读和/或写光记录介质的装置制造方法及图纸

一种读和／或写光记录介质（４）的装置，具有跟踪单元（１３）、四象限检测器（５）、两个求和点（１５，１６）和按差分相位检波方法跟踪的相位比较器（２０），及可由控制单元（２４）设定的两可变延迟元件（２６Ａ，２６Ｂ）。本发明专利技术能对轨道误差信号（ＤＰＤ－ＴＥ）因而跟踪信号中由透镜移动造成的误差进行最佳补偿。本发明专利技术设置了干扰信号产生单元（２２），其输出端与跟踪单元（１３）连接，还与控制单元（２４）第一输入端连接，控制单元第二输入端与相位比较器（２０）输出端连接。本发明专利技术适合于读／写光记录介质的装置。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及读和/或写光记录介质的装置，该装置具有可变延迟元件，本专利技术还涉及设定这些延迟元件的延时的方法。US-A-4,785,441公开了这种装置。在该公知装置中，通过根据在操作期间执行的相位比较改变可变延迟元件的延时来补偿由光记录介质的倾斜或由光记录介质中的不同的凹坑深度造成的跟踪信号误差。可以认为该公知装置有这样的不足，即虽然能够相当出色地补偿由光记录介质的倾斜或由光记录介质的不同凹坑深度造成的误差，但由透镜移动造成的误差的检测特性却不够理想。这是因为来自其它误差源的误差部分、例如由于老化造成的元件性质的变化或不断改变的环境状况也有影响的缘故。这就使得补偿实际上并不是最佳的。本专利技术的目的是提出能够对轨道误差信号因而跟踪信号的误差-这种误差是由透镜移动造成的-进行最合理补偿的装置。根据本专利技术，利用以下给出的这些特征实现该目的。一种读和/或写光记录介质的装置，具有跟踪单元，四象限检测器，两个求和点，根据差分相位检波方法进行跟踪的相位比较器(和可由控制单元进行设定的两个可变延迟元件，其特征在于，还具有干扰信号产生单元，其输出端与跟踪单元连接，还与控制单元的第一输入端连接，控制单元第二输入端与相位比较器的输出端连接。在这种情况下，把人为干扰信号传送给跟踪单元，把由此造成的轨道误差信号与该干扰信号作比较，把结果传送给控制单元。这样做的优点是最佳地补偿了由透镜偏转造成的轨道误差信号的误差。干扰信号产生单元实现透镜的偏转，由此产生轨道误差信号的误差，即相位比较器的输出信号。只要不闭合跟踪控制环，这一误差就得不到补偿。由于轨道误差信号得不到任何补偿，所以透镜偏转造成的误差一开始就显现出来。利用控制单元对干扰信号和轨道误差信号进行比较，并根据该比较的结果最佳地设定可变延迟元件的延时。这就意味着在进行了设定之后，就没有或只有非常弱的干扰信号剩余影响仍留在轨道误差信号之中。根据本专利技术的第一种变型，提供了另外两个具有固定延时的延迟元件，结果就是每一个检测器单元被分配了一延迟元件。通过与固定延迟元件的延时相比，缩短或加长可变延迟元件的延时，就能够相对各对检测器单元延迟另一对检测器单元的输出信号。这样做的优点在于利用少量延迟元件仍能够获得大的延时量。根据本专利技术，另一种变型提供了被分配给四像限检测器的每一个检测器单元的可变延迟元件，还提供了用来把各对检测器单元与控制单元的控制输出端相连的开关单元。这样做的优点在于由于更适合的检测器单元对所输出信号被相关延迟元件在时间上进行了延迟，所以简化了适合于最佳补偿的延时的设定。根据第一实施例，由于所有延迟元件都可设计成为仅单向可调的，所以在本专利技术中可以使用结构更简单、于是成本-效用更好的延迟元件。也就是说它们的可变延时从开始值、最好是从零起增大。这样一来，就不需要以从其起增大或减小延时的延迟的平均开始值开始进行。此外，每一检测器单元都具有可变延迟元件不仅能够补偿由透镜偏转造成的误差，而且能够补偿轨道误差信号的偏移或具有其他适应性，例如对由元件公差造成的不希望有的延迟或类似的干扰影响的适应。本专利技术的还一种变型是只使用了两个可变延迟元件来解决问题，利用开关单元分别把这些元件连接至其信号要被延迟的检测器单元。这一变型的优点是只需要沿一个方向改变延迟元件的延时，例如只加长延时。控制单元最好具有比较单元，把相位比较器的输出信号和干扰信号产生单元的输出信号提供给该比较单元的输入端，该比较单元的输出信号用来设定可变延迟元件。这样做的优点是比较单元提供了方向信号和绝对值信号，该方向信号指出要被设定的延迟应当是正的还是负的，或者指出哪一对检测器单元要被延迟，该绝对值信号表示所需延迟的大小。比较单元最好具有同步解调器。根据本专利技术的更进一步的有益改进，控制单元具有偏移确定单元，把相位比较器的输出信号提供给该偏移确定单元的输入端，该偏移确定单元的输出信号用来设定可变延迟元件。这样做的优点是在轨道误差信号中可能有的偏移可通过设定延迟元件的延时来同样得到补偿。为此，最好对轨道误差信号进行积分，并根据积分器的输出信号的正负号和绝对值确定要被延迟的检测器单元对和所需延迟的大小。最好把用于偏移和用于由透镜偏转造成的误差的两个误差补偿单元组合在一起，以便能够产生尽可能没有误差的轨道误差信号。本专利技术在四象限检测器的检测器单元的输出信号的求和点和相位比较器之间设置了至少一个延迟元件。这样做的优点是利用与透镜移动的补偿无关的延迟元件实现了偏移补偿。在这种情况下，本专利技术提供了采用两个可变延迟元件和一个简单的开关单元的解决方案以及采用一个延迟元件和一个稍复杂一些的开关单元的解决方案。这样做的优点是根据已知的边界条件能够实现在每种情况下就成本而言都是最佳的方式。一般来说，由于采用较少延迟元件的解决方案在用集成电路来实现时占用较小的芯片面积，所以在本专利技术中优先采用这一方案。本专利技术还利用了一电路方框来把控制单元的输出信号分成绝对值部分和正负号部分。这样做的优点在于例如可直接用正负号信号来驱动开关单元，该开关单元然后接收被确定大小的准数字驱动信号。此外，这样做还不需要例如在延迟元件的情况下确定正负号。本专利技术的装置中的检测机构的特别有益的改进给出如下。一种读和或写其上记录有或可记录形成轨道的凹坑形式的信息项的光记录介质的装置，该装置具有在光记录介质上产生光点的光源；使光点垂直于轨道移动的跟踪单元；检测从光记录介质反射的光的检测器，该检测器具有四个检测区域，第一检测区域和第二检测区域通过基本上与轨道垂直的线与第三检测区域和第四检测区域分隔开来，第一检测区域和第四检测区域通过基本上与轨道平行的线与第二检测区域和第三检测区域分隔开来，第一检测区域通过第一可变延迟元件与第一求和点连接，该求和点的另一输入端与第三检测区域连接，第二检测区域通过第二可变延迟元件与第二求和点连接，该求和点的另一输入端与第四检测区域连接，这两个求和点的输出端与相位比较器连接，该相位比较器的输出信号传送给调整跟踪单元的跟踪调整器；设定延时的控制单元与第一延迟元件和与第二延迟元件连接以便设定它们延迟时间的；该装置的特征在于还具有干扰信号产生单元，其输出端与跟踪单元连接，还与比较单元的第一输入端连接，该比较单元的第二输入端与相位比较器的输出端连接，其输出端与控制单元的输出端连接。这种改进的优点是检测装置和用来设定延迟元件并由此补偿轨道误差信号的系统误差的控制单元彼此能够很好地协调操作。本专利技术的另一个目的是提供一种供能够对轨道误差信号中的误差-这种误差是由透镜移动造成的-进行最佳补偿的这种类型的装置使用的方法。根据专利技术的用来设定读和/或写光记录介质的装置-该装置具有一跟踪单元，延迟元件设置在四象限检测器的检测器单元和用来确定轨道误差信号的单元之间-中的延迟元件的延时的方法，要执行以下的方法步骤a)断开跟踪控制环，b)把干扰信号传送给跟踪单元，c)比较轨道误差信号和干扰信号，d)共同地改变被分配给两个相邻检测器单元的延迟元件的延时，e)如果轨道误差信号中的干扰信号分量大于具体的极限值，就再执行步骤d)，f)中断干扰信号，g)维持所确定的延时。这样做的优点是能够最佳地补偿在轨道误差信号中可能有的误差。由于所施加的干扰信号的缘故，这种误差的效果得到了加强，由此可更容本文档来自技高网...

【技术保护点】
读和／或写光记录介质（４）的装置，该装置具有跟踪单元（１３）、四象限检测器（５）、两个求和点（１５、１６）、根据差分相位检波方法进行跟踪的相位比较器（２０）和可由控制单元（２４）进行设定的两个可变延迟元件（２６），其特征在于，还具有干扰信号产生单元（２２），其输出端与跟踪单元（１３）连接，还与控制单元（２４）的第一输入端连接，控制单元（２４）第二输入端与相位比较器（２０）的输出端连接。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】DE 1997-6-5 19723542.51.读和/或写光记录介质(4)的装置，该装置具有跟踪单元(13)、四象限检测器(5)、两个求和点(15、16)、根据差分相位检波方法进行跟踪的相位比较器(20)和可由控制单元(24)进行设定的两个可变延迟元件(26)，其特征在于，还具有干扰信号产生单元(22)，其输出端与跟踪单元(13)连接，还与控制单元(24)的第一输入端连接，控制单元(24)第二输入端与相位比较器(20)的输出端连接。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于相应可变延迟元件(26A，26B)被分配给四象限检测器(5)的两个检测器单元(A，B)，固定延时的延迟元件(26F)被分配给另外两个延迟元件(26C，26D)。3.如权利要求1所述的装置，其特征在于可变延迟元件(26A，26B，26C，26D)被分配给四象限检测器(5)的每一个检测器单元(A，B，C，D)，还在于设置了开关单元(37)把检测器单元对(A-B，C-D，A-C，B-D)连接至一控制输出端，控制单元(24)的输出信号(VAS，VSB)在该控制输出端处输出。4.如权利要求1所述的装置，其特征在于还具有开关单元(37′)，利用其可把四象限检测器(5)的检测器单元(A，B，C，D)中的两个连接至相应的可变延迟元件(26X，26Y)。5.如以上权利要求之一所述的装置，其特征在于控制单元(24)具有比较单元(45)，其输入端被输入相位比较器(20)的输出信号(DPD-TE，TELP)和干扰信号产生单元(22)的输出信号(S，WSY)，其输出信号(VAS)起设定可变延迟元件(26A，26B，26C，26D，26X，26Y)的作用。6.根据权利要求1前序部分、尤其是根据以上权利要求之一的装置，其特征在于控制单元(24)具有偏移确定单元(44)，其输入端被输入相位比较器(20)的输出信号(DPD-TE，TELP)，其输出信号(VBS)起设定可变延迟元件(26A，26B，26C，26D，26S，26T，26U)中的至少一个的作用。7.如权利要求6所述的装置，其特征在于至少一个延迟元件(26S，26T，26U)被设置在四象限检测器(5)的检测器单元(A，B，C，D)的输出信号的求和点(15，16)和相位比较器(20)之间。8.如权利要求7所述的装置，其特征在于相应延迟元件(26S，26T)被分配给求和点(15，16)，还在于设置了开关元件(25)把延迟元件(26S，26T)之一连接至偏移确定单元(44)的输出端(VBS)。9.如权利要求7所述的装置，其特征在于设置了开关单元(25′)把延迟元件(26U)插入在求和点(15，16)之一和相位比较器(20)之间。10.如以上权利要求之一所述的装置，其特征在于具有输出信号(VAS，VBS)的控制输出端连接有电路方框(36，42)，这种电路方框确定在该控制输出端输出的信号(VAS，VBS)的绝对值(ABS(A)，ABS(B))和/或符号(SIGN(A，SIGN(B))。11.一种读和或写其上记录有或可记录形成轨道的凹坑形式的信息项的光记录介质(4)的装置，该装置具有在光记录介质(4)上产生光点的光源(1)；使光点垂直于轨道移动的跟踪单元(13)；检测从光记录介质(4)反射的光的检测器(5)，该检测器具有四个检测区域(A，B，C，D)，第一检测区域(A)和第二检测区域(B)通过基本上与轨道垂直的线与第三检测区域(C)和第四检测区域(D)分隔开来，第一检测区域(A)和第四检测区域(D)通过基本上与轨道平行的线与第二检测区域(B)和第三检测区域(C)分隔开来，第一检测区域(A)通过第一可变延迟元件(26A)与第一求和点(15)连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯琴比克勒，
申请(专利权)人：德国汤姆逊布朗特公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]