闪存检测分类方法技术

本发明专利技术公开了一种闪存检测分类方法，其包括：按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级；将闪存中预留一组好块作为替换块；通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换；由于该方法在现有的静态分类法前采用了特殊的扫描方法，比只利用静态方法分类，更为准确；另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿，可以减少闪存出错的几率，更好的使用闪存。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及闪存存储领域，尤指一种，其可将闪存 精确分类，充分利用闪存容量。
技术介绍
闪存闪存是Flash Ram的音译。闪存作为一种非挥发性(简单说就 是在不加电的情况下数据也不会丟失，区别于目前常用的计算机内存)的 半导体存储芯片，具有体积小、功耗低、不易受物理破坏的优点，是移动 数码产品的理想存储介质，目前，其普遍应用在数码电视、数码便携式摄 像机、移动电话、数码相机、掌上电脑(PDA)、游戏机、MP3播放器等设 备中，闪存的种类大致分为储存容量大的数据存储型(NAND)和处理 速度快的代码存储型(NOR)两种。闪存的结构特点，其是由很多个块(block)组成，每个块(block)包 括64页(page),每一个页(page)包括4个扇区(sector)。闪存的特定不是很稳定，其一般来说，都会有坏块，所以，要在使用 前，将坏块数找出来，屏蔽坏块数，防止写文件时写到坏块区，造成文件 丢失。另外，为了充分利用不同容量的闪存，现有的办法是4艮据闪存的坏块 数来为闪存分类，将闪存分为不同的级别，以将不同级别的闪存作不同的 用处。如图l所示，现有的检测分类方法，主要包括以下步骤步骤101:将闪存设于控制芯片厂家生产的测试架上； 步骤102:将测试架连接到测试单元上， 一个测试单元可连接多个测 试架；步骤103:通过安装在测试单元中的量产模块，可以扫描出闪存的好 坏块；步骤104:根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。其中，安装在测试单元中的量产模块，是用来提供给卡生产厂商批量 生产存储卡的，功能包括卡扫描、格式化和生产选项配置。在进行每种 卡产品前，首先要配置好参数，然后量产模块根据参数扫描、格式化卡， 并将需要的文件写入到卡，完成生产。利用上述的分类方法，是可以4艮据扫描结果，将闪存分为不同的级别， 但是，由于闪存本身的特性所限，其本质是不稳定的，即本次扫描的坏块， 下次再扫描不一定是坏块，而本次扫描的好块，下次再扫描不一定还是好 块，因此，这种静态分类方法较为粗略，不精确。另外，根据扫描结果，将闪存分为不同的等级，不同等级的闪存用于 不同i也方。即使这样，由于闪存的不稳定性，扫描时的好块，如果在使用过程中 发现是坏块的话，将会影响闪存的使用。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供了一种，其可克服现有检 测方法的缺陷，对闪存进行精确分类。本专利技术的次要目的在于提供一种闪存的动态补偿方法，其可对存在坏 块的闪存进行动态补偿，确保数据安全。为了实现上述专利技术的目的，本专利技术所采用的技术方案为一种，其包括按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作才莫式扫描闪存样品； 根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上； 通过量产工具，才艮据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况； 根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。所述的，其在扫描闪存中，找出的闪存特性为，奇 数块的坏块比例较偶数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时， 其对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。所述的，其在扫描闪存中，其找出的闪存特性为， 偶数块的坏块比例4支奇数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时， 对奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。所述的，其在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其 闪存按顺序写入是正确的，但随机写入会出错。所述的，其还包括以下步骤将闪存中预留 一组好块作为替换块；通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换。 所述的，其还包括以下步骤将坏块放在该组好块 后面。采用上述方法后，由于该方法在现有的静态分类法前采用了特殊的扫 描方法，即读写操作模式扫描闪存样品，这种先利用前期的扫描总结出闪 存特性，再利用静态的分类方法针对特性来分，比只利用静态方法分类， 更为准确；另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态 补偿，可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。附图说明图1为现有技术中闪存的分类方法流程图； 图2为本专利技术方法的流程图。具体实施例方式本专利技术提供一种，包括步骤按照闪存类别抽出部 分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存 特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；将测试 架连接到电脑主机上；通过安装在电脑中的量产工具，才艮据闪存特性来扫 描闪存的好坏块情况；才艮据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。在该检测分类方法中，其主要是在静态分类前，先采用特殊的扫描方 法，即读写操作模式扫描闪存样品，每种闪存都有它的特性，本领域的技 术人员都知道，如果能先利用前期的扫描总结出闪存特性，再利用静态的 分类方法针对特性来分，比只利用静态方法分类，更为准确。另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿， 可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和实 施方式对本专利技术作进一步的详细说明。图2出示了本专利技术的流程图，如图所示，包括步骤201:按照闪存类别抽出部分闪存样品；闪存的类型主要有Norflash、 AG-AND flash、 Nand flash。每种闪存 都具有不同的特性。NOR的特点是芯片内执行(XIP， eXecute In Place),这样应用程序可以 直接在flash闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中。NOR的传输效 率很高，在1~4MB的小容量时具有很高的成本效益，但是很低的写入和 擦除速度大大影响了它的性能。NAND结构能提供极高的单元密度，可以达到高存储密度，并且写入 和擦除的速度也很快。应用NAND的困难在于flash的管理和需要特殊的 系统j妻口。AG-AND Flash,拥有高速写入的特性，不但组件大小和NAND型接 近，而且拥有高速写入的速度10MB/s，比起一般NAND型4MB/s快上2.5倍。即使为同一种类型的闪存，其不同的批次，可能特性都不相同，所以， 首先要一个批次中抽出闪存样品。步骤202:用读、写操作模式扫描闪存样品；在闪存未初始化之前，只能通过读或写的操作模式扫描闪存，了解其 内部的特性。步骤203: 4艮据扫描结果，找出闪存特性；比如扫描闪存的结果发现奇数块的坏块比例较偶数块高；或者是发 现偶数块的坏块比例较奇数块高；步骤204:将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；一个测试架可以i殳一个闪存，在测试时，可以同时4吏用一组测试架， 一般是16个，但为了节约成本和时间，最好是将特性相同的闪存一起设在 测试架上，如一组全是奇数块的坏块比例较偶数块高的闪存，或全是偶数 块的坏块比例较奇数块高的闪存，这样，测试时，可采用相同的测试方法。步骤205:通过量产工具，才艮据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；比如，若扫描的闪存特性是奇数块的坏块比例较偶数块高；则在扫描 时，对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。若扫描的闪存特性是偶数块的坏块比例较奇数块高，则在扫描时，对 奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其闪存按顺序写入是正确的，但 随机写入会出错，对于这种类型的闪存，就要重点多次扫描。步骤206:根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。一般来说，会将几乎没有坏块的闪存定义为I级；将只有少数的坏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种闪存检测分类方法，其特征在于：包括　按照闪存类别抽出部分闪存样品；　用读、写操作模式扫描闪存样品；　根据扫描结果，找出闪存特性；　将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；　通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；　根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。

【技术特征摘要】
1.一种闪存检测分类方法，其特征在于包括按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。2、 如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于在扫描 闪存中，找出的闪存特性为，奇数块的坏块比例4交偶数块高；则在通过 量产工具对闪存进行再次扫描时，其对偶数块扫描一次，对奇数块进行 多次扫描。3、 如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于在扫描 ...

【专利技术属性】
技术研发人员：范勤，
申请(专利权)人：芯邦科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]