一种电子元件性能数据检测方法技术

本发明专利技术提供的一种电子元件性能数据检测方法，涉及数据处理技术领域。在本发明专利技术中，获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据，其中，每一组性能检测数据包括对应的一个电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据，性能检测设备用于在检测得到性能检测数据之后发送给性能数据处理服务器；基于多组性能检测数据，确定性能检测设备是否存在异常；若确定性能检测设备不存在异常，则对多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个电子元件的性能是否存在异常的解析结果。采用以上步骤对电子元件的性能检测异常解析，可以使得得到的解析结果具有较高的可靠性。得到的解析结果具有较高的可靠性。得到的解析结果具有较高的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件性能数据检测方法


[0001]本专利技术涉及数据处理
，具体而言，涉及一种电子元件性能数据检测方法。

技术介绍

[0002]在电子元件的生产侧，一般会在电子元件的生产完成之后，且在投入市场之前，对电子元件的性能进行测试，以确定电子元件的性能是否存在异常，如在异常时可以销毁对应的电子元件或进行重新的改良等。
[0003]但是，经专利技术人研究发现，在现有技术中，在对电子元件的性能进行测试分析时，一般是将电子元件的测试数据进行单独分析，以得到对应的检测结果，如此，就会导致检测结果的可靠性不佳的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种电子元件性能数据检测方法，以使得得到的解析结果具有较高的可靠性。
[0005]为实现上述目的，本专利技术实施例采用如下技术方案：
[0006]一种电子元件性能数据检测方法，应用于性能数据处理服务器，所述电子元件性能数据检测方法包括：
[0007]获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据，其中，每一组所述性能检测数据包括对应的一个所述电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据，所述性能数据处理服务器通信连接有至少一个所述性能检测设备，所述性能检测设备用于在检测得到所述性能检测数据之后，将所述性能检测数据发送给所述性能数据处理服务器；
[0008]基于所述多组性能检测数据，确定所述性能检测设备是否存在异常；
[0009]若确定所述性能检测设备不存在异常，则对所述多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个所述电子元件的性能是否存在异常的解析结果。
[0010]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据的步骤，包括：
[0011]响应对应用户进行的性能检测操作，生成对应的性能检测控制参数；
[0012]将所述性能检测控制参数发送给通信连接的至少一个性能检测设备，并获取所述至少一个性能检测设备基于所述性能检测控制参数发送的多组性能检测数据，其中，所述至少一个性能检测设备用于基于获取到的所述性能检测控制参数对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理，得到对应的多组性能检测数据。
[0013]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述响应对应用户进行的性能检测操作，生成对应的性能检测控制参数的步骤，包括：
[0014]响应对应用户进行的第一性能检测操作，生成对应的第一性能检测控制参数，其
中，所述第一性能检测控制参数用于表征对每一个所述电子元件进行性能检测处理的检测次数；
[0015]响应对应用户进行的第二性能检测操作，生成对应的第二性能检测控制参数，其中，所述第二性能检测控制参数用于表征对每一个所述电子元件进行性能检测处理的过程中相邻两次性能检测处理的检测间隔时间。
[0016]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述基于所述多组性能检测数据，确定所述性能检测设备是否存在异常的步骤，包括：
[0017]针对每一组性能检测数据，对该组性能检测数据包括的多条性能检测数据进行特征解析处理，得到该组性能检测数据对应的性能特征信息；
[0018]基于每一组性能检测数据对应的所述性能特征信息确定所述性能检测设备是否存在异常。
[0019]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述针对每一组性能检测数据，对该组性能检测数据包括的多条性能检测数据进行特征解析处理，得到该组性能检测数据对应的性能特征信息的步骤，包括：
[0020]针对每一组性能检测数据，确定该组性能检测数据包括的每一条性能检测数据是否属于预先配置的性能检测数据标准范围内；
[0021]针对每一组性能检测数据，统计该组性能检测数据中不属于所述性能检测数据标准范围内的性能检测数据的数量占比，并将所述数量占比作为该组性能检测数据对应的性能特征信息。
[0022]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述基于每一组性能检测数据对应的所述性能特征信息确定所述性能检测设备是否存在异常的步骤，包括：
[0023]针对每一组性能检测数据，确定该组性能检测数据对应的所述性能特征信息是否满足预先配置的性能特征条件；
[0024]统计不满足所述性能特征条件的性能特征信息对应的性能检测数据的组数，得到对应的第一组数，并计算所述第一组数在所述多组性能检测数据中的占比，得到对应的第一占比信息；
[0025]确定所述第一占比信息与预先配置的占比阈值信息之间的大小关系；
[0026]若确定所述第一占比信息大于或等于所述占比阈值信息，则确定所述性能检测设备存在异常，若确定所述第一占比信息小于所述占比阈值信息，则确定所述性能检测设备不存在异常。
[0027]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述若确定所述性能检测设备不存在异常，则对所述多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个所述电子元件的性能是否存在异常的解析结果的步骤，包括：
[0028]若确定所述性能检测设备不存在异常，则针对每一组性能检测数据，确定该组性能检测数据包括的每一条性能检测数据是否属于预先配置的性能检测数据标准范围内；
[0029]若存在包括的每一条性能检测数据属于所述性能检测数据标准范围内的至少一组性能检测数据，则针对所述至少一组性能检测数据中的每一组性能检测数据，确定该组性能检测数据的变化趋势信息是否满足预先配置的变化趋势标准条件；
[0030]针对至少一组性能检测数据中的每一组性能检测数据，若确定该组性能检测数据的变化趋势信息满足所述变化趋势标准条件，则该组性能检测数据对应的电子元件的性能不存在异常；
[0031]针对至少一组性能检测数据中的每一组性能检测数据，若确定该组性能检测数据的变化趋势信息不满足所述变化趋势标准条件，则该组性能检测数据对应的电子元件的性能存在异常。
[0032]在一些优选的实施例中，在上述电子元件性能数据检测方法中，所述若确定所述性能检测设备不存在异常，则对所述多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个所述电子元件的性能是否存在异常的解析结果的步骤，还包括：
[0033]若存在包括的至少一条性能检测数据不属于所述性能检测数据标准范围内的至少一组性能检测数据，则针对每一组性能检测数据，对该组性能检测数据包括的多条性能检测数据按照对应的检测时间的先后关系进行排序，得到该组性能检测数据对应的性能检测数据序列；
[0034]针对每一条所述性能检测数据序列，对该性能检测数据序列执行目标筛选操作，得到该性能检测数据序列对应的性能检测数据子序列；
[0035]基于每一个所述电子元件对应的所述性能检测数据子序列，确定每一个所述电子元件是否存在异常的解析结果。
[0036]在一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件性能数据检测方法，其特征在于，应用于性能数据处理服务器，所述电子元件性能数据检测方法包括：获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据，其中，每一组所述性能检测数据包括对应的一个所述电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据，所述性能数据处理服务器通信连接有至少一个所述性能检测设备，所述性能检测设备用于在检测得到所述性能检测数据之后，将所述性能检测数据发送给所述性能数据处理服务器；基于所述多组性能检测数据，确定所述性能检测设备是否存在异常；若确定所述性能检测设备不存在异常，则对所述多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个所述电子元件的性能是否存在异常的解析结果。2.根据权利要求1所述的电子元件性能数据检测方法，其特征在于，所述获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据的步骤，包括：响应对应用户进行的性能检测操作，生成对应的性能检测控制参数；将所述性能检测控制参数发送给通信连接的至少一个性能检测设备，并获取所述至少一个性能检测设备基于所述性能检测控制参数发送的多组性能检测数据，其中，所述至少一个性能检测设备用于基于获取到的所述性能检测控制参数对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理，得到对应的多组性能检测数据。3.根据权利要求2所述的电子元件性能数据检测方法，其特征在于，所述响应对应用户进行的性能检测操作，生成对应的性能检测控制参数的步骤，包括：响应对应用户进行的第一性能检测操作，生成对应的第一性能检测控制参数，其中，所述第一性能检测控制参数用于表征对每一个所述电子元件进行性能检测处理的检测次数；响应对应用户进行的第二性能检测操作，生成对应的第二性能检测控制参数，其中，所述第二性能检测控制参数用于表征对每一个所述电子元件进行性能检测处理的过程中相邻两次性能检测处理的检测间隔时间。4.根据权利要求1所述的电子元件性能数据检测方法，其特征在于，所述基于所述多组性能检测数据，确定所述性能检测设备是否存在异常的步骤，包括：针对每一组性能检测数据，对该组性能检测数据包括的多条性能检测数据进行特征解析处理，得到该组性能检测数据对应的性能特征信息；基于每一组性能检测数据对应的所述性能特征信息确定所述性能检测设备是否存在异常。5.根据权利要求4所述的电子元件性能数据检测方法，其特征在于，所述针对每一组性能检测数据，对该组性能检测数据包括的多条性能检测数据进行特征解析处理，得到该组性能检测数据对应的性能特征信息的步骤，包括：针对每一组性能检测数据，确定该组性能检测数据包括的每一条性能检测数据是否属于预先配置的性能检测数据标准范围内；针对每一组性能检测数据，统计该组性能检测数据中不属于所述性能检测数据标准范围内的性能检测数据的数量占比，并将所述数量占比作为该组性能检测数据对应的性能特征信息。
6.根据权利要求4所述的电子元件性能数据检测方法，其特征在于，所述基于每一组性能检测数据对应的所述性能特征信息确定所述性能检测设备是否存在异常的步骤，包括：针对每一组性能检测数据，确定该组性能检测数据对应的所述性能特征信息是否满足预先配置的性能特征条件；统计不满足所述性能特征条件的性能特征信息对应的性能检测数据的组数，得到对应的第一组数，并计算所述第一组数在所述多组性能检测数据中的占比，得到对应的第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：段华，沈采学，申海平，
申请(专利权)人：段华，
类型：发明
国别省市：