光盘装置制造方法及图纸

一种光盘装置，使用在磁道的侧端部上形成有预凹槽的光盘，进行数据记录和数据再现。包括：在光盘的磁道上照射光束的光照射元件；是检测来自照射了光束的磁道的反射光的光检测器，即检测来自磁道的一方的侧端部的第一反射光和来自磁道的另一方的侧端部的第二反射光的光检测器；生成与第一反射光对应的第一检测信号和与第二反射光对应的第二检测信号的差动信号的减法器；是放大来自减法器的输出的放大器，即能使放大率变化的的放大器。能恰当地检测光盘中设置的预凹槽。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种向形成有表示地址信息等的预凹槽的光盘中记录数据的和/或从光盘再现数据的光盘装置。在相邻的沟间表面部上形成的预凹槽，与凹槽的摆动检测相同，作为来自凹槽的外侧(盘半径方向外周一侧的相邻的沟间表面部)的反射光和来自内侧(盘半径方向内周一侧的相邻的沟间表面部)的反射光的差动信号被检测。图2表示了在上述的检测后，变换为电信号的差动信号。差动信号中包含表示摆动信息的摆动信号成分和与预凹槽对应的预凹槽信号成分。例如在特开2000-195958号公报等中记载了检测预凹槽信号成分的方法。但是，由于盘制造过程中的切割条件等，在光盘上形成的预凹槽的形状有时会偏离所希望的形状。另外，由于在检测预凹槽时的光拾波器的再现射束点形状(特别是半径方向的射束点形状)或盘的挠曲(倾斜)等，使检测信号的振幅中发生偏移。当在记录磁道中记录有数据时，有时也会检测到与本来应在差动信号中被除去的记录数据对应的信号成分。因此，就有可能产生通过使用的盘与装置的组合，无法检测正确的预凹槽信号的情况。因此，对于各个装置和光盘，有必要分别调整光盘装置中的预凹槽信号检测系统。特别是伴随着所记录的数据的高密度化，恰当地检测预凹槽信号变得很困难，所以在对应于更大记录容量的光盘的光盘装置中，通过更正确地检测预凹槽信号来生成同步信号是重要的。本专利技术的光盘装置是在记录有数据的磁道的至少一方的侧端部上形成有预凹槽的光盘上记录数据和/或从所述光盘再现数据的光盘装置。包括在所述光盘的所述磁道上照射光束的光照射元件；是检测来自照射了所述光束的所述磁道的反射光的光检测器，即检测来自所述磁道的一方的侧端部的第一反射光和来自另一方的侧端部的第二反射光的光检测器；生成与所述第一反射光对应的第一检测信号和与所述第二反射光对应的第二检测信号的差动信号的减法器；是放大来自所述减法器的输出的放大器，即能使放大率变化的的放大器。从所述差动信号检测所述预凹槽。在某优选实施例中，还包括判断所述差动信号中表示预凹槽的信号成分与所述光盘中设置的所述预凹槽是否对应的预凹槽检测判断器，根据所述预凹槽检测判断器的输出，设置了所述放大器的放大率。在某优选实施例中，还包括把由所述放大器放大的差动信号二值化的二值化电路，所述预凹槽检测判断器判断从所述二值化电路输出的二值化信号与所述光盘中设置的所述预凹槽是否对应。在某优选实施例中，在固定了所述二值化电路的限幅电平的状态下，根据使所述放大器的放大率变化时的所述预凹槽检测判断器的输出，设置了所述放大器的放大率。在某优选实施例中，根据由在所述光盘上未记录数据的磁道部分检测的所述第一和第二反射光生成的差动信号，设置所述放大器的放大率。在某优选实施例中，使用所述光照射元件，在所述光盘上记录表示设置的所述放大率的信息。在某优选实施例中，还包括存储表示设置的所述放大率的信息的存储装置。在某优选实施例中，还包括调整与所述第一反射光对应的第一检测信号和与所述第二反射光对应的第二检测信号的大小的比的平衡调整器，所述减法器生成调节了所述大小的比的所述第一检测信号和所述第二检测信号的差动信号。在某优选实施例中，还包括判断所述差动信号中表示预凹槽的信号成分是否对应于所述光盘中设置的所述预凹槽的预凹槽检测判断器。在某优选实施例中，还包括根据所述预凹槽检测判断器的判断结果，测定预凹槽检测率的预凹槽检测率测定器，所述平衡调整器根据所述预凹槽检测率设置所述大小的比。在某优选实施例中，还包括把所述差动信号二值化的二值化电路，所述预凹槽检测判断器判断从所述二值化电路输出的二值化信号是否与所述光盘中设置的所述预凹槽对应。在某优选实施例中，还包括能使所述二值化电路中的限幅电平变化的限幅电平设置电路，所述限幅电平设置电路根据所述预凹槽检测率，设置所述限幅电平。在某优选实施例中，当使预先设置的所述大小的比的初始值为初始平衡值BO，并且使预先设置的所述限幅电平的初始值为初始限幅值SO时，通过比较在所述初始平衡值BO的所述预凹槽检测值D(BO)和在与所述初始平衡值BO只有给定的平衡量ΔB的不同的平衡值B1的所述预凹槽检测率D(B1)，估计应该设置的所述大小的比，并且，通过比较在所述初始限幅值SO的所述预凹槽检测率D(SO)和与所述初始限幅电平值SO只有给定的限幅量ΔS不同的限幅值S1的所述预凹槽检测率D(S1)，估计所述应该设置的限幅电平。999在某优选实施例中，根据在所述光盘上的记录有数据的磁磁道部分由检测的所述第一和第二反射光生成的差动信号，设置了所述大小的比和所述限幅电平。在某优选实施例中，当正在所述光盘的所述磁磁道中记录数据时，设置了所述大小的比和所述限幅电平。在某优选实施例中，使用所述光照射元件，在所述光盘中记录表示设置的所述大小的比和限幅电平的信息。在某优选实施例中，还包括存储所设定的所述大小的比和限幅电平的存储装置。在某优选实施例中，所述光盘的所述磁磁道摆动，还包括生成与所述摆动对应的二值化信号的摆动二值化电路；所述预凹槽检测判断器，使用根据所述摆动二值化电路的输出而生成的预凹槽预测信号，来判断所述差动信号的表示预凹槽的信号成分是否与所述预凹槽对应。附图说明图1是放大表示光盘的一部分的立体图。图2是表示从光盘检测的差动信号(预凹槽信号和摆动信号)的图。图3是表示本专利技术的实施例中光盘装置的整体系统结构的图。图4是用于说明本专利技术的实施例中光盘装置的反射光检测的图，(a)表示光盘上形成的光点，(b)和(c)表示光检测元件的结构。图5是表示本专利技术的实施例中光盘装置的预凹槽信号检测块的图。图6是用于说明按照差动信号而生成不同的预凹槽二值化信号的图，(a)～(c)分别表示差动信号的振幅不相同的情形，(d)表示数据信号泄漏混入差动信号中的情形。图7是用于说明本专利技术的实施例中光盘装置的增益设置方法的图，(a)是有关增益设置方法的程序框图，(b)表示各步骤中差动信号和预凹槽二值化信号。图8(a)表示本专利技术的实施例中光盘装置的预凹槽定时判断电路的结构，(b)表示预凹槽定时判断电路中使用的信号。图9是用于说明本专利技术的实施例中光盘装置的增益设置方法的图，(a)表示了再现数据未记录区域的情形，(b)表示再现数据记录区域的情形。图10是表示本专利技术的实施例中光盘装置的预凹槽检测量测定电路的结构的图。图11(a)是表示本专利技术的实施例中光盘装置的平衡增益和预凹槽检测量的关系的曲线图，(b)～(d)分别表示设置在不同的平衡增益下的情形。图12(a)是表示本专利技术的实施例中光盘装置的限幅电平和预凹槽检测量的关系的曲线图，(b)～(d)分别表示设置为不同的限幅电平的情形。图13是表示本专利技术的实施例中光盘装置的对平衡增益和限幅电平的预凹槽检测率的图。图14是表示本专利技术的实施例中光盘装置的记录时的激光发光波形和形成的标记的图。图15(a)是表示本专利技术的实施例中光盘装置的记录动作时的平衡增益和预凹槽检测量的关系的曲线图，(b)～(d)分别表示设置为不同的平衡增益的情形。图16是用于说明本专利技术的实施例中光盘装置的平衡增益和限幅电平的设置方法的图。图17是用于说明本专利技术的实施例中光盘装置的平衡增益和限幅电平的设置方法的图。下面简要说明附图符号。1-半导体激光控制块；2-光拾波器；3-半导体激光驱动块；4-光盘；5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，其特征在于：在记录数据的磁道的至少一方的侧端部上形成了预凹槽的光盘上记录数据、和／或从所述光盘上再现数据；包括：在所述光盘的所述磁道上照射光束的光照射元件；检测来自照射了所述光束的所述磁道的反射光，检测来自所述 磁道的一方的侧端部的第一反射光和来自所述磁道的另一方的侧端部的第二反射光的光检测器；生成与所述第一反射光对应的第一检测信号和与所述第二反射光对应的第二检测信号的差动信号的减法器；放大由所述减法器输出的所述差动信号，并能使放大率变化的 放大器；从利用所述放大器放大的差动信号来检测所述预凹槽。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2001-5-11 2001-1412151.一种光盘装置，其特征在于在记录数据的磁道的至少一方的侧端部上形成了预凹槽的光盘上记录数据、和/或从所述光盘上再现数据；包括在所述光盘的所述磁道上照射光束的光照射元件；检测来自照射了所述光束的所述磁道的反射光，检测来自所述磁道的一方的侧端部的第一反射光和来自所述磁道的另一方的侧端部的第二反射光的光检测器；生成与所述第一反射光对应的第一检测信号和与所述第二反射光对应的第二检测信号的差动信号的减法器；放大由所述减法器输出的所述差动信号，并能使放大率变化的放大器；从利用所述放大器放大的差动信号来检测所述预凹槽。2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还包括判断所述放大的差动信号的表示预凹槽的信号成分是否与设置在所述光盘上的所述预凹槽对应的预凹槽检测判断器，根据所述预凹槽检测判断器的输出来设置所述放大器的放大率。3.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于还包括把所述放大的差动信号二值化的二值化电路；所述预凹槽检测判断器判断从所述二值化电路输出的二值化信号是否与设置在所述光盘上的所述预凹槽对应。4.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于在固定了所述二值化电路的限幅电平的状态下，根据使所述放大器的放大率变化时的所述预凹槽检测判断器的输出的变化，来设置所述放大器的放大率。5.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于根据由在所述光盘上未记录数据的磁道部分检测的所述第一和第二反射光所生成的差动信号，来设置所述放大器的放大率。6.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于使用所述光照射元件，将表示所设置的所述放大率的信息记录在所述光盘上。7.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于还包括存储表示所设置的所述放大率的信息的存储装置。8.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还包括调整所述第一检测信号和所述第二检测信号的大小的比的平衡调整器；所述减法器生成调节了所述大小的比的所述第一检测信号和所述第二检测信号的差动信号。9.根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于还包括判断所述差动信号中表示预凹槽的信号成分是否对应于设置在所述光盘上的所述预凹槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：上冈优一，井口睦，坂林贵之，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]