光记录介质的缺陷管理区划分方法和缺陷管理方法技术

本发明专利技术涉及光记录介质和光记录介质记录／回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明专利技术把线性替代控制（ＬＲＣ）位增加到次要缺陷列表（ＳＤＬ）项中以区分根据线性替代算法列在ＳＤＬ项的缺陷块信息和根据跳过算法列在ＳＤＬ项的缺陷块信息，从而允许光记录介质记录／回放装置把正确的信息传送到主机。而且，当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时，不执行线性替代，ＬＲＣ位与缺陷块的位置信息一起被设置在ＳＤＬ项中以表示在备用区充满时得到相应的ＳＤＬ项，从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此，本发明专利技术有效提高了对盘片的管理效率。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种允许再写入的光记录介质，尤其涉及一种在缺陷区可被管理的光记录介质中记录数据的方法和装置。光记录介质通常被分为只读存储器(ROM)、数据可被写入一次的一次性写入多次读出存储器(WORM)和数据可被写入几次的可重写存储器。可重写光存储介质即光盘包括可重写致密盘(CD-RW)和可重写的数字多媒体盘(DVD-RW，DVD-RAM和DVD+RW)。在可重写光盘中写入和回放数据的操作可被反复进行。这种反复过程改变用于把数据记录在光盘的存储层的比率而偏离初始比率。从而光盘失去它的特征并在记录/回放期间产生错误。这种恶化在格式化、在光存储介质上写入和从光存储介质回放时以缺陷区表示出来。而且，可重写光盘的缺陷区也可由于其表面上的刮伤、灰尘粒子和制造中的缺陷而引起。因此，为了防止缺陷区的写入和读出，有必要对这种缺陷区进行管理。附图说明图1表示光盘的引入区和引出区中的用于管理缺陷区的缺陷管理区(DMA)。尤其，数据区被分为用于缺陷管理区的若干区段，其中各个区段进一步被分为用户区和备用区。用户区是数据实际写入的区并且备用区在用户区出现缺陷的情况下使用。一个盘，例如DVD-RAM中有4个DMA，两个在引入区，两个在引出区。由于管理缺陷区是重要的，同一内容被重复地记录在所有的四个DMA中以进行数据保护。各个DMA包括两个块共32个扇区，每个块由16个扇区构成。DMA的第一块，称为DDS/PDL块，包括盘定义结构(DDS)和主要缺陷列表(PDL)。第二块称为SDL块，包括次要缺陷列表(SDL)。PDL相应于主要缺陷数据存储区，SDL相应于次要缺陷数据存储区。PDL通常存储在制造盘期间引起的或格式化盘，即初始化或再初始化盘时鉴别出的缺陷扇区的项。各个项包括相应于缺陷扇区的项类型和扇区序号。SDL以块单元列出缺陷区，从而存储格式化后产生的缺陷块或在格式化期间不能被存储在PDL的缺陷块的项。如图2所示，各个SDL项具有一个存储具有缺陷扇区的块的第一扇区的扇区序号的区、一个存储替代缺陷块的块的第一扇区的扇区序号的区及保留区。而且，各个SDL项被分配1位的值用于强制再分配标记(FRM)。FRM位值0代表分配一个替代块并且分配的块没有缺陷。FRM位值1代表没有分配替代块或分配的替代块有缺陷。从而，为在列出为SDL项的缺陷块中记录数据，必须找到新的替代块来记录数据。因此，数据区内的缺陷区即缺陷扇区或缺陷块通过滑移替代(slippingreplacement)算法和线性替代(linear replacement)算法用正常或没有缺陷的扇区或块来替代。在缺陷区或扇区被记录在PDL时使用滑移替代。如图3A所示，如果相应于用户区中的扇区的缺陷扇区m和n被记录在PDL中，这种缺陷扇区被跳过到下一个可利用的扇区。通过用随后的扇区来替代缺陷扇区，数据被写入正常扇区。结果，数据被写入的用户区滑移并占据与跳过的缺陷扇区同等数量的备用区。在缺陷块被记录在SDL中时或在回放期间发现缺陷块时使用线性替代。如图3B所示，如果相应于用户区或备用区中的块的缺陷块m和n被记录在SDL上，这种缺陷块被备用区中的正常块来替代，并且要被记录在缺陷块的数据被记录在分配的备用区。为达到这种替代，指定给缺陷块的物理扇区序号(PSN)保留下来，而逻辑扇区序号(LSN)与要被记录的数据一起被移动到替代块。线性替代对数据的非实时处理是有效的。为了简便，不需要实时处理的数据此后称为个人计算机(PC)数据。如果发现列出在SDL中的替代块是有缺陷的，直接指针方法被应用于SDL列表。根据直接指针方法，有缺陷的替代块用新的替代块代替，并且有缺陷的替代块的SDL项被修改到新的替代块的第一扇区的扇区序号。图4A表示管理在把数据写入用户区或从用户区读出数据时找到的缺陷块的过程。图4B-4D表示根据线性替代算法产生的SDL项的实施例。各个SDL项依次具有FRM、缺陷块的第一扇区的扇区序号和替代块的第一扇区的扇区序号。例如，如果SDL项是(1，blkA，0)，如图4B所示，缺陷块已经在再现期间被找到并被列出在SDL中。这个项代表在块blkA中出现缺陷，并且没有替代块。SDL项被用于防止在下一个记录中数据被写入缺陷块。从而，在下一个记录期间，缺陷块blkA根据线性替代被分配一个替代块。如图4C所示的SDL项(0，blkA，blkE)代表分配的替代块blkE没有缺陷，并且要被写入用户区中的缺陷块blkA的数据被写入到备用区的替代块blkE。如图4D所示的SDL项(1，blkA，blkE)代表在替代用户区的缺陷块blkA的备用区的替代块blkE中出现缺陷。在这种情况下，根据直接指针方法分配新的替代块。图5是光盘记录/回放(R/P)装置涉及记录操作的部分视图。光盘R/P装置包括把数据写入到光盘并从光盘读出的光拾取器；控制光拾取器以在光拾取器的物镜和光盘之间保持一定距离并保持恒定的轨道的伺服单元；处理并把输入数据传送到光拾取器或者接收并处理经光拾取器再现的数据的数据处理器；从外部主机接收并向外部主机传送数据的接口；以及控制各组件的微处理器。光盘R/P装置的接口与诸如PC机这样的主机耦合，并将各种命令和数据在主机之间传送。如果有要被记录在光盘R/P装置的数据，主机发送记录命令到光盘R/P装置。记录命令包括指定记录位置的逻辑块地址(LBA)和代表数据大小的传送长度。随后主机把要被记录的数据发送到光盘R/P装置。一旦接收到要被写入光盘上的数据，光盘R/P装置从指定LBA开始写入数据。此时，光盘R/P装置参考代表光盘缺陷的PDL和SDL不把数据写入具有缺陷的区。再参考图4A，光盘R/P装置跳过PDL上列出的物理扇区并用在记录期间备用区中的分配的替代块来代替列在SDL中的区A和B之间的物理块。如果在记录或回放期间发现没有列在SDL上的缺陷块或易于发生错误的块，光盘R/P装置把这种块视为缺陷块。结果，光盘R/P装置在备用区搜索替代块以再次写入相应于缺陷块的数据，并把缺陷块的第一扇区序号和替代块的第一扇区序号列在SDL项。为执行线性替代，即为在发现缺陷块(列在SDL或未列在SDL中的)时把数据写入备用区中分配的替代块，光盘R/P装置必须把光拾取器从用户区移动到备用区并且然后返回到用户区。由于移动光拾取器需花费时间，线性替代干扰了实时记录。因此已经广泛讨论了用于实时记录如音频视频装置的缺陷区管理方法。一种方法是利用跳过算法，其中缺陷块被跳过并且数据被写入下一个正常块，类似于滑移替代算法。如果使用这种算法，光拾取器不需要在每次发现缺陷块时都移动到备用区，从而移动光拾取器所需时间被减少，排除对实时记录的干扰。例如，如果如图4A所示的不需要实时处理的PC数据在使用SDL时被接收到，一发现缺陷块blkA和blkB就执行线性替代算法。如果接收到的数据需要实时处理，如图4A的B和C之间的区中所示，一发现缺陷块blkC，就使用滑移算法。即，不执行线性替代。对于线性替代，缺陷块的PSN被保持原来的样子，并且缺陷块的LSN被移动到替代块。对于滑移算法，缺陷块blkC的LSN和PSN都保持原来的样子。因此，当主机读出根据滑移算法记录的数据时，微处理器经接口传送包括缺陷块的数据的所有数据。但是，主机不能识别跳过的缺陷块的数本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带有管理光记录介质的缺陷的缺陷管理区（ＤＭＡ）的光记录介质，包括ＤＭＡ中的记录识别信息的一个区，其特征在于所述识别信息代表替代块是否已经根据线性替代被分配。

【技术特征摘要】
KR 1998-7-28 30320/98;KR 1998-8-1 31406/98;KR 19981.一种带有管理光记录介质的缺陷的缺陷管理区(DMA)的光记录介质，包括DMA中的记录识别信息的一个区，其特征在于所述识别信息代表替代块是否已经根据线性替代被分配。2.根据权利要求1的光记录介质，其特征在于所述记录识别信息的区被分配到所述DMA中次要缺陷列表(SDL)的保留区。3.根据权利要求1的光记录介质，其特征在于所述识别信息表示在根据跳过算法写入数据时或光记录介质的备用区充满时SDL中的缺陷块信息是否被引入。4.一种管理数据记录期间发现的缺陷块的光记录介质的缺陷管理方法，所述方法包括(A)在光记录介质记录数据期间如果发现缺陷块就判定是否应分配替代块；(B)存储关于缺陷块的信息，该信息表示基于步骤(A)的结果是否以根据线性替代为缺陷块分配替代块。5.根据权利要求4的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，替代块在数据实时记录期间不被分配。6.根据权利要求5的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，跳过缺陷块和设置LRC信息来表示替代块没有根据线性替代来被分配。7.根据权利要求5的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，把强制再分配标记信息复位为0。8.根据权利要求4的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，如果没有可利用的替代区，不分配替代块。9.根据权利要求4的缺陷管理方法，其特征在于步骤(B)中，关于缺陷块的信息与缺陷块信息一起被存储在缺陷管理区的次要缺陷列表(SDL)中。10.根据权利要求9的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块没有列在SDL中，并且如果没有可利用的替代区，所述方法还包括设置和存储LRC信息以表示替代块没有被分配；存储缺陷块的位置信息；及设置和存储替代块的位置信息为0。11.根据权利要求9的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块没有列在SDL中，并且如果有可利用的替代区，所述方法还包括把替代快分配给缺陷块；写入数据到分配给缺陷块的替代块；及设置和存储LRC信息以表示已经分配了替代块；存储缺陷块的位置信息；及设置和存储分配给缺陷块的替代块的位置信息。12.根据权利要求9的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块列在SDL中，并且如果已经有分配给缺陷块的替代块，使用所述已经分配给缺陷块的替代块执行线性替代。13.如权利要求9所述的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块列在SDL中，并且没有被分配给缺陷块的替代块，所述方法还包括如果有可利用的替代区，分配...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明九，朴容澈，郑圭和，申种仁，
申请(专利权)人：LG电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]