多个所述测试区域的测试步骤；所述对多个所述测试区域的测试步骤包括：控制所述定位模块沿所述所述第一方向移动至所述多个测试区域中的第一测试区域，控制所述相机模块对所述遮挡物进行拍摄得到原图；基于所述原图确定目标区域；对所述目标区域进行所述第一方向扫描得到灰度极大值集合，对所述灰度极大值集合沿着第二方向进行均值处理，得到所述第一测试区域的光束最高灰度曲线；基于所述灰度极大值集合确定所述第一测试区域的光束倾斜情况。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述原图确定目标区域，包括：对所述原图进行去噪及二值化变换；获取灰度连续且长度超过设定阈值的像素行；将所述像素行的左侧和右侧在所述第二方向的坐标值分别作为所述目标区域的左侧边界和右侧边界；将所述像素行在所述第一方向的最大坐标值与预设值的和作为所述目标区域的上侧边界；将所述像素行在所述第一方向的最小坐标值与预设值的差作为所述目标区域的下侧边界。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述目标区域进行所述第一方向扫描得到灰度极大值集合，对所述灰度极大值集合沿着所述第二方向进行均值处理，得到所述第一测试区域的光束最高灰度曲线，包括：在所述目标区域内，获取所述第一方向最大灰度值；在所述第二方向上均匀划分所述目标区域为多个分区，计算每个分区内的所述第一方向最大灰度值的第一均值；在预设坐标轴中依次连接所述第一均值得到第一测试区域的光束最高灰度曲线。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述灰度极大值集合确定所述第一测试区域的光束倾斜情况，包括：根据所述灰度极大值集合的每一灰度极大值确定在所述第二方向对应的基线数值集合中的基线数值，将所述灰度极大值与所述基线数值作差运算得到高度差值；在所述第二方向上均匀划分所述目标区域为多个分区，计算每个分区内的所述高度差值的第二均值；获取所述第二均值中的第一极大值和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭松明，聂奇，董英武，杜小红，夏伟伟，
申请(专利权)人：歌尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：