测试路径统筹方法、电子设备及存储介质技术

一种测试路径统筹方法应用于电子设备中，包括：获取待测试的多个产品的信息，所述多个产品的信息包括产品的数量，每个产品的测试项目、测试项目需要使用到的测试设备、每个测试项目的测试时长；获取每个测试设备的信息，所述测试设备的信息包括是否在进行产品测试及正在进行产品测试的产品的测试信息，所述产品的测试信息包括产品已测试的时长及测试结果；及根据所述多个产品的信息及每个测试设备的信息按照预设规则规划每个产品的测试路径，所述测试路径包括每个所述产品进行测试的先后顺序及每个产品的测试项目进行测试的先后顺序。本发明专利技术还提供了一种执行上述测试路径统筹方法的电子设备及存储介质。方法的电子设备及存储介质。方法的电子设备及存储介质。

【技术实现步骤摘要】
测试路径统筹方法、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及产品测试，特别涉及一种测试路径统筹方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]通讯产品在出货之前需要进行多项测试，工厂因成本与空间考虑，有的类型的测试设备购置多，有的类型的测试设备购置少，在对多个产品进行测试时，由于产品有多个测试项目，往往出现在一产品要使用一测试设备进行测试时，该测试设备正被其他产品占用，而有的测试设备可能正未对任何产品进行测试，如此，使得整个测试时长不理想。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，有必要提供一种可减少多个产品在测试时所需时长的测试路径统筹方法、电子设备及存储介质。
[0004]一种测试路径统筹方法，应用于电子设备中，所述测试路径统筹方法包括：获取待测试的多个产品的信息，所述多个产品的信息包括产品的数量，每个产品的测试项目、测试项目需要使用到的测试设备、每个测试项目的测试时长；获取每个测试设备的信息，所述测试设备的信息包括是否在进行产品测试及正在进行产品测试的产品的测试信息，所述产品的测试信息包括产品已测试的时长及测试结本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试路径统筹方法，应用于电子设备中，其特征在于：所述测试路径统筹方法包括：获取待测试的多个产品的信息，所述多个产品的信息包括产品的数量，每个产品的测试项目、测试项目需要使用到的测试设备、每个测试项目的测试时长；获取每个测试设备的信息，所述测试设备的信息包括是否在进行产品测试及正在进行产品测试的产品的测试信息，所述产品的测试信息包括产品已测试的时长及测试结果；及根据所述多个产品的信息及每个测试设备的信息按照预设规则规划每个产品的测试路径，所述测试路径包括每个所述产品进行测试的先后顺序及每个产品的测试项目进行测试的先后顺序。2.如权利要求1所述的测试路径统筹方法，其特征在于，所述多个产品包括多种产品，所述多个产品的信息包括每种产品的数量。3.如权利要求1所述的测试路径统筹方法，其特征在于，还包括步骤：判断获取的所述多个产品的信息中是否包括每个产品的测试项目的测试时长；及在所述多个产品的信息中并非包括每个产品的测试项目的测试时长时，输出信息不完整的提醒信息。4.如权利要求1所述的测试路径统筹方法，其特征在于，还包括步骤：传输所述测试路径至执行装置，所述执行装置用于移送所述多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：林芷瑄，林尚毅，
申请(专利权)人：鸿富锦精密电子天津有限公司，
类型：发明
国别省市：