下载光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质的技术资料

文档序号:31021724

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本申请公开一种光束质量分析方法、设备、光束分析系统及存储介质,光束质量分析方法包括:将遮挡物的遮挡面按第一方向划分为多个测试区域;执行对多个所述测试区域的测试步骤;所述对多个所述测试区域的测试步骤包括:控制所述定位模块沿所述第一方向移动至所...
该专利属于歌尔科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过歌尔科技有限公司授权不得商用。

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