纳米孔测序电路、测序方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种纳米孔测序电路、测序方法及装置。该所述纳米孔测序电路包括至少一个信号检测电路和模数转换电路，所述信号检测电路的输入端与纳米孔测序通道连接，所述信号检测电路的输出端与所述模数转换电路的输入端相连；其中，所述信号检测电路包括：电流放大电路，所述电流放大电路的输入端与所述纳米孔测序通道连接，用于将纳米孔测序通道中产生的电流信号放大；电压转换电路，所述电压转换电路的输入端与所述电流放大电路的输出端连接，所述电压转换电路的输出端与所述模数转换电路的输入端连接，用于将放大后的电流信号转换成电压信号；所述模数转换电路，用于将所述电压信号转换成数字信号。通过上述电路，能够精确采集测序信号。采集测序信号。采集测序信号。

【技术实现步骤摘要】
纳米孔测序电路、测序方法及装置


[0001]本申请属于纳米孔测序
，尤其涉及一种纳米孔测序电路、测序方法及装置。

技术介绍

[0002]目前，纳米孔基因测序仪通过测量流过薄膜纳米孔的电流信号，来推定通过薄膜纳米孔的基因序列。该电流信号十分微弱，通常为几十皮安数量级。通常在纳米孔测序电路中，采用跨阻放大电路将微电流信号转换为电压信号进行放大，并利用模数转换电路对放大后的电压信号进行采样，得到相应的测量结果。
[0003]但是，通常在跨阻放大电路中，需要使用高阻值的电阻(几百兆欧至若干吉欧数量级)，才能将流经纳米孔的微小电流从几十皮安放大至数百毫伏。然而，在集成电路设计中，使用无源器件难以实现阻值高达吉欧数量级的电阻。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请实施例提供的一种纳米孔测序电路、纳米孔测序方法及纳米孔测序装置，能够放大流经薄膜纳米孔的电流信号，避免采用高阻值电阻对电流信号进行跨阻放大，并且可以精确采集测序信号。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种纳米孔测序电路，所述纳米孔测序电路包括至少一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纳米孔测序电路，其特征在于，所述纳米孔测序电路包括至少一个信号检测电路和模数转换电路，所述信号检测电路的输入端与纳米孔测序通道连接，所述信号检测电路的输出端与所述模数转换电路的输入端相连；其中，所述信号检测电路包括：电流放大电路，所述电流放大电路的输入端与所述纳米孔测序通道连接，用于将纳米孔测序通道中产生的电流信号放大；电压转换电路，所述电压转换电路的输入端与所述电流放大电路的输出端连接，所述电压转换电路的输出端与所述模数转换电路的输入端连接，用于将放大后的电流信号转换成电压信号；所述模数转换电路，用于将所述电压信号转换成数字信号。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电流放大电路包括至少一个电流放大单元，所述电流放大单元包括第一电流放大单元；所述第一电流放大单元包括第一晶体管、第二晶体管和第一运算放大器，其中，所述第二晶体管的PN结面积为所述第一晶体管的PN结面积的M倍，M为正数；所述第一运算放大器的反相输入端与所述纳米孔测序通道连接，所述第一运算放大器的正相输入端与偏置电压相连；所述第一晶体管的输入端与所述第一运算放大器的输出端相连，所述第一晶体管的输出端与所述第一运算放大器的反相输入端相连；所述第二晶体管的输入端与所述第一运算放大器的输出端相连。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述电流放大单元还包括第二电流放大单元；所述第二电流放大单元包括第三晶体管、第四晶体管和第二运算放大器，其中，所述第四晶体管的PN结面积为所述第三晶体管的PN结面积的N倍，N为正数；所述第二运算放大器的反相输入端与第一电流放大单元的输出端相连，所述第二运算放大器的正相输入端与偏置电压相连；所述第三晶体管的输入端与所述第二运算放大器的反相输入端相连，所述第三晶体管的输出端与所述第二运算放大器的输出端相连；在所述第二电流放大单元的数量等于所述第一电流放大单元的数量的情况下，所述第四晶体管的输出端与所述第二运算放大器的输出端相连。4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，在所述第一电流放大单元的数量比...

【专利技术属性】
技术研发人员：鄂强，王琎，
申请(专利权)人：成都齐碳科技有限公司，
类型：发明
国别省市：