【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检验读写磁头、磁盘等用的检验装置的定位装置，更具体地是涉及一种旋转式定位装置。然而，有一个问题在于，由于这种类型的结构用插头旋转定位台以外的一个致动器来实现所有的定位，它对于所有行程均控制在一个恒定的定位分辨率，因而即使在分辨率设定在较高水平、行程较长的场合，移动速度也较慢。也就是说，即使在不要求那么精确的定位的场合(粗动)，也与短行程、进行精确定位的场合一样存在移动速度慢的问题。另一方面，试图采用具有双重结构的台的型式，通过提供一种微动和粗动的双重结构、对相应移动用不同的致动器，从而达成与目的相适应的功能，以改善移动速度慢的缺点，这种台分成粗动台和细动台。然而，双重结构的台(粗动台和微动台)的型式在结构上变得较为复杂，并且整个台的机械刚性降低，因而造成稳定时间变长以及不能进行高速和高精度定位的问题。为了解决上述问题，经过深思熟虑的考虑之后，本专利技术的专利技术人注意到，在测试硬盘头时仅需要非常短的行程(5微米或更小)，因而当移动量极小时，直线移动与旋转运动之间的几何误差(相对于5微米的移动量，误差为0.5微米或更小)小到可以忽略的程度，并...
【技术保护点】
一种旋转定位台，它包括：一旋转台，它可旋转地支承于一旋转轴上，并具有一相对于旋转轴而形成一弧形的弧状部分，该旋转台允许安装一机件；第一定位装置，它具有一与弧状部分相接触的滑轮，用于通过滑轮转动旋转台而使机件定位；以及第二定位装置 ，它通过使第一定位装置沿弧状部分与滑轮之间的接触点处的切线方向以直线状方式微移而使机件定位。
【技术特征摘要】
JP 2000-10-20 320259/001.一种旋转定位台，它包括一旋转台，它可旋转地支承于一旋转轴上，并具有一相对于旋转轴而形成一弧形的弧状部分，该旋转台允许安装一机件；第一定位装置，它具有一与弧状部分相接触的滑轮，用于通过滑轮转动旋转台而使机件定位；以及第二定位装置，它通过使第一定位装置沿弧状部分与滑轮之间的接触点处的切线方向以直线状方式微移而使机件定位。2.如权利要求1所述的旋转定位台，其特征在于，其弧形形成为从旋转轴到弧状部分的长度在25毫米到100毫米的范围内，中心角为40度或更大，滑轮的半径在5毫米到20毫米的范围内，而第二定位装置使第一定位装置以直线状方式在5微米或更小的范围内移动。3.如权利要求1所述的旋转定位台，其特征在于，旋转台形成为使从旋转轴到弧状部分的长度与滑轮半径之比在1∶1到10∶1的范围内。4.如权利要求2所述的旋转定位台，其特征在于，旋转台形成为使从旋转轴到弧状部分的长度与滑轮半径之比在1∶1到10∶1的范围内。5.如权利要求1到4的任一项所述的旋转定位台，其特征在于，第一定位装置具有一传动带，它以类似交错方式卷绕于弧状部分和滑轮上，使传动带的后表面沿滑轮的外圆周面延伸，传动带的正面沿弧状部分的外圆周面延伸，传动带通过滑轮转动而使旋转台转动。6.一种制造机件的方法，它包括将机件安装于一旋转台上的步骤，该旋转台可旋转地支承于一旋转轴上，并具有一相对于旋转轴而形成一弧形的弧状部分；通过与弧状部分相接触的滑轮转动旋转台而使机件定位的第一定位步骤；使滑轮沿接触点处的一切线方向微移而使机件定位的第二定位步骤；在由第一定位步骤和第二定位步骤所限定的位置测定机件特性的特性测定步骤；以及按照特性测定步骤的测定结果处理机件的处理步骤。7.如权利要求6所述的制造机件的方法，其特征在于，该机件是电磁转换元件。8.如权利要求6所述的制造机件的方法，其特征在于，该机件是硬盘驱动器的磁头，该定位是相对于磁记录-再现硬盘的定位。9.如权利要求6所述的制造机件的方法，其特征在于，该机件是硬盘驱动器的磁头，该定位是相对于磁记录-再现硬盘的定位，该测定是对电磁转换特性的测定，该处理步骤是按照测定结果对磁头的性能分类。10.一种制造硬盘的方法，它包括将磁头安装于一旋转台上的步骤，该旋转台可旋转地支承于一旋转轴上，并具有一相对于旋转轴而形成一弧形的弧状部分；通过与弧状部分相接触的滑轮转动旋转台而使磁头定位于硬盘的第一定位步骤；使滑轮沿接触点处的一切线方向微移而使磁头定...
【专利技术属性】
技术研发人员：伊藤泰辅，
申请(专利权)人：斯达系统日本有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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