一种电子器件分析测试仪器制造技术

本发明专利技术公开了一种电子器件分析测试仪器，包括箱体、红外传感器，所述箱体内设有分析腔及测试腔，所述测试腔远离所述分析腔的侧壁固定设有红外射灯，所述测试腔靠近所述分析腔的侧壁连通设有滑槽，所述滑槽滑动设有移动连接块，所述移动连接块一端位于所述测试腔，所述移动连接块设有开口朝向所述测试腔的三个接口，三个所述接口呈阵列分布，本发明专利技术用于红外传感器的分析测试或实验，也可通过更换红外射灯、检验设备及测试程序来对其他电子器件进行检测，应用范围广，并且为测试提供了一个密闭的空间，避免外界环境因素干扰，且减少了使用者与电子器件的接触，防止人为性的安装或其他类型失误导致结果不准确。类型失误导致结果不准确。类型失误导致结果不准确。

【技术实现步骤摘要】
一种电子器件分析测试仪器


[0001]本专利技术涉及电子器件
，具体为一种电子器件分析测试仪器。

技术介绍

[0002]各种电子器件在批量生产后，由于外界环境因素或自身使用材料而导致的质量问题，会使生产后的电子器件出现一定的瑕疵品，导致在后期投入使用时，出现各种问题；
[0003]红外感应传感器在进行质检或用作实验时，需要处于一个较为密闭的环境，防止外界红外光线对传感器的影响。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题是提供一种电子器件分析测试仪器，解决了电子器件容易受外界影响而影响实验及测试的问题。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现的。
[0006]本专利技术的一种电子器件分析测试仪器，包括箱体、红外传感器，所述箱体内设有分析腔及测试腔，所述测试腔远离所述分析腔的侧壁固定设有红外射灯，所述测试腔靠近所述分析腔的侧壁连通设有滑槽，所述滑槽滑动设有移动连接块，所述移动连接块一端位于所述测试腔，所述移动连接块设有开口朝向所述测试腔的三个接口，三个所述接口呈阵列分布，所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁贯穿设有固定连接块，所述固定连接块一端位于所述分析腔内，所述固定连接块与所述移动连接块滑动连接，所述固定连接块位于所述分析腔内的一端固定设有检验设备，所述固定连接块设有开口朝向所述移动连接块且朝上的L型槽，所述移动连接块设有开口朝向所述L型槽的连接槽，所述连接槽与所述固定连接块之间滑动设有L型块。
[0007]作为优选的，所述测试腔侧壁贯穿设有通槽，所述通槽与所述滑槽连通，所述通槽滑动设有挡板，所述挡板与所述通槽之间连接设有拉伸弹簧。
[0008]作为优选的，所述接口侧壁设有两个弹簧槽，两个所述弹簧槽以所述接口为对称中心对称，所述弹簧槽滑动设有夹片，所述夹片一端位于所述接口内，所述夹片与所述弹簧槽之间连接设有压缩弹簧。
[0009]作为优选的，所述移动连接块设有两个卡槽，所述卡槽位于所述滑槽内并与所述滑槽连通，两个所述卡槽以所述移动连接块为对称中心对称。
[0010]作为优选的，所述滑槽靠近所述分析腔的侧壁连通设有两个转动槽，两个所述转动槽以所述固定连接块为对称中心对称，所述转动槽下侧壁转动设有转轴，所述转轴固定设有爪夹，所述爪夹另一端位于所述卡槽内。
[0011]作为优选的，所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁连通设有传动腔，所述传动腔与所述转动槽连通，所述传动腔与所述滑槽连通，所述传动腔位于所述固定连接块上侧，所述传动腔靠近所述测试腔的侧壁转动设有传动轴，所述传动轴上固定设有传动齿轮，所述移动连接块上端固定设有传动齿条，所述传动齿条与所述传动齿轮啮合连接。
[0012]作为优选的，所述传动腔侧壁间转动设有从动轴，所述从动轴与所述传动轴之间连接设有第一锥齿轮组，所述从动轴上固定设有从动齿轮，所述L型块上端固定设有从动齿条，所述从动齿条与所述从动齿轮啮合连接，所述从动轴与所述转轴之间连接设有第二锥齿轮组。
[0013]作为优选的，所述测试腔远离所述挡板的侧壁固定设有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆与所述移动连接块固定连接。
[0014]作为优选的，所述红外传感器一端固定设有三个引脚。
[0015]本专利技术的有益效果：本专利技术用于红外传感器的分析测试或实验，也可通过更换红外射灯、检验设备及测试程序来对其他电子器件进行检测，应用范围广，并且为测试提供了一个密闭的空间，避免外界环境因素干扰，且减少了使用者与电子器件的接触，防止人为性的安装或其他类型失误导致结果不准确。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本专利技术实施例的结构示意图；
[0018]图2是本专利技术实施例图1中A
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A的结构示意图；
[0019]图3是本专利技术实施例图1中B处放大示意图。
[0020]图4是本专利技术实施例图2中C
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C的结构示意图。
[0021]图5是本专利技术实施例图2中D处放大示意图。
[0022]图6是本专利技术中将传感器放入时的工作状态图。
[0023]图7是本专利技术进行分析测试时的工作状态图。
[0024]图8是本专利技术实施例图7中E处放大示意图。
具体实施方式
[0025]下面结合图1
‑
8对本专利技术进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
[0026]结合附图1
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8所述的一种电子器件分析测试仪器，包括箱体11、红外传感器43，所述箱体11内设有分析腔12及测试腔13，所述测试腔13远离所述分析腔12的侧壁固定设有红外射灯20，所述测试腔13靠近所述分析腔12的侧壁连通设有滑槽22，所述滑槽22滑动设有移动连接块17，所述移动连接块17一端位于所述测试腔13，所述移动连接块17设有开口朝向所述测试腔13的三个接口19，三个所述接口19呈阵列分布，所述分析腔12靠近所述测试腔13的侧壁贯穿设有固定连接块26，所述固定连接块26一端位于所述分析腔12内，所述固定连接块26与所述移动连接块17滑动连接，所述固定连接块26位于所述分析腔12内的一端固定设有检验设备27，所述固定连接块26设有开口朝向所述移动连接块17且朝上的L型槽25，所述移动连接块17设有开口朝向所述L型槽25的连接槽23，所述连接槽23与所述固定连接块26之间滑动设有L型块24。
[0027]有益地，所述测试腔13侧壁贯穿设有通槽45，所述通槽45与所述滑槽22连通，所述通槽45滑动设有挡板21，所述挡板21与所述通槽45之间连接设有拉伸弹簧28。
[0028]有益地，所述接口19侧壁设有两个弹簧槽41，两个所述弹簧槽41以所述接口19为对称中心对称，所述弹簧槽41滑动设有夹片18，所述夹片18一端位于所述接口19内，所述夹片18与所述弹簧槽41之间连接设有压缩弹簧40。
[0029]有益地，所述移动连接块17设有两个卡槽42，所述卡槽42位于所述滑槽22内并与所述滑槽22连通，两个所述卡槽42以所述移动连接块17为对称中心对称。
[0030]有益地，所述滑槽22靠近所述分析腔12的侧壁连通设有两个转动槽30，两个所述转动槽30以所述固定连接块26为对称中心对称，所述转动槽30下侧壁转动设有转轴39，所述转轴39固定设有爪夹29，所述爪夹29另一端位于所述卡槽42内。
[0031]有益地，所述分析腔12靠近所述测试腔13的侧壁连通设有传动腔35，所述传动腔35与所述转动槽30连通，所述传动腔35与所述滑槽22连通，所述传动腔35位于所述固定连接块26上侧，所述传动腔35靠近所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子器件分析测试仪器，包括箱体、红外传感器，其特征在于：所述箱体内设有分析腔及测试腔，所述测试腔远离所述分析腔的侧壁固定设有红外射灯，所述测试腔靠近所述分析腔的侧壁连通设有滑槽，所述滑槽滑动设有移动连接块，所述移动连接块一端位于所述测试腔，所述移动连接块设有开口朝向所述测试腔的三个接口，三个所述接口呈阵列分布，所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁贯穿设有固定连接块，所述固定连接块一端位于所述分析腔内，所述固定连接块与所述移动连接块滑动连接，所述固定连接块位于所述分析腔内的一端固定设有检验设备，所述固定连接块设有开口朝向所述移动连接块且朝上的L型槽，所述移动连接块设有开口朝向所述L型槽的连接槽，所述连接槽与所述固定连接块之间滑动设有L型块。2.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述测试腔侧壁贯穿设有通槽，所述通槽与所述滑槽连通，所述通槽滑动设有挡板，所述挡板与所述通槽之间连接设有拉伸弹簧。3.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述接口侧壁设有两个弹簧槽，两个所述弹簧槽以所述接口为对称中心对称，所述弹簧槽滑动设有夹片，所述夹片一端位于所述接口内，所述夹片与所述弹簧槽之间连接设有压缩弹簧。4.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述移动连接块设有两个卡槽，所述卡槽位于所述滑槽内并与所述滑槽连通...

【专利技术属性】
技术研发人员：高洁，
申请(专利权)人：广州皓景数码科技有限公司，
类型：发明
国别省市：