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本发明涉及光记录介质和光记录介质记录／回放装置与方法，用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说，本发明把线性替代控制（ＬＲＣ）位增加到次要缺陷列表（ＳＤＬ）项中以区分根据线性替代算法列在ＳＤＬ项的缺陷块信息和根据跳过算法列在ＳＤＬ项的缺...
该专利属于LG电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过LG电子株式会社授权不得商用。

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