一种有利于提高温控精度的加热元件制造技术

本实用新型专利技术公开了一种有利于提高温控精度的加热元件，包括独立的加热体与独立的测温体，所述加热体包括加热段、加热连线段及加热焊盘，所述加热段经所述加热连线段连接所述加热焊盘，所述测温体包括测温段、测温连线段及测温焊盘，所述测温段经所述测温连线段连接所述测温焊盘，所述加热体与所述测温体至多只有一个共同焊盘，所述测温连线段的电阻值与测温段的电阻值的比值小于2%。本实用新型专利技术设置独立的加热体与测温体，令二者至多存在一个共同的焊盘，减小二者之间的相互影响，能够各自实现加热与测温的功能，同时对测温连线段的电阻进行限制，降低测温段以外区域对测温体总电阻值的影响，提高加热元件的温控性能，克服现有问题与缺陷。题与缺陷。题与缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种有利于提高温控精度的加热元件


[0001]本技术涉及气溶胶生成装置用加热元件
，更具体地说，是涉及一种有利于提高温控精度的加热元件。

技术介绍

[0002]气溶胶生成装置是一种使用加热元件将气溶胶生成基材制品加热后产生气溶胶的装置，通过将加热元件的温度控制在特定温度范围内，控制气溶胶生成基材制品释放其希望的挥发性化合物，故而，加热元件除包含加热单元外还需要设置测温单元，以检测加热元件的加热温度。在测温单元的设置方面，现有的气溶胶生成装置分为两种，一种是加热单元独立设置，额外配置测温单元进行检测，另一种是加热单元与测温单元整合形成同一整体结构。由于后者较前者具有明显的体积优势，更有利于加热元件的设计，也更符合气溶胶生成装置的使用趋势。然而在现有技术中，由于生产工艺的限制，整体式加热元件在生产过程中无法对测温单元进行校准，只能在气溶胶生成装置装配过程中进行，导致测温单元的准确度受阻，影响加热元件的性能，从而造成在实现温控过程中产生如下问题或缺陷：
[0003]1.加热元件在加热初期温度过冲大；
[0004]2.恒温加热期间温度不稳定，多呈温度下跌状态；
[0005]3.恒温温度无法准确校准，不同工作环境下的实际温度偏差不同；
[0006]4.整机温控性能一致性差。
[0007]以上不足，有待改进。

技术实现思路

[0008]为了克服现有的技术的不足，本技术提供一种有利于提高温控精度的加热元件。
[0009]本技术技术方案如下所述：
[0010]一种有利于提高温控精度的加热元件，自下至上或自内向外包括基体、独立的加热体、导热体及独立的测温体，所述加热体包括加热段、加热连线段及加热焊盘，所述加热段经所述加热连线段连接所述加热焊盘，所述导热体包覆并对齐所述加热段，所述基体与所述加热体之间、所述加热体与所述导热体之间、所述导热体与所述测温体之间均设置绝缘层，所述测温体包括测温段、测温连线段及测温焊盘，所述测温段经所述测温连线段连接所述测温焊盘，
[0011]所述加热体与所述测温体至多只有一个共同焊盘，所述测温连线段的电阻值与测温段的电阻值的比值小于2％。
[0012]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述加热段的上方设置有用于将所述加热段产生热量均匀化的导热体，所述导热体对齐并覆盖所述加热段。
[0013]进一步的，所述导热体的材料为任意一种高导热率材料，包括高导热绝缘陶瓷，如氮化铝陶瓷、氮化硅陶瓷、氮化硼陶瓷、碳化硼陶瓷、氧化铍陶瓷等，或者是金属或合金，如
银、银合金、铜及铜合金。
[0014]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述加热焊盘与所述测温焊盘分离，或，所述加热连线段与所述测温连线段仅在唯一的共同焊盘存在一处接触点。
[0015]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述测温体的总电阻值为5
‑
20Ω，所述测温体的电阻温度系数值为3000
‑
4000ppm/℃。
[0016]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述测温体的材料为铂浆、银铂浆及钨钼浆中的任意一种。
[0017]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述测温连线段的材料与所述测温段的材料一致。
[0018]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述加热体的电阻温度系数值为1000
‑
2000ppm/℃。
[0019]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述加热连线段电阻值小于所述加热段电阻值的6％。
[0020]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述加热体的材料为小电阻温度系数的银铂浆与钨钼浆中的任意一种。
[0021]上述的一种有利于提高温控精度的加热元件，所述加热体与所述测温体设置在同层结构上。
[0022]根据上述方案的本技术，其有益效果在于，本技术设置独立的加热体与测温体，令二者至多存在一个共同的焊盘，以减小二者之间的相互影响，能够各自实现加热与测温的功能，同时对测温连线段的电阻进行限制，将测温段以外区域的温度变化对测温体总电阻值的影响降低至足够微小，从而提高加热元件的温控性能，克服现有问题与缺陷。
[0023]1.极大程度地降低加热元件在加热初期因各点温度不稳定而带来的测温误差。
[0024]本技术设置独立的加热体与测温体，二者至多仅允许存在一个共同的焊盘，减少二者之间的相互影响，使得加热体与测温体在电气结构上实现独立，从而使通过加热体的电流尽可能减小对测温体的工作参数的影响，且通过将测温连线段加宽加厚或在下方设置耐高温高导电率的金属层等措施，使得测温体的测温连线段电阻值与测温段电阻值的比值小于2％，如此，即便加热元件温度尚未达到平衡而出现极限温差时，测温所得的误差也会限制在1.5摄氏度以内，且该比值越小，测温所得的误差越小。另外，导热体包覆加热体的加热段并与之接触连接、对齐，使得加热段散发的热量能够通过导热体快速地传递至加热段各处，令热量分布更为均匀，从而降低加热段内各点温度的差异。
[0025]2.提高测温精度，以获得更准确的加热元件温度信息。
[0026]将测温体与加热体彼此独立设置，故而可令测温体与加热体采用不同TCR值的酱料，令测温体的TCR(电阻温度系数)可由现有技术中的约2600
‑
3000ppm/℃增大至3000
‑
4000ppm/℃，提高了测温精度，且不影响加热的功率与加热控制。
[0027]3.极大程度地减小加热元件启动时产生的调控过冲。
[0028]设置测温体的测温连线段电阻值与测温段电阻值的比值小于2％，使得测温连线段的电阻值对测温体总阻值的影响足够小，使得由加热元件温度不平衡产生的极限测温误差非常小，令加热控制更为快捷准确，将加热过冲自20
‑
30℃减小至5
‑
10℃或以下，在理想状态下可基本消除调控过冲。
[0029]4.减小恒温加热期间温度下跌的幅度。
[0030]由于测温连线段的电阻值小于测温电阻值的2％，使得测温连线段的电阻值对测温总阻值的影响足够小，提高了测温精度，从而使得由加热元件温度不平衡产生的极限测温误差非常小，令加热元件在恒温加热期间温度下跌的幅度自现有的5
‑
10℃降至0
‑
1.5℃或以下，在理想状态下可基本消除温度下跌现象。
[0031]5.实现恒温温度的准确校准，消除不同工作环境下实际温度偏差不同的现象。
[0032]加热体与测温体的独立设置，测温体的测温连线段电阻值与测温段电阻值的比值小于2％，提高测温体的TCR(电阻温度系数)，从而提高测温精度，减小加热元件在长时间加热仍无法达到温度平衡的状态下的测温误差，可基本忽略该误差的作用，如此，实现恒温温度精确校准，消除不同工作环境下实际温度偏差不同的现象。
[0033]6.极大程度地改善加热元件温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种有利于提高温控精度的加热元件，其特征在于，包括独立的加热体与独立的测温体，所述加热体包括加热段、加热连线段及加热焊盘，所述加热段经所述加热连线段连接所述加热焊盘，所述测温体包括测温段、测温连线段及测温焊盘，所述测温段经所述测温连线段连接所述测温焊盘，所述加热体与所述测温体至多只有一个共同焊盘，所述测温连线段的电阻值与测温段的电阻值的比值小于2％。2.根据权利要求1中所述的一种有利于提高温控精度的加热元件，其特征在于，所述加热段的上方设置有用于将所述加热段产生热量均匀化的导热体，所述导热体对齐并覆盖所述加热段。3.根据权利要求2中所述的一种有利于提高温控精度的加热元件，其特征在于，所述导热体的材料为高导热率的氮化铝陶瓷、氮化硅陶瓷、氮化硼陶瓷、碳化硼陶瓷、氧化铍陶瓷、银、银合金、铜及铜合金中的任意一种。4.根据权利要求1中所述的一种有利于提高温控精度的加热元件，其特征在于，所述加热焊盘与所述测温焊盘分离，或，所述加热连线段与所述测温连线段仅在唯一的共同焊盘存在一处接触...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄光建，
申请(专利权)人：深圳市康柏特科技开发有限公司，
类型：新型
国别省市：