一种密光检测装置制造方法及图纸

技术编号:31005091 阅读:26 留言:0更新日期:2021-11-25 23:01
本实用新型专利技术公开了一种密光检测装置,包括箱体,箱体内设有内密光室、外密光室以及用于带动反应管穿过避让通孔在外密光室与内密光室中的加液工位之间往复运动的驱动机构,内密光室侧壁上设有检测孔;箱体上设有加液机构以及用于光量子计数的发光检测机构,内密光室中设有用于遮挡检测孔的密光组件,当运输机构带动反应管运送至内密光室中与加液机构对应的加液工位时,密光组件解除对检测孔的遮挡,使得发光检测机构通过检测孔实现反应管的发光值检测。本实用新型专利技术公开的一种密光检测装置,样本输送快速、稳定,输运过程处于密光环境,另外的对于光子计数器非工作状态也完全密光,避免外界光线影响,提高检测精度。提高检测精度。提高检测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种密光检测装置


[0001]本技术涉及医疗器械
,具体地说是一种密光检测装置。

技术介绍

[0002]免疫发光类检测,是利用被检测物质发光(含自发光、电发光或化学发光)的原理,对发光过程进行检测记数,并换算为被检测物的浓度,从而确定检测结果。检测过程的前期需要对待测样品进行离心、混合、温育反应,检测过程的后期需要对发光物质进行探测。探测通常是在一个密光环境中实施。
[0003]在半自动或全自动仪器上,待测试管的放进、取出、激发液等试剂添加都在开放环境中进行,因此带来仪器密光度不够、背景值偏高等问题,从而影响检测结果的一致性和准确性。现有的全自动免疫发光分析仪中,多采用在位检测结构,即样品与专用试剂温育反应后,在环形盘或链上某个位置,附加一定的密光结构和探测器件。由于试管密光度以及进出间隙的限制,造成密光性能下降,探测背景值偏高等缺陷,降低了检测的灵敏度。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是:克服现有技术的缺陷,提供一种密光检测装置,样本输送快速、稳定,输运过程处于密光环境,另外的对于光子计数器非工作状态也完全密光,避免外界光线影响,提高检测精度。
[0005]本技术所采取的技术方案是:提供一种密光检测装置,包括箱体,所述箱体内腔的两侧分别设有内密光室和外密光室,所述内密光室靠近外密光室的一侧设有避让通孔;
[0006]所述箱体上设有与内密光室连通的加液机构;所述箱体内还设有用于放置反应管的支撑架以及用于驱动支撑架穿过避让通孔在外密光室与内密光室之间往复运动的驱动机构;
[0007]所述箱体外侧与内密光室对应的位置还设有发光检测机构,且所述内密光室的侧壁上设有与发光检测机构连通的检测孔;所述内密光室内设有用于遮挡检测孔的密光组件,当所述驱动机构带动反应管运送至内密光室中且位于加液机构的下方时,所述密光组件解除对检测孔的遮挡,使得发光检测机构通过检测孔实现反应管的发光值检测。
[0008]本技术与现有技术相比具有以下优点:
[0009]1)、在一个操作箱体内分成了外密光室和内密光室,整个传送组件设在外密光室中,PMT结构与内密光室相对应,并且外密光室中设置的传输机构能更加快速的实现检测样本的出入,同时实现在密光环境中的准确添加激发液,提升检测效率。
[0010]2)、在内密光室中设置与检测孔对应的密光组件,且根据运输机构的运行位置自行遮住PMT检测孔或与PMT检测孔分离,受益于此,PMT能够长期处于通电状态,提高了检测结果的稳定性和检测速度;同时PMT在不进行检测时不会受强环境光照射而失效。
[0011]3)、本新型的检测装置中检测结构简单,无需其他复杂的密光控制结构,提升了检
测效率,降低了成本和故障率。
[0012]进一步的,所述支撑架上设有密光盖板,当驱动机构带动支撑架运动至内密光室中的加液工位时,所述的密光盖板的周向外边缘与避让通孔的内壁相配合。此结构中,在内密光室与外密光室的连通处增加的消光结构,更加有效的实现了对光线的阻隔,保证内密光室的密光环境。
[0013]再进一步的,驱动组件包括驱动电机以及传送皮带,所述驱动电机与传送皮带传动连接,且所述传送皮带沿着箱体的长度方向设置;所述支撑架的下端与传送皮带连接。结构简单,传送精确、稳定。
[0014]作为改进的,箱体内腔的底板上沿其长度方向延伸的导向滑轨,所述导向滑轨上滑动设有滑块,所述支撑架的下端与滑块连接。此改进结构的设置,使得支撑架的运行更加的稳定,每次都能顺利穿过避让通孔,不会发生边缘的干涉碰撞。
[0015]再改进的,支撑架的下端还设有斩光片,所述外密光室中设有检测光耦,用于检测运输机构是否将反应管运输至内密光室中设定的位置。此改进结构中,通过检测光耦与斩光片实现支撑架运动行程的判定,结构简单,反应灵敏,位置判断精确;保证支撑架每一次运动至内密光室中停机时,支撑架上的反应管都能准确地位于加液工位,保证后续的加液过程更加的准确、快速,提高检测效率。
[0016]优选的,密光组件包括密光滑块,内密光室的内侧壁上沿其长度方向设有与密光滑块滑动配合的滑槽;且所述密光滑块与内密光室远离避让通孔一端侧壁之间设有弹性件,以使得所述密光滑块始终具有朝着避让通孔运动的趋势。
[0017]再改进的,所述滑槽近避让通孔的一端设有限位凸台。此改进机构用于限定密光滑块的运动行程,避免在弹性件的弹力作用下密光滑块与内密光室脱开。
[0018]再改进的,所述支撑架上还设有与检测孔相平行的挡板,所述挡板上设有透光孔,且所述透光孔的孔径小于检测孔的孔径。此改进结构的设置,可以保证每一次光量子检测时,发光部位的检测区域的一致性,即每一次的检测区域都是透光孔的面积区域。
[0019]再改进的,所述内密光室远离检测孔一端侧壁上与检测孔对应的设有反光镜。此改进结构中增加了反光镜,可以有效增加反应管中反应光的光子强度,在光量子比较弱的情况下,可以提高检测准确性。
[0020]再改进的,所述密光盖板与避让通孔的配合处为阶梯式配装结构。此改进结构中采用阶梯式配合设计更加有效的实现了对光线的密封,并且采用圆形的外轮廓这样潜在漏光边界仅为一条弧线,相比其他多边形不易在边角处有漏光,密光效果更好;从而保证内密光室中的充分密光环境,避免了环境光对检测结果的影响。
附图说明
[0021]图1是本技术的密光检测装置的结构示意图。
[0022]图2是本技术的密光检测装置去除箱体后的非检测状态结构示意图。
[0023]图3是本技术的密光检测装置去除箱体后的检测状态的结构示意图。
[0024]图4是本技术的密光检测装置的非检测状态的纵向剖视图。
[0025]图5是本技术的密光检测装置的检测状态的纵向剖视图。
[0026]图6是本技术的密光检测装置的非检测状态的横向剖视图。
[0027]图7是本技术的密光检测装置的检测状态的横向剖视图。
[0028]其中图中所示:100

反应管,01

内密光室,02

外密光室,03

加液机构,04

发光检测机构;
[0029]1‑
箱体,2

避让通孔,3

检测孔,4

支撑架,5

密光盖板,5.1

台阶凸起,6

驱动电机,7

传送皮带,8

导向滑轨,9

滑块,10

斩光片,11

检测光耦,12

密光滑块,13

滑槽,14

弹性件,15

限位凸台,16

挡板,16.1

透光孔本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种密光检测装置,其特征在于:包括箱体(1),所述箱体(1)内腔的两侧分别设有内密光室(01)和外密光室(02),所述内密光室(01)靠近外密光室(02)的一侧设有避让通孔(2);所述箱体(1)上设有与内密光室(01)连通的加液机构(03);所述箱体(1)内还设有用于放置反应管(100)的支撑架(4)以及用于驱动支撑架(4)穿过避让通孔(2)在外密光室(02)与内密光室(01)之间往复运动的驱动机构;所述箱体(1)外侧与内密光室(01)对应的位置还设有发光检测机构(04),且所述内密光室(01)的侧壁上设有与发光检测机构(04)连通的检测孔(3);所述内密光室(01)内设有用于遮挡检测孔(3)的密光组件,当所述驱动机构带动反应管(100)运送至内密光室(01)中且位于加液机构(03)的下方时,所述密光组件解除对检测孔(3)的遮挡,使得发光检测机构(04)通过检测孔(3)实现反应管(100)的发光值检测。2.根据权利要求1所述的密光检测装置,其特征在于:所述支撑架(4)上设有密光盖板(5),当驱动机构带动支撑架(4)运动至内密光室(01)中且位于加液机构(03)的下方时,所述的密光盖板(5)的周向外边缘与避让通孔(2)内壁相配合。3.根据权利要求2所述的密光检测装置,其特征在于:所述驱动机构包括驱动电机(6)以及传送皮带(7),所述驱动电机(6)与传送皮带(7)传动连接,且所述传送皮带(7)沿着箱体(1)的长度方向设置;所述支撑架(4)的下端与传送皮带(7)连接。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹继华柳旸谢小恒徐星存
申请(专利权)人:宁波美康盛德生物科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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