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本发明提供的一种电子元件性能数据检测方法，涉及数据处理技术领域。在本发明中，获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据，其中，每一组性能检测数据包括对应的一个电子元件通过进行多次性能检测得到的多条...
该专利属于段华所有，仅供学习研究参考，未经过段华授权不得商用。

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