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一种测试路径统筹方法应用于电子设备中，包括：获取待测试的多个产品的信息，所述多个产品的信息包括产品的数量，每个产品的测试项目、测试项目需要使用到的测试设备、每个测试项目的测试时长；获取每个测试设备的信息，所述测试设备的信息包括是否在进行产品...
该专利属于鸿富锦精密电子（天津）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿富锦精密电子（天津）有限公司授权不得商用。

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